如何对中频误差进行评估和公差分析

标准表面没有不规则度，它也将作为我们的参考标准。Zernike Standard 矢高面稍微有些变形。中频曲面大体上与 Zernike Standard 矢高面相同，但由于曲面上形成的波纹形状，产生了相对于 Zernike 光斑轮廓不同的周围散射光线。我们可以预期这样的镜头制造时会有部分镜头会因光线改变了预定路径而不符合设计的表面规定。

应用示例 2: 天塞物镜公差分析

此示例用于观察天塞物镜中频表面的公差，我们将使用文章附件中“spacealfrequency_tol.zar”文件。

我们使用的是Paul Rudolph (USP721240)[4] 的经典天塞镜头设计，系统的第一个表面上为中空间频率表面（橙色突出显示）。

以下图所示的参数设置公差向导用于公差分析：

在OpticStudio中，TEZI公差操作数允许对具有轴上孔径的标准面、非球面或环形面表面的不规则性进行自动公差扰动，其他表面类型则不允许使用 TEZI。但我们可以仍使用 TPAR 来扰动曲面的参数，多边形物体和CAD文件（如STEP和IGES文件）则无法进行扰动。

设置参数为：

振幅= 5.00E-004mm

频率 w0 =1 cycle/mm

相位 φ0 = 0.00 degrees 

Zernike  X 偏心 = 0.2

Zernike  Y 偏心 = -0.1

Zernike 1 = 1.00E-003

Zernike 2 = -4.00E-003

Zernike 3 = -2.00E-003

Zernike 4 = 1.00E-003

Zernike 5 = 5.00E-004

Zernike 6 = 1.00E-004

Zernike 7 = 2.00E-003

Zernike 8 = 1.00E-003

Zernike 9 = -5.00E-003

Zernike 10 = 1.00E-003