切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
  • 光场成像原理

    作者:Hui_JiaMing 来源:CSDN 时间:2018-11-05 17:44 阅读:7113 [投稿]
    传统成像方式只能记录光线所经过的位置信息,而丢失了与场景深度、目标几何形态、场景遮挡关系等光线角度信息,即三维信息。

    三、位置和角度分辨率

    上面介绍的光场采样方式我们将其称为“全光1.0”,它有一个严重的问题:受CCD感光元件分辨率的限制,所采集光场的角度分辨率和位置分辨率相互制约,满足:位置分辨率×角度分辨率=CCD像素个数。借助图5(竖直方向)更好理解这种制约关系:图中若CCD上的可接受的像素个数为12,位置分辨率由微透镜的个数确定,为4,那么角度分辨率则不能超过3。所以一个光场相机一旦参数确定,他所对应的位置和角度分辨率也就确定了。但在实用过程中,有些人需要牺牲角度分辨率来增加位置分辨率或反着来就不那么方便了。为了解决这个问题,提出了“全光2.0”。这里不详细介绍全光2.0,感兴趣的可以参考【1】及里面提到的相关文献:


    图5

    【1】Zhu H, Wang Q, Jingyi Y U. Light field imaging:models, calibrations, reconstructions, and applications

    分享到:
    扫一扫,关注光行天下的微信订阅号!
    【温馨提示】本频道长期接受投稿,内容可以是:
    1.行业新闻、市场分析。 2.新品新技术(最新研发出来的产品技术介绍,包括产品性能参数、作用、应用领域及图片); 3.解决方案/专业论文(针对问题及需求,提出一个解决问题的执行方案); 4.技术文章、白皮书,光学软件运用技术(光电行业内技术文档);
    如果想要将你的内容出现在这里,欢迎联系我们,投稿邮箱:service@opticsky.cn
    文章点评

    刘明欢聪慧:全光1.0,位置分辨*角度分辨<CCD像素数(2018-11-06)