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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 }U3+xl6g  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: |f), dC  
    * 介紹雜散光 D\|$ ! i}  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 nMXk1`|/)x  
    * 設計鎖定工具 pgbm2mT9  
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 mM&Sq;JJ;  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 m;-FP 2~  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 0/K?'&$yvb  
    zQ3m@x  
    文章發布時間:April 23, 2017 e$]`  
    文章作者:Michael Cheng G165grGFd  
    -^sW{s0Rc  
    簡介 X[/>{rK  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: rk$&sDc/3  
    3FRz&FS:j  
    ]<b$k  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: Xi$( U8J_  
    (:9yeP1  
    V]I@&*O~ r  
    s~e<Pr?yu  
    開啟範例檔 |^fubQs;2  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx S(NH# ^  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 +8qtFog$\g  
    BS3Aczwk  
    58xaVOhb  
    ;fomc<  
    設計鎖定工具 +B(x:hzY9  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 t Gt/=~n9  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: EmrUzaGD  
    * 開啟 Ray Aiming tUX4#{)q(j  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size l{b<rUh5W  
    * 改為 Angle 或 Object Height _vOV(#q2a  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture CTawXHM  
    * 移除漸暈係數 |;xm-AM4r  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 wEju`0#;  
    ( w4w  
    q5 eyle6  
    FY;\1bt<<  
    產生關鍵光線組 =5:L#` .  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: `=m[(CLb  
    V~#e%&73FH  
    kk|7{83O  
    aq~>$CHa  
    轉換到非序列 Zop3[-  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 A8,9^cQ]  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 758`lfz=_  
    5mzOr4*0  
    2P\k;T(  
    $DPMi9,7^  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 s P=$>@3  
    MZYh44  
    }YV,uJH[  
    8: #\g  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: `O~NT'Ed8  
    M:t!g %  
    8CXZ7 p  
    <//82j+px  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: 'iQ  
    1XfH,6\8i  
    \9;SOAv  
    :r4]8X-  
    檢查關鍵光線組的狀況 %>,B1nt  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束 )1CYs4lp  
    W&M=%  
    XKp$v']u  
    K4T#8K]aZF  
    分析雜散光所需的設定 oJ\)-qSf  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 TcB^Sctf  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 @|I:A  
    V[9#+l~#  
    }E o\=>l7  
    Ufx^@%v  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 \R"}=7  
    L >* F8|g  
    MHF31/g\  
    T >pz/7gb  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 a#i85su  
    0QzUcr)3+  
    ,/m@<NyK  
    !WTZ =|  
    初步追跡結果 .`I;qF  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 =J@M, mbHg  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 j@w+>h  
    P<. TiF?@  
    l ~bjNhk  
    Drn{ucIs  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 V)pn)no'V  
    N 3M:|D  
    2 X];zY  
    8S8^sP  
    並且設定視窗如下圖。 ?nVwT[  
    =O~ J  
    t=-t xnlr<  
    1/ZvcdYB  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 Z.Otci>J  
    <5 Ye')+  
    j|6@>T1  
    jwP}{mi*  
    使用Filter String th!$R  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 Z`FEB0$  
    "ITC P<+  
    y15 MWZ  
    K;n2mXYGM  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 ^Vbx9UN/  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 7m4gGkX#r  
    E1 | >O  
    1q?b?.  
    R04%;p:k#  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 g431+O0K1  
    }Q }&3m~g  
    bCV3h3<  
    ]q,5'[=~4h  
    J 8!D."'Q0  
    WFGcR9mN?  
    給透鏡加上鍍膜 t:NYsL  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 G,{=sFX  
    這裡我們在 b `W2^/D  
    物件6的Face 2以及 |"K<   
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 ;~A-32;Y4  
    oVD)Fb%[i9  
    `[OJ)tHE  
    U{ZE|b. ?b  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 v?s]up @@h  
    MD"a%H#p  
    $0kuR!U.N  
    "7> o"FQ  
    A#b`{C~l  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) AQUl:0!  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? {OH @z!+d  
    sp&s 5aw  
    BzVF!<!  
    : ~R Y  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 /Zzb7bHLK  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 UQ7E7yY#  
    "M-zBBY]  
    zeC@!,lH  
    o@6hlLr  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 1WTDF  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 uVSc1 MS1  
    0mb|JoE(  
    _`oP*g =  
    B}:/2?gQ  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 6~oo.6bA  
    Gp l  
    NcuZw?  
    +i\ +bR  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 (plsL   
    Y%OJ3B(n|  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 nDFF,ge;a#  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 @W_=Z0]  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 6'F4p1VG*I  
    `wMHjcUP  
    "X[sW%# F  
    V(?PKb-w)  
    5PcN$r"P  
    <n+]\a97*  
    進階路徑分析 ]* #k|>Fl  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 S-5|t]LV  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 9s.x%m,  
    Pse1NMK9 [  
    ?<*mIf:?  
    CnXl 7"  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 - &7\do<  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 LH@xr\^  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 51)Q&,Mo#  
    g?9IS,Gp  
    ,Ky-3p>  
    7CGxM  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 .5tE, (<?  
    YKWiZ  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 #GlQwk3  
    aFbIJm=!  
    Li?_P5+a  
    .{=|N8*py8  
    CyWMr/'  
    |_} LMkU)  
    l>kREfHq!{  
    6m\MYay  
    6-+q3#e  
    <mk'n6B  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
    离线yinge丶
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜