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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 jE wt1S V  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: #@xB ?u-0q  
    * 介紹雜散光 2Y<]X7Ch:  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 ZzjCS2U  
    * 設計鎖定工具 4 R(m$!E!  
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 gWoUE7.3`  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 ,tcUJ}l  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 0~K&P#iR  
    9zS   
    文章發布時間:April 23, 2017 1q@R04i  
    文章作者:Michael Cheng 3kk^hvB+f  
    ~**x_ v  
    簡介 l^OflZC~  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: pkae91  
    Lr 5{c5M  
    !_QT{H  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: HsUh5;  
    U4^c{KWS  
    ? dHl'  
    7Xu#|k  
    開啟範例檔 {=?(v`88  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx }]PHE(}7  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 _ilitwRN3  
    SOOJqC  
    q\x.e.@  
    tpC^68* F  
    設計鎖定工具 *U]&a^N  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 3l45(%g+  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: \wk;Bo  
    * 開啟 Ray Aiming o5 fV,BJZO  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size mO]>]   
    * 改為 Angle 或 Object Height * 4Ldh}S!  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture R y#C#0  
    * 移除漸暈係數 _@!vF,Wcf  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 N0-J=2  
    IQ~qiFCf  
    "C\yM{JZ  
    VOZxLyj^9  
    產生關鍵光線組 -l57!s~V  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: R-9o 3TPa  
    5cinI^x)f  
    A8{ xZsH  
    ;Tp9)UP)  
    轉換到非序列 MO0NNVVi%U  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 )J> dGIb  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 pR93T+X  
    @R50M (@W  
    D|*w6p("z  
    G^#>HE|  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 GRbbU#/=G  
    !ess.U&m'  
    3CjixXaA$  
    -5+Yz9pv[  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: >MN"87U6  
    wCg7JW#  
    XLCqB|8`V  
    4S ~kNp$  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: n}IGxum8`  
    EI6kBRMo  
    Cj-&L<  
    =<3HOOC  
    檢查關鍵光線組的狀況 qe{;EH*  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束 5l1R")0`t_  
    ]"uG04"Vk  
    ,^8':X"A{!  
    _7Y-gy#\a  
    分析雜散光所需的設定 hE5?G;  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 ]zaTX?F:  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 Ovk=s,a)K  
    QrK%DN  
    OxGfLeP.R!  
    H Eq{TUTr  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 pXO09L/nv  
    h`\ $8 oV  
    [znN 'Fg:"  
    'LPyh ;!f  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 ZH;4e<gg  
    ygIn6.p  
    mu{C>w_Rz  
    mz6]=]1w  
    初步追跡結果 7WS$fUBi  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 5tpC$4m  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 iSezrN  
    E-.X%xfO  
    ~nU9j"$  
    b.RU%Y#>\  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 (FApkvy  
    f;BY%$  
    j AOy3c  
    ~k"b"+2  
    並且設定視窗如下圖。 XH~(=^/_  
    Eqz|eS*6  
    \z.bORy  
    AaA!U!B  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 A/I\MN|  
    z6@8IszU  
    v:4j 3J$z  
    4!!PrXE  
    使用Filter String iZy>V$Aq  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 L5I!YP#v  
    ,H+Y1N4W(  
    ao9#E"BfM  
    we`BqZV  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 LJ~#0Zu?  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 -fFtHw:kHh  
    bpZA% {GS  
    @a@}xgn{  
    PY7H0\S)  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 bl a`B=r  
    WyatHC   
    %50)?J=zB  
    AE~a=e\x  
    qH4|k 2Lm  
    stajTN*J  
    給透鏡加上鍍膜 Pz0MafF|T  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 ;LP3  
    這裡我們在 ) dk|S\  
    物件6的Face 2以及 i;9X_?QF  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 6?[P^{GpH  
    G3^<l0?S  
    l%_K$$C  
    7 nnF!9JOv  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 3f^Pr  
    J";N^OR{A%  
    bVU4H$k  
    E&kv4,  
    b_nE4>  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) J1I,;WGf  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? 1qNO$M  
    a r8iuwfZ  
    tlp,HxlP  
    !Ea >tQ|  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 \O "`o4  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 VrPsy) J68  
    $k0(iFzR1  
    #&kj>   
    wl]3g  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 I9G^T' W  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 Skci;4T(  
    I?g}q,!]  
    xgcJEox!  
    +U<YM94?  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 asYk #;z\"  
    i,ZEUdd*_  
    Nf!N;Cy?  
    oB5\^V$  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 _x(hlHFk  
    b)'CP Cu*  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 .%n_{ab1  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 LXX('d  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 W{'hn&vU  
    {Cm!5QYy  
    `$JvWN,kB  
    EP@u4F  
    W !j-/ql  
    \;N+PE  
    進階路徑分析 Vxap+<m  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 9pnOAM}  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 *nU5PSs  
    Jyg1z,B <  
    w*XM*yJHU  
    lfDd%.:q4S  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 J' uaZI>'  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 L>IP!.J]?  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 1+$F= M~  
    :5/Ue,~ag  
    4!{lySW  
    D^O[_/i&  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 p*lP9[7  
    2{=D)aC$f  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 ?:9y !Q=  
    G3TS?u8Q  
    VI4mEq,V  
    i kfJ!f  
    C <:g"F:k  
    HI|egf@  
    <jJ'T?,  
    >gzM-d  
    GYQ:G=  
    9*I[q[>9  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
    离线yinge丶
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜