摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓
序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。
<7X+-%yb; 本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含:
I3?:KVa * 介紹雜散光
i4
tW8Il * 轉換序列式設計到非序列模式
,@2d4eg4 * 設計鎖定工具
Q1'D*F4 * 關鍵光線組產生器 & 追跡
14\!FCe)! * 用 Filter String 篩選光路徑
SiJX5ydz * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑
#60<$HO:Z ;:gx;'dm5 文章發布時間:April 23, 2017
z~a]dMs"(P 文章作者:Michael Cheng
k<S!| iAWoKW 簡介
K#p&XIY, 使用者用序列模式設計鏡頭,處理完
成像品質、畸變、相對
照度以及
公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈
光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例:
ts0K"xmY\c
v6?<)M% :Zd# }P 在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例:
=;xlmndT,
E0S[TEDa] ]#
T9v06w N,_ej@L8 開啟範例檔
9/|i.2& 首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx
&On0)G3Rc 作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。
h Tn^:%(
=U".L _V|'iz9. cWM|COXL+ 設計鎖定工具
K+mtuB]yr 接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。
wh:`4Yw 粗略來說,這個工具所執行的步驟如下:
}Mo9r4} * 開啟 Ray Aiming
Vd^`Hv&i * 系統孔徑設為 Float By Stop Size
p:ST$ 1 K * 改為 Angle 或 Object Height
LGCL*Qbsg * 固定表面孔徑:Circular Aperture
M+^K, * 移除漸暈係數
5tl}rmI` 關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。
zFuUv_t LDvF)Eg
?\F ,}e y$V{yh[: 產生關鍵光線組
1,`x1dcO!A 在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下:
@#H{nj
Z L{fP_DIa
L}a3!33)C Da-(D<[0 轉換到非序列
W\<#`0tUt 在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。
t1Khf 有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件
JkxS1 =\%>O7c,8Y
_@prv7e Jp-ae0 Ewa 按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。
ZJ[ Uz_%W EShakV
1v\-jM" F5<{-{Ky 非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖:
V!U[N.&$ >;3c;nf
N[+dX_h WNYLQ=; 我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下:
\+AH>I;vO };!c]/,
ToJru I3x}F$^ 檢查關鍵光線組的狀況
&s < 讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的
CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要
光束。
_gGy(` (P>vI'
6~/H#8Kdn U; q)01 分析雜散光所需的設定
X*yl%V
在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。
#dfW1@m 首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。
0?h .X=G V7@xr
M
t2SZ]|C 8say"Qz 然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。
)nk>*oE ~3YNHm6V
,/ : )FV I.<#t(io 最後一步是把探測面的
像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。
5y'Yosy: n{yjH*\Z
-?'CUm*Od g:clSN, 初步追跡結果
dCK-"#T! 然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。
^9RBG#ud 注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。
C/Z"W@7#; .e AC!R
By_Ui6:D [Bh]\I' 追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。
t}FMBGo[ J?<L8;$s7
tVcs r N9ufTlq
s 並且設定視窗如下圖。
Ttj5%~ R)C+wTG;
`+o.w#cl ;hvXFU 可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。
31C]TdJ B<RONQj_
M5V1j(URE Td
>k \< 使用Filter String
,H?p9L; qp 現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的
功能(下圖中紅框框起來的部分)。
t_rDXhM rh&on