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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 *MYt:ms  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: #"Eks79s  
    * 介紹雜散光 $yDW.pt  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 MV0<^/p|  
    * 設計鎖定工具 /rIm7FW)  
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 M8 iEVJ  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 3D 9N: c  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 ulH0%`Fi  
    x1N me%%&  
    文章發布時間:April 23, 2017 e> ar  
    文章作者:Michael Cheng cy1\u2x_`  
    oy2(Ag\  
    簡介 tgO+*q5B  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: [zY!'cz?  
    X$BXT  
    3hc#FmLr2b  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: *Jb_=j*)  
    LkaG8#m1R  
    C0zrXhY_v  
    %z1{Kus  
    開啟範例檔 q^u1z|'Z  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx e@[9C(5E"  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 j,}4TDWa  
    +d=~LQ}*  
    a ]>VZOet  
    e:qo_eSC^-  
    設計鎖定工具 .SG0}8gW  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 :ezA+=ENg  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: +q7qK*  
    * 開啟 Ray Aiming Q5g,7ac8L  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size N vcHv7,  
    * 改為 Angle 或 Object Height 9 >%+bA(  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture # 2d,U\_  
    * 移除漸暈係數 7O:"~L  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 0"TgLd  
    T\jAk+$Jo  
    Im6U_JsNZh  
    k'x #t(  
    產生關鍵光線組 HQl~Dh0DJ  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: A$Wx#r7)  
    691G15  
    {f-XyF1`  
    p/N62G  
    轉換到非序列 yu=piP  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 GJvp{U}y9I  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 V#NtBreN  
    BO"qD[S  
    `&H04x"Y$>  
    4Ppop  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 y=#j`MH{>  
    4j^bpfb,  
    J]dW1boT@  
    ,aWCiu}  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: (V!0'9c  
    =D5wqCT(Q  
    7/ t:YBR  
    =6fB*bNk]  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: .+HcAx{/2  
    |*ReqM|_C  
    K_Re}\D  
    <n\i>A3`,S  
    檢查關鍵光線組的狀況 -zdmr"CA  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束 4dD2{M  
    (Igu:=  
    AX K95eS  
    8 ip^]  
    分析雜散光所需的設定 v1h.pbz`w  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 ` .$&T7  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 ##GY<\",;  
    c})wD+1  
    \ FXp*FbQ  
    XfDX:b1p  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 h 1*FPsc  
    %4/xH 9  
    ]w-.|vx  
    xh r[ A  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 &oEyixe  
    v^TkDf(Oz  
    7f r>ZY^  
    "koo` J  
    初步追跡結果 \%4|t,en  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 s [T{c.F  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 6KO(j/Gwp  
    m1V-%kUI  
    t}~UYG( h~  
    GV>&g  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 p6Gcts?,  
    ?;RD u[eD  
    %qi%$  
    Qt~B#R. V  
    並且設定視窗如下圖。 #g{Mne  
    ,5. <oDH  
    xW0Z'==  
    ONfyYM?  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 Km"&mT $  
    hIo0S8MOj$  
    X  Ny Y$  
    H`gb}?9R  
    使用Filter String C5;wf3  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 .l=p[BI  
    KC]tY9 FK  
    RJwb@r<v  
    OEI3eizgH  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 J^h'9iQpi  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 zb?kpd}r  
    F1J#Y$q~L  
    >j:|3atb  
    pALJl[Cb  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 b|6!EGh  
    F+3!uWUK  
    d EI a=e|  
    zWtj|%ts  
    >Zo-wYG  
    p7$3`t 6u  
    給透鏡加上鍍膜 *0\k Z,#BJ  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 s&0*'^'O[S  
    這裡我們在 cCk1'D|X[e  
    物件6的Face 2以及 GRy4cb2  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 $82zyq  
    8TI#7  
    C`pan /t  
    Rd0?zEKV  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 6kC)\ uy  
    7F~xq#Wi#  
    4 #G3ew  
    Xz" JY  
    nE4l0[_  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) 4">84,-N  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? _4O[[~  
    6B /Jp  
    wH#Lb@cfZ0  
    m[{nm95QZ  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 aL{EkiR  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 f7 K8m|  
    dnk1Mu<  
     PVS\,  
    O'Vh{JHf  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 A=y24m  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 ?|\0)wrRf  
    nvw NjN  
    ,80jMs  
    HdDo&#  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 ^a: Saq-}  
    :+kg4v&r  
    'cWlY3%t  
    &:IfhS  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 "0p +SZ~D  
    BHIZHp  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 6yV5Yjs  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 fq)Ohb  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 Ih9ORp7  
    g wZ+GA  
    LbLbJ{68  
    AIIBd  
    E1mI Xd;.  
    R] V~IDs   
    進階路徑分析 -;W\f<q]  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 fJ|Bu("N  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 >vNk kxWyQ  
    ;@=@N9q K  
    QBN=l\m+  
    *IjdN,wox  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 =B ,_d0Id  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 m,kv EQ3  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 N`L' 4v)  
    9phD5b~j  
    PEwW*4Xo  
    }SJLBy0  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 2yQ;lQ`  
    Npg5Z%+y  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 HCe-]nMd  
    ?L ~=Z\H  
    S3JygN*  
    6{F S /+  
    G+ \~rl  
    aS1P]&  
    #/ gme  
    Ow&'sR'CX  
    =:R[gdA#1  
    \Vhp B   
    (转自:中文版 Zemax Forum )
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜