摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓
序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。
"yg.hK` 本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含:
6ayy[5tW * 介紹雜散光
+"jl(5Q * 轉換序列式設計到非序列模式
?nQ_w0j * 設計鎖定工具
EJ1Bq>u7 * 關鍵光線組產生器 & 追跡
j]rXoV> * 用 Filter String 篩選光路徑
2zz,(RA * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑
H5~1g6b@ 59V#FWe- 文章發布時間:April 23, 2017
O/mR9[} 文章作者:Michael Cheng
n'THe|:I !_qskDc- 簡介
ODm&&W#* 使用者用序列模式設計鏡頭,處理完
成像品質、畸變、相對
照度以及
公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈
光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例:
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59.$ULQVMY &,J*_F<s2< 在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例:
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zG_p"Z7, )CJES!!
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i!$ 開啟範例檔
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:~bHf 首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx
jAXR`D 作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。
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',GV6kt_k yf!,4SUkU 98GlhogWt 設計鎖定工具
u#1%P5r&X 接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。
Pg`JQC| 粗略來說,這個工具所執行的步驟如下:
Ejv%,q/T( * 開啟 Ray Aiming
]fZ<`w8u} * 系統孔徑設為 Float By Stop Size
t-WjL@$F/ * 改為 Angle 或 Object Height
NetYg]8` * 固定表面孔徑:Circular Aperture
.jA\f:u# * 移除漸暈係數
D|l,08n"? 關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。
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|m)kN2w !siWEzw 產生關鍵光線組
/%!~x[BeJ> 在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下:
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T?n-x?e e # 5BPI 轉換到非序列
YGp)Oy}: 在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。
zzJja/mp 有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件
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T#, )s)_XL
[[WF0q yoQ\lk 按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。
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&+01+-1hW zC=a3 非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖:
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hJf2o .IgRY\?Q 我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下:
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]]2k}A[-I O- #TZ 檢查關鍵光線組的狀況
Q =#I9- 讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的
CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要
光束。
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sZg6@s= t>xd]ti 分析雜散光所需的設定
ut_pHj@ 在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。
Qs9OC9X1 首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。
O,s. D,S 1$pb (OK
.WX,Nd3@ /[=E0_t+ 然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。
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[=uIb._Wv *jITOR!uF` 最後一步是把探測面的
像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。
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V5p0h~PK tU@zhGb 初步追跡結果
3^,QIG 然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。
HC*?DJ, 注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。
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8e&p\%1 )nfEQ)L;h} 追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。
mJ5H=&Z skg|>R,kE
fjG&`m#" /M=3X|| 並且設定視窗如下圖。
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&D)w
{tiKH=&J @'6"7g 可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。
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5B4Ssrs5W~ L] %l51U 使用Filter String
9902+pW 現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的
功能(下圖中紅框框起來的部分)。
B?bW1 aZS7sV28
Cu;5RSr2Z 78 f$6J q 接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。
!l@zT}i?? 現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。
jgv`>o%<W 9=`W p6Gmn
U/ od~29 j<<3Pr 此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。
2JGL;U$ 0RFRbi@n(
Xf[kI \ 0W!4D
>l']H*&B< Of,2Q#oji 給透鏡加上鍍膜
&7e)O= 為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。
Z<?OwAWz 這裡我們在
/YAJbr 物件6的Face 2以及
*ISZlR\# 物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。
q*7<)VwI w >; L{
Z @ dC+0[= 6w8">~)Z 再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。
2Os1C}m j$7|XM6
%QmxA
7fW w8S!%abl1 kR CQv-* 分析特定區域的光 (使用Filter String)
XRx+Dddt; 初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦?
fxaJZz$o \NZIEu)5?
#DU26nCL pKiZ)3U 這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。
CAq/K?:8 現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。
8Me:Yp_Xt YHkcWz
afBE{ IYn]U4P.
現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。
>@xrs 這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。
3<? y$FW$Ka
ULrr=5&8
xw^R@H 然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。
c#-U%qZ NX`*%K
B~]5$- KqBk~-G 注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。
xsd_Uu* y&}E~5O 回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。
{vUN+We 但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。
u0aJu 根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。
x-OA([;/ eAv4FA4g
::Ke^dp @k[R/,#'[t
UcBe'r}G aRG2@5 進階路徑分析
xh7c VE[UM 因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。
+zXEYc 注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。
f Vb-$ x~xa6
-F'b8:m "k]CW\H6z 分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。
?]D"k4 讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。
yjfat&$ 把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。
~ P~ 'RRmIx2X
ST\$= }|PY!O
啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。
}*.0N;;C @d Jr/6Yx 下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。
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626Z5Afg W6On93sa (转自:中文版 Zemax Forum )