摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓
序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。
=JM !`[ 本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含:
IPxK$nI^ * 介紹雜散光
M!Wjfq
^~ * 轉換序列式設計到非序列模式
.CAcG"42 * 設計鎖定工具
G@+AB*Eu * 關鍵光線組產生器 & 追跡
F8En)# * 用 Filter String 篩選光路徑
M?3#XQDvD * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑
&"/IV$H AfqthI$*m 文章發布時間:April 23, 2017
ns}"[44C}l 文章作者:Michael Cheng
T!3_Q/~^r hL(zVkYI 簡介
1cvH 使用者用序列模式設計鏡頭,處理完
成像品質、畸變、相對
照度以及
公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈
光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例:
]*\m@lWu {T(z@0Xu
B Sc5@; 在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例:
t9Y?0O}/ 7w8I6 9?i~4&EY Y?b4* me 開啟範例檔
,EuJ0]2 首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx
mvV5Xal 作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。
p(`?y:.3 :,*{,^2q: 1(*Pa MET"s.v 設計鎖定工具
'du{ky 接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。
*(*3/P4D 粗略來說,這個工具所執行的步驟如下:
qR>"r"Fq * 開啟 Ray Aiming
~L3]Wa. * 系統孔徑設為 Float By Stop Size
15L0B5(3 * 改為 Angle 或 Object Height
$=rLs) * 固定表面孔徑:Circular Aperture
|-!
yKB * 移除漸暈係數
A3cW8OClz 關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。
|d0,54! l We1Q# }3xZ`vX[T [T>a}}@ 產生關鍵光線組
pQ/
bIuq 在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下:
C?47v4n-' TLC&@o
: M>kk"tyM Rb=8(# 轉換到非序列
#'2CST 在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。
vi-mn)L6# 有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件
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[zAw SWZA`JVK = m6yH_`@ /`"&n1 按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。
LjOHlT' 0A.PfqYi @*}?4wU^k ^+)q@{\8Y 非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖:
Zv8I`/4? 3.vQ~Fvl X&+*?Q^ '
+*,|;? 我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下:
UC{Tm f sM0o,l(5 ~3F\7%Iqc Z-wvdw]$ 檢查關鍵光線組的狀況
IQ3]fLb 讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的
CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要
光束。
MG6y ))z1T 8 K,o@~fj TA~YCj$ 分析雜散光所需的設定
Js("H 在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。
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首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。
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f d zC[lPABQ 然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。
.xIu 2*<'=*zaQ (b}}' $*Z Zh 最後一步是把探測面的
像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。
PiTe/ OYC\+
= qp6*v& Bt\z0*t=s 初步追跡結果
eJm7}\/6` 然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。
FYtf<C+ 注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。
_a e&@s1 3{;W!/&> 7KzMa%= \h&ui]V 追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。
%j*i= ,*w AvNU\$B4aG ZJ7<!?6 並且設定視窗如下圖。
%}*0l8y G L> u3K 0/F/U=Z! .;'3Roi 可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。
3n=`SLj/a d*A(L5;@ ~^GY(J' 't5 I%F 使用Filter String
k'd(H5A 現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的
功能(下圖中紅框框起來的部分)。
.PhH|jrCW^ Lk-%I? A,2dK}\> (DW[#2\. 接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。
W?B(Jsv 現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。
N%,!&\L XazKS4( i{$h]D_fD Po:)b 此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。
# XD-a -a}d
@& !w[io; {Va"o~io a V4p0s6ZZ !QB(M@1 給透鏡加上鍍膜
MwlhL? 為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。
A?q9(n|A" 這裡我們在
NNt,J; 物件6的Face 2以及
J"x M[c2 物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。
ThLnp@ ':v@Pr| i'Oh^Y)E# +6xEz67A< 再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。
v=~=Q*\l #jja#PF]7 e (^\0 =u< &m'ttUG? )cMW, 分析特定區域的光 (使用Filter String)
_TRO2p0 初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦?
.i7bI2^ _l`s}yC l9J ]<gG T|h/n\fx)a 這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。
S'I{'jP5 現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。
{ER%r'(4Z r`Qzn" H -'tgr6=|w" QDRgVP 現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。
2#n4t2p 這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。
|$r|DX1[ 6E!C xXUX 6[h3pb/m V8z91 然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。
u0md ^ *N0R3da ?Afx{H7 :(,Eq? 注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。
ugM,wT&~Y BVx: JiA 回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。
(]|rxmycA 但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。
0Wf,SYx`s 根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。
T5eXcI0t >qJRpO x}.Q9L `};8 KfXE=v{t `hD\u@5Tw 進階路徑分析
|]5g+sd 因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。
,3k"J4|d 注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。
*q8L$D x,\PV> <t{T]i+ <y(uu(c 分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。
OBF2?[V~ 讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。
U$J l5[`F^ 把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。
$I L7c]Gw OT_w<te $Nr :YI )fz)Rrr 啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。
-f.<s!a U@<>2 下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。
p7Yej(B ;as4EqiK yfS`g-j{~ C:n55BE9 a*d>WN.;U $/%|0tQ eKlh }v )#9R()n! A f@IsCOJ 8X`Gm!) (转自:中文版 Zemax Forum )