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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 q\-xg*'  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: mNGb} lR  
    * 介紹雜散光 fbi H   
    * 轉換序列式設計到非序列模式 ?Aj\1y4L1  
    * 設計鎖定工具 O1l4gduN|i  
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 ,dGFX]P  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 =<Zwv\U  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 DtI%-I.  
    ?tW%"S^D  
    文章發布時間:April 23, 2017 @#G6z`,  
    文章作者:Michael Cheng w}]3jc84  
    ZA 99vO  
    簡介 e2,<,~_K6  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: hqwz~Ky}  
    @$K![]oD  
    # khyy-B=  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: WW,r9D:/  
    P\Pc/[ Z7  
    Y9\]3Kno  
    W]C_oh  
    開啟範例檔 ]JhDRJ\  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx )x9nED{  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 _Ct@1}aa4x  
    64IeCAMVo  
    #! K~_DL  
    :BC<+T=  
    設計鎖定工具 a78;\{&L'  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 n57c^/A*  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: q/aL8V<"z  
    * 開啟 Ray Aiming ~7eUt^SD;  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size 'Sb6 w+  
    * 改為 Angle 或 Object Height  A[wxa  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture g,{Ei]$>I  
    * 移除漸暈係數 AVdd?Ew  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 Wr}a\}R  
    ^*4(JR   
    oeRYyJ  
    J$eZLj  
    產生關鍵光線組 ocDVCCkxg  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: =~(LJPo6  
    ijR*5#5h  
    %te'J G<  
    Is#v6:#^  
    轉換到非序列 ivDG3>"JG  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 A~ %g"  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 3n=O8Fp  
    JsoWaD  
    &p(*i@Ms  
    AyI}LQm]u  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 (p#;6Xhf  
    rE' %MiIK  
    t' _,9  
    FC/>L  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: IhFw{=2*  
    V!aC#^  
    CUTEp/+  
    *T}dv)8  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: 83O^e&Bt  
    Z<m'he  
    eyl) uR  
    =kZwB*7  
    檢查關鍵光線組的狀況 @'G ( k;  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束 lhvZ*[[<)  
    WZy6K(18"'  
    E&Zx]?~  
    u/c~PxC  
    分析雜散光所需的設定 |^&2zyUj/  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 p~{%f#V  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 2l}Fg D  
    tg%WVy2  
    1(\I9L&J   
    Z+pvdu  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 HT;QepY3  
    xhoLQD  
    4mg 7f^[+  
    "Qm~;x2kB  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 A`ertSlbhe  
    2K7:gd8Ru  
    }5c'ui!3H  
    J&0wl]w|O%  
    初步追跡結果 m{=~| I  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 nr9#3 Lb  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 AK\g-]8  
    1)kl  
    jwE(]u  
    Ss#{K;  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 J$=b&$I(  
    n;T  
    0:(dl@I)@  
    =R8.QBVdN  
    並且設定視窗如下圖。 :|6D@  
    ]KV8u1H>  
    \iTPJcb5  
    VBj;2~Xj4h  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 ,Z\,IRn  
    *V<2\-  
    ba:du |Ec  
    d4=u`2w  
    使用Filter String 5r}(|86O/  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 JdNPfkOF  
    `  vmk  
    ve/6-J!5Y.  
    -tdON  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 yA)+-  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 +OuG!3+w  
    lNnbd?D8  
    KKTfxNxJn  
    ykl=KR  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 Fm+)mmJP  
    N`GwL aF  
    o2U J*4  
    -VT?/=Y s  
    ,OFr]74\  
    6L% R@r  
    給透鏡加上鍍膜 1+ARV&bc  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 \}Kp=8@nE  
    這裡我們在 T%#P??k  
    物件6的Face 2以及 @x>2|`65Y  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 AS-t][m#  
    >" 8j{ s  
    :1  
    I }I/dh  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 r*xw\  
    o8pe07n(W  
    ^i k|l=  
    Uwil*Jh  
    !oRm.c O  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) L|'ME| '  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? a^1c _  
    <^Nj~+G'  
    VNot4 62L  
    H%gD[!^  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 xR%ayT.  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 `lOoT  
    V zx(J)  
    IYC#H}  
    6spk* 8e  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。  jmNj#R@t  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 7anpz%  
    K1WoIv<Ym  
    ;;H:$lx  
    D6:J*F&?  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 ]>i0;R ME  
    }iloX#  
    NX",e=  
    zUu>kJZ  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 pU'sADC  
    +# >%bq x  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 ^*W<$A_  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 T#f@8 -XUE  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 mR@Xt#  
    ><7`$2Or  
    ;a)\5Uy  
     n(1" 6  
    :*nBo  
    H)+kN'J  
    進階路徑分析 )5OU!c  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 I]$d,N!.  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 [SvwJIJJ  
    EKD>c$T^  
    @S92D6  
    KYW1<Wcp  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 nd1*e  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 O+J;Hp;\_  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 sn#h=,*4`  
    3NWAy Cq-  
    "c*|vE  
    YTh4&wm  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 dfcG'+RU}  
    i% lB U 1  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 [DEw:%  
     Nf'9]I  
    B6o AW,3  
    lukV G2wDL  
    TI  
    es]m 6A  
    <`qo*__1  
    Qd?P[xm  
    Oc`fQqYy  
    _F E F+I  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜