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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 _3-RoA'UZr  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: mdmZ1:PBM  
    * 介紹雜散光 Z{8exym  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 S&gKgQD"Q  
    * 設計鎖定工具 ;HD 4~3   
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 5#N"WHz!  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 ir( -$*J  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 |>jqH @\P  
    V NJDl  
    文章發布時間:April 23, 2017 L<{OBuR  
    文章作者:Michael Cheng d&$.jk8 2  
    `[g# Mxw  
    簡介 [MSDk"o&  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: 6&/ Ew4 e  
    ~_/<PIm  
    vfk7J5y  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: e|OG-t[$*  
    lN*1zM<6;  
    wz|Q%.%?[  
    A>ug'.  
    開啟範例檔 ^=heen<S%  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx !=k*hl0h  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 &+|jJ{93z  
    ImT+8p a  
    \]~kyy  
    3.GdKP.%  
    設計鎖定工具 ` maN5)  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 c)n0D=  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: p: Q%Lg_I  
    * 開啟 Ray Aiming 8as$h*W h  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size 5KA FUR0  
    * 改為 Angle 或 Object Height P_^ |KEz  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture wj";hAw  
    * 移除漸暈係數 h!X'SGK  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 6@ (k8<3  
    ,/[dmoe  
    b> >=d)R  
    NL>[8#  
    產生關鍵光線組 sEgeS9a{  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: "\R@l Ux.Y  
    =km-` }I,  
    I1}{~@  
    G74a9li@  
    轉換到非序列 EnsNO_"e|  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 ? A^3.`  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 )sz 2 9  
    \CEnOq  
    v2W"+QS}u  
    ys"mP* wD  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 sQ3ayB`  
    ,~=z_G`R  
    n<Xm%KH.  
    y>pq*i  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: D/%b@Ls2ze  
    Pc\4 QvQ8  
    b`={s  
    ^w.(*;/  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: [(.T%kJ  
    p;QX"2  
    s+\qie  
    xa%ktn  
    檢查關鍵光線組的狀況 N6m*xxI{  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束 b6E8ase:F  
    X0r#,u  
    ~%!U,)-  
    =LeVJGF  
    分析雜散光所需的設定 aR(Z~z;C  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 #t9=qR~"  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 DoPF/m}  
    H* JC`:  
    ur"e F  
    aK=3`q  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 ~ dI&> CL  
    i6\!7D]  
    V2sB[Mw  
    Le$u$ulS  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 1 0Tg > H  
    i!+3uHWu`)  
    X-) ]lAP  
    0tm "kzy  
    初步追跡結果 &.bR1wX  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 s)'_{ A"h  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 }SvWC8  
    :$Di.|l@7  
    < $?}^ 0R  
    $}"Wta  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 =A&*SE o5  
    yp/V 8C  
    1#X= &N  
    CCvBE, u x  
    並且設定視窗如下圖。 k2,oyUT=S  
    ]TZWFL-  
    aD3F!Sn  
     F3r  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 [ BC%$Sj  
    |>fS"u  
    3Os3=Ix  
    b)`#^uxxJ  
    使用Filter String ALieUf  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 "Ohpb!J9  
    ;7=J U^@D@  
    +mW$D@Pf  
    H5MAN,`  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 r^tXr[}  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 JhXN8Bq33  
    W%Nu]9T  
    6rCP]YnF  
    7a_n\]t465  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 fy-Z{  
    v.&*z48  
    zc~xWy+  
    8q[WfD  
    F?AfB[PM  
    6f9<&dCK  
    給透鏡加上鍍膜 \kGtYkctZ  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 Hh=::Bi  
    這裡我們在 EKJ4_kkjM  
    物件6的Face 2以及 yzzre>F  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 |a:VpM  
    ^* v{t?u  
    |}.B!vg(4  
    .wOLi Ms  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 6i=wAkn_J  
    )$N{(Cke2T  
    ~vZzKRVS  
    >}(*s^!k  
    4z DAfi#0  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) mqc Z3lsv  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? .wn_e=lT  
    >w;W& [  
    NJ!#0[@C  
    M\4;d #  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 >gLy z2  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 }ucg!i3C  
    KKJ[  
    <a}|G1 h  
    ;9\0x  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 =C2C~Xd  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 R*#Q=_  
    !+ hgKZ]  
    WG r\R  
     ,qqV11P]  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 0|vWwZq  
    hRcJ):Wyb  
    9+|,aG s  
    2Yjysn  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。  +6-!o,(  
    =W^L8!BE'  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 )O(Gw-jWE  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 Nn\\}R  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。  Q'M Ez  
    OB@t(KNx*P  
    .HJHJ.Js8X  
    &y+*3,!n8  
    5-po>1g'  
    ;$;/#8`>  
    進階路徑分析 dAt[i \S  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 H<?yG->  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 ->{WO+6(  
    e-t`\5b;  
    9xp ;$14  
    P6'I:/V  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 oABPGyv  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 ^: j:;\;  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 mmK_xu~f28  
    'FXZ`+r|  
    )ISTb  
    }PuO$ L  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 7!)%%K.z6  
    )j*qGsOg  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 LvdMx]*SSr  
    y>PbYjuIU  
    "G(/MT^C  
    1nmWL0  
    [RuY'  
    v[GHqZ  
    2F{IDcJI\  
    ~5529  
    $sJfxh r  
    n\Nl2u& m  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
    离线yinge丶
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜