摘要：在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程，軟體中內建各種工具讓
序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌，其中包含一鍵轉換非序列，以及關鍵光線組等工具。
;:9 x.IkxC 本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光，內容包含：
wrn[q{dX * 介紹雜散光
RkLH}`# * 轉換序列式設計到非序列模式
Ok6Y&#'P * 設計鎖定工具
2.&v{gq * 關鍵光線組產生器 & 追跡
jVRd[ * 用 Filter String 篩選光路徑
;lAz@jr+ * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑
F;ONo.v; fV} \ 文章發布時間：April 23, 2017
FZA8@J|Q4 文章作者：Michael Cheng
/p>"|z ]jHB' Y 簡介
8`VM do9 使用者用序列模式設計鏡頭，處理完
成像品質、畸變、相對
照度以及
公差分析等問題之後，在原型製作之前，還會需要進行機構相關的分析，以避免出現多重反射的鬼影或強烈
光源散射的雜光。一般來說，雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統，最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例：
~:)$~g7>b 
>M:5yk@ jgbw'BBu 在照相領域中，常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射，或是視野內的光源通過鏡片二次反射，聚焦到像面上這兩種。而在其他系統，例如天文望遠鏡，可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例：
~*B1}#; 
&9s6p6 eb \0 WMb \ k1Wh-3 開啟範例檔
ydns_ Z 首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx
,(`@ZFp$ 作為前置作業，讓我們先把所有的鍍膜都取消，因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。
+Kq> r|; 
c=
a+7> cR5<.$aY Y5MHd>m 設計鎖定工具
}(tGjx] 接著我們執行Design Lockdown工具，此工具會調整使用者的系統設定，使鏡頭符合實際運作的條件，分析結果更正確。
DR0W)K
^ 粗略來說，這個工具所執行的步驟如下：
!)9zH * 開啟 Ray Aiming
',!#?aGV * 系統孔徑設為 Float By Stop Size
ao-C9|2>NU * 改為 Angle 或 Object Height
NOS5bm&- * 固定表面孔徑：Circular Aperture
wqGZkFg1 * 移除漸暈係數
i2j)%Gc} 關於更詳細的說明，使用者可以參考Help文件的說明。
*q0N$}k tIr66'8 
a|7V{pp=M <m(nZ'Zqz2 產生關鍵光線組
56bB~ =c 在轉換到非序列模式之前，讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線，這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中，直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下：
;%j t;Xv9 2hu6 
Pdn.c1[-a M}5 C;E* 轉換到非序列
9M7P]$^ 在OpticStudio分析雜散光最方便的就是，我們只需要一個步驟，就能快速地切換到非序列模式中。
k2@IJ~ 有關於序列到非序列模式的切換，我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章，讀者有興趣可以參考，此文章標題為：轉換序列式面到非序列物件
z{n=G yQx>h6 
1QN]9R0`#7 _&z>Id`w 按一下OK後，可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表，可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface，而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件，他們的位置跟原本序列式系統中的像面，視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外，跟原本序列模式並無不同。
Zka;} UL&Q J `mp8?;% 
rzTyHK[ }%1E9u 非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同，其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗，並勾選 “Split NSC Rays”，就可以看到如下圖：
1_p'0lFe +.R-a+y3 
LTY.i 3
uVO9r-O8p
我們也可以用Shaded Model觀看，效果如下：
rb_G0 /R #YNb&K
n 
f/c}XCH_h c Q8:;-M 檢查關鍵光線組的狀況
P L Y7qM w 讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下，可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時，將會需要把機構元件的
CAD檔匯入，再次使用此工具，確保機構沒有不小心遮蔽到主要
光束。
>'T%=50YH K7l{&2>? 
};+s0:H ~J2Q0 Jv 分析雜散光所需的設定
)3
r1; ^W 在開始追跡檢查雜光狀況之前，讓我們先來調整一些必要的設定。
@E)XT\;3 首先是把最大光線分裂次數，以及最大光線與物件交會次數調整到最高，在雜光的分析中，有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的，如果分裂次數或交會次數的設定不足，可能無法充分分析到所有狀況。
?SAi t Q3 f*5"Jh @ 
Qpc{7#bp )} #r"! 然後我們把追跡的光線數降低到5000條，原因是分析雜散光時，通常一條光線會分裂為非常多的子光線，比起不分裂的狀況，速度可能慢上十幾倍到百倍不等，這邊以示範為目的，因此我們把光線數量控制到較少的5000。
"D k:r/ 2
g8PU$T 
>r*Zm2($MR ` Q8 D[ 最後一步是把探測面的
像素數設為150x150，這會讓追跡的速度較快。
"L)pH@) ?~K2&eo 
Rk=B; VO`A 初步追跡結果
%q Q(@TG 然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡，如下圖設定操作。
1,QRfckks 注意如下圖所示，追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。
/f[_]LeV] Vg+SXq6G 
zXD@M{ Z~|J"2. 追跡完畢後開啟Detector Viewer，此工具的位置如下。
.3&m:P8zV 4_Jdh48-d 
'KL(A-}! -Gpj^ aBU 並且設定視窗如下圖。
}';&0p2Z {2x5
V#6 
la4 ,Z ah92<'ix 可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。
cTn bI4S; RFC;1+Jn 
fUXp)0O US|vYd}u+ 使用Filter String
NIfc/ % 現在我們要找出這些雜光的發生原因，並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光（鬼影光）。為了特定出這些特定的光線，我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的
功能（下圖中紅框框起來的部分）。
#r:`bQ0; w j^I1;lO 
K)?^b|D Vk (bU=w 接下來我們要使用一個快速的技巧，從前述的鬼影光線中，把入射到像面（探測器）上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的，如下圖紅框的部分，此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例，預設是1x10^-6，代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。
6&Dvp1`m 現在請輸入0.005，這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時，就停止追跡。
,gvX ~k <@A^C$g 
-?RQ%Ue vFOv
I Vp 此時回到Layout中，重新整理多次之後，可以看到以下幾種路徑。
.{ -yveE CA4-&O" 
["}A#cO652 iVI 
a{+oN
$ }'W^Ki$ 給透鏡加上鍍膜
Pb,^UFa= 為了輕減這些鬼影光，我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層（coating），並了解其效果。
DVJc -.x8 這裡我們在
d eoM~r9s 物件6的Face 2以及
1Q5<6*QL" 物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。
LXLDu2/@ |pqpF?h5| 
O[y`'z;C j,xPN=+hT 再次追跡之後，就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。
i!3K G|V ~@D%qbN 
ib_Gy77Os p|d9 g
^ lF( !(>YZ 分析特定區域的光 (使用Filter String)
~ ""MeaM8[ 初步排除基本雜光之後，我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光，現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的，要怎麼辦？
$k ma#7 `4 bd, 
0*?XQV@ Y:,R7EO{! 這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中，Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中，可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的，我們還可以使用邏輯符號，例如「&、|、^」等，來組合出無限多種篩選條件。
0JNOFX 現在我們要利用以下四個指令的組合，來達成篩選上述區域的功能。
?+5 {HFx j9}0jC2Tb 
_oTT3[7 P nZCpT
|M5 現在讓我們重新追跡，並且這次追跡時，要勾選Save Rays的選項，如下圖。
RRqMwy>% 這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。
K eI: /2 nq f<NH3i 
4i/q^;` 1gm/{w6O 然後我們回到Layout中，讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史，並輸入剛剛的Filter String。
,6O9# 1A&i zm+ 4Rl( 
TRLeZ0EC _]UDmn[C 注意我在前面額外追跡設定了{#50}，這代表要篩選出代表性的50條光線。
15 o.j!S \>Rwg=Lh 回到Layout中，就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。
9+I/y,aC 但這裡出現了一個問題，那就是我們發現有太多可能的路徑。
)8 :RiG2B 根據經驗，我們知道不可能所有的路徑都是強烈的，這些路徑中，很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。
~'J =!Xy I`W-RWZ 
Q
*]`t@ q Gv,92ny!| 
x}<G!*3 &8+6!TN7 進階路徑分析
,{?bM 因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具，工具位置如下。
d Zz^9:C+ 注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。
CY3 \:D0I &n]Z1e}5 
yp{F 8V 8 s.;KVy,=Bu 分析後可以看到所有路徑中，幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。
~hz@9E]O 讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。
d50IAa^p6J 把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單，只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。，可以看到如下圖。
N ~}v:rK>g #/t>}lc 
$^=jPk]+ "gN* J)!x 啊哈！分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑，實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。
i %h n aI{@]hCo 下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果，跟前面一樣，我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。
,}IER df4^C->: 
|g\. 5IM#W 7
M ki?EG 
k;fnC+Y$s $sc8)d\B 
Rhv".epz udEb/7ZL 
:*P_ __S= x-V' 0-#U> （转自：中文版 Zemax Forum ）
