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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 va#].4_  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: x],XiSyp  
    * 介紹雜散光 +n &8" )  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 0}:Wh&g  
    * 設計鎖定工具 ka`}lR  
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 lEQj62zIQ  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 ( Y Z2&  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 t="nmjQs  
    X VKRT7U  
    文章發布時間:April 23, 2017 Vhn Ir#L+  
    文章作者:Michael Cheng  Lo)T  
    :yw(Co]f  
    簡介 (enOj0  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: $(yi+v  
    :8v? 6Q  
    "{bc2# F  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: \^'-=8<*>  
    Iy4 RE P|  
    PVQn$-aq1  
    r'*#i>PkQD  
    開啟範例檔 (2RuQgO  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx u@Z6)r'  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 \z@ :OR,  
    tC/+  
    ;jKLB^4nX  
    r"VNq&v]9  
    設計鎖定工具 }_+):<Db  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 Io /;+R .  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: |$GPJaNqa  
    * 開啟 Ray Aiming 4~vn%O6n  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size a]8W32  
    * 改為 Angle 或 Object Height kH[thR k}  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture h54\ \Ci  
    * 移除漸暈係數 oy=ej+:  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 :prx:7  
    ?. L]QU  
    3CSwcD  
    ,s,AkH  
    產生關鍵光線組 Pn ?gB}l  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: XWB#7;,R  
    Q[T)jo,j%  
    ki ?V eFp  
    A#F6~QX(.9  
    轉換到非序列 =6qSo @  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 4Le{|B  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 9S5C{~P4  
    sei%QE]!/  
    H.t fn>N|  
    R@IwmJxX  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 zUWWXC%R  
    1_@vxi~aW_  
    ,GtN6?  
    &o`LT|*m  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: 9SU/ 86|N  
    FaaxfcIfkw  
    E6?0/"  
    BMn`t@!x  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: raR=k!3i  
    9G[t &r  
    AbX#wpp!  
    v#5hK<9  
    檢查關鍵光線組的狀況 r;"Qu  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束 J[\8:qE  
    Z v 7}C  
    bhW&,"$Z  
    >ATccv  
    分析雜散光所需的設定 /~/nhKm  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 ?]_A~_J!  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 y@ c[S;  
    @Fb 2c0?Y  
    K[q-[q#yc  
    i\ )$  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 L~Xzo  
    xr^fP~V|)0  
    "Q[?W( SA  
    S e!B,'C%  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 Z..s /K {  
    V$ " ]f6  
    MX|@x~9W  
    y*-D  
    初步追跡結果 jZ<f-Ff0  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 -]:1zU  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 c:-n0m'i  
    ca'c5*Fs  
    A-u}&}l<  
    jZ,=tF  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 W: 3fLXk+  
    TTSq}sb}  
    tG 0 &0`  
    <t,lq  
    並且設定視窗如下圖。 6PMu*-Nv!j  
    Gr~J-#a3~D  
    0BP=SCi  
    <,&t}7M/:  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 io7Zv*&T0  
    D!V*H?;U  
    LUA<N:  
    y6>fK@K~  
    使用Filter String HQc^ybX5  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 ]q|U0(q9  
    J/c5)IB|  
    is{H >#+"  
    bG]?AiW r  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 N{K[sXCW  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 >oyZD^gj  
    KY9@2JG  
    &C6*"JZ4  
    a=*JyZ.2  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 gV-A+;u  
    xsx0ZovhY  
    G=m18Bv{  
    KK/siG~O  
    ?b?YiK&yz  
    Y-]Ne"+vf  
    給透鏡加上鍍膜 Gyy?cn6_  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 YDGW]T]i ?  
    這裡我們在 YvFt*t  
    物件6的Face 2以及 kp,$ NfD  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 i5czm?x  
    (q=),3/<pU  
    {s?x NU  
    Gi,4PD-ro  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 H) q_9<;  
    &xS] ;Fr  
    B{7hRk.5!  
    8LGNV&Edg  
    q)y<\cEO  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) Uq(fk9`6  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? }i9VV+L#1  
    G g{M  
    \C"hL(4-  
    p u[S  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 nZ# 0L`@"Y  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 US] I[Y6V  
    @}_Wl<kn  
    --F6n/>  
    Jmun^Q/h  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 _{?-=<V'_  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 _kUtj(re  
    + y|Q7+  
    }} zY]A  
    $u::(s} x<  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 oN=>U"<\1  
    G`,M?l mL  
    0!q@b  
    rWip[>^  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 NoT%z$ 1n  
    v}Kj+9h  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 {,e-; 2q  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 9QEK|x`8  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 Pr#uV3\  
    c6MMI]+8  
    k6(0:/C  
    1 ( rN  
    U,Z7n H3_  
    4 Xe8j55  
    進階路徑分析 75H;6(7  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 |}wT/3>\  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 Nt7z ]F`  
    0G(|`xG1q  
    !iU$-/,1e  
    X1^Q1?0  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 5a2+6N  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 8T3Nz8Q7  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 }hS$F  
    *)s^+F 0  
    =!DpWVsQ  
    q;QE(}.g  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 |F&02 f!]@  
    #S"s8wdD  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 -b=A j8h  
    t/h,-x  
    Jj~|2Zt  
    96<0=   
    D|IS@gWa  
    RSup_4A  
    fxc?+<P  
    EAK[2?CY  
    kQO-V4z!  
    2Wr^#PY60  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
    离线yinge丶
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
    离线hit2011
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜