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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 Yu}[RXC(=  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: j].=,M<dxE  
    * 介紹雜散光 aD&4C -,1  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 WK.K-bd  
    * 設計鎖定工具 cq`!17"k  
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 Al3*? H&  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 3Q#Tut  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 `Hx JE"/  
    N!//m?}  
    文章發布時間:April 23, 2017 hcqg94R#_  
    文章作者:Michael Cheng {UFs1  
    hz+O.k],?  
    簡介 vn+~P9SHQ  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: $qR<_6j  
    xV0:K=  
    M9QYYo@  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: (Fj"<  
    FfX*bqy  
    nK)hv95i_  
    V}MRdt7  
    開啟範例檔 9'=ZxV  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx gF2,Jm@"6  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 `qV*R 2  
    V/+D]  
    KTE X]  
    $!vK#8-&{  
    設計鎖定工具 1d!TU=*  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 J)EL<K$Z[  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: O|nLIfT  
    * 開啟 Ray Aiming [;Jq=G8&t  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size _l+8[\v  
    * 改為 Angle 或 Object Height 4$y P_3  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture oh7tE$"c  
    * 移除漸暈係數 eGLB,29g  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 Os/?iGlD*E  
    0}"'A[xE  
    :rU,7`sE/  
    $=5kn>[_Z%  
    產生關鍵光線組 \b}%A&Ij  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: LvCX(yjZ*  
    MJA;P7g  
    (sSGJS'X  
    !E6Q ED"  
    轉換到非序列 PDS?>Jg(  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 '?$R YU,  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 F+]cFx,/  
    C[,&Y&`j  
    A`* l+M^z  
    5 FE&  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 >uxAti\  
    nwVW'M]r  
    NpxgF<G  
    (W.G&VSn)  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: SPp|/ [i7  
    (K('@W%\?  
    G1Vn[[%k  
    NFPWh3),f  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: (v&iXD5t  
    7b7WQ7u  
    'A9Z ((  
    30O7u3Zrb  
    檢查關鍵光線組的狀況 VNs3.  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束 V}ls|B$Y  
    ~sdM~9@ '  
    /i{V21(%  
    [ @2$W?0i  
    分析雜散光所需的設定 ;u=%Vn"2a  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 BZ(DP_}&D  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 4Ik'beZqK  
    !R![:T\,  
    {$V2L4  
    <`u_O!h  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 ByacSN  
    kJ?AAPC  
    RIDl4c [  
    SX&Q5:  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 > qPP_^]  
    TkVqv v  
    %LuA:{EVD  
    . I."q  
    初步追跡結果 MpTOC&NG%s  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 '>HLE)l  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 f@k.4aS  
    ^b4i9n,t1  
    Tv9\` F[  
    >uDC!0)R  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 {w@9\LsU  
    &A=c[pc  
    GE? \Vm  
    h^,av^lg^  
    並且設定視窗如下圖。 c& K`t  
    *m2?fP\  
    R:rols"QM  
    X]o"vx%C  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 ]<K"`q2  
    F3t IJz>3  
    r7^v@  
    {vT9I4d8  
    使用Filter String >WLHw!I!6  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 uL ~wMX  
    >s )L(DHa"  
    !N!AO(Z  
    li{!Jp5]1b  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 xZY7X&C4  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 x&r f]R  
    SE(c_ sX  
    SM1L^M3)  
    4aW[`  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 ah,"c9YX  
    <\ eRa{ef  
    ZUvc|5]  
    nPDoK!r'  
    ]re}EB\Rs  
    c?KIHZ0  
    給透鏡加上鍍膜 itg"dGDk  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 `5"3Cj"M  
    這裡我們在 GB;_!69I  
    物件6的Face 2以及 x&"P^gh)  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 wEN[o18{  
    CNhLp#  
    3w"_Onwk  
    i|xz  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 bnPhhsR  
    ,gM:s}l!dJ  
    dpX Fx"4A  
    IM,4Si2  
    <;uM/vS i  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) oX'@,(6)  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? fsWIz1K  
    awjAv8tPO!  
    VDxF%!h(  
    P]OUzI,  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 m&z(2yb1  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 ~N7;. 3 7  
    0F.S[!I  
    URt+MTU[  
    ; ), ,Hk  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 r'lANl-v  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 YK5(oKFN  
    ZE= Yn~XM  
    /5Vv5d/Z4!  
    5:#|Op N  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 (_6JQn  
    id" l"  
    jQ7-M4qO/  
    a5/Dz&>j6  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 l?YO!$  
    NciIqF  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 >yVp1Se  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 Do5.  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 0c8_&  
    EziGkbpd@  
    U0iV E+)Bt  
    P,xJVo\  
    M*C1QQf\N  
    qJ<l$Ig  
    進階路徑分析 n)z:C{  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 b'z\|jY  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 YU!s;h  
    E@#<p-@~  
    wh2E$b(-  
    tkkh<5{C   
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 4tx6h<L#s  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 CS5[E-%}T=  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 OVc)PMp  
     ls7P$qq  
    }' s W[?ik  
    N9y+P sh  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 "WO0 rh`  
    %Pj}  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 Zb|a\z8?  
    ,nGQVb   
    >"|t*k S  
    pd & HC  
    <`NsX 6t  
    j)Kd'Va  
    U0srwt97S  
    B@VAXmCaoV  
    %DA`.Z9 #  
    0 0|!g"E>$  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
    离线yinge丶
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜