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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core hF&}lPVtv  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 |Wj;QO$C  
    34|a:5c  
    ?HHzQ4w%{  
    pz doqAVI  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 EqM;LgE=  
    #< CIFVH  
    ;Pb8YvG1$  
    `^U&#K  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 hh.Q\qhubB  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” ZYtiMBJ  
    >E"9*:.^a  
    sY;lt.b  
    ?q91:H   
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 ?n'O Fpd  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 tjv\)Nn'  
    .gYt0raSY  
    `EMi0hm&H  
    mgkyC5)d  
    M2T|"Q"=  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 6/mF2&&g  
    eXy"^x p^  
    Qu~*46?0  
    ms~8QL  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 :mv`\  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 ;rBp1[qVe  
    ( v#pj8aE  
    N?23 m`3  
    [6g O  
    =l`OHTg  
    hG Apuy  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 E8/rZ~0O~  
    &2.+I go|G  
    Rrqg[F+  
    OV5e#AOy)  
    Runsheet p#H]\ P'  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 vD=%`G[m  
    j Selop>N  
    }e=e",eAT  
    T{ -2fp8r[  
    Function i7eI=f-Q  
    J_  V,XO  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 |Cf mcz(56  
    am:.NG+  
    W(@>?$&  
    &(O06QL  
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