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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core Jf|J":S  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 elJLTG  
    zo7Hm]W`  
    oZmni9*SD  
    S$=])^dur  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 &`Z>zT}  
    i?A4uyYwS  
    Hb#8?{  
    R}#?A%,*  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 V'mQ {[{R  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” mKvk6OC  
    3*/y<Z'H  
    $eCxpb..  
    f}Mc2PQ-  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 (VI4kRj  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 Zyu4!  
    38 tRb"3zP  
    dArg'Dc4  
    G9 ;X=c  
    E"b+Q  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 pyq~_ Bng  
    "S,,BjL  
    ol^OvG:TQ  
    ^{DXin 1O`  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 _<+!  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 N41)?-7F  
    P bj&l0C  
    jav7V"$  
    ==RYf*d  
    }:])1!a  
    5hr$tkk L  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 nVoL7ew+  
    `%ZM(9T  
    F *=>=  
    i/6(~v  
    Runsheet _s[ohMlh  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 -lQ8 &eB  
    @>}!g9c  
    Q_$aiE  
    bX Q*d_]WT  
    Function \uQ yp*P1s  
    p9 <XaJ}   
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 Sb+^~M  
    J /mLmSx  
    *39Y1+=)$$  
    @SjISZw_  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 g`i?]6c}jt  
    <U%4$83$  
    讯技光电科技(上海)有限公司 i882r=TE3  
    电话:86-21-64860708 RP9#P&Qk  
    传真:86-21-64860709 I<L  
    课程:course@infotek.com.cn _ I"}3*  
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    技术:support@infotek.com.cn 0/5 a3-3{  
     
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