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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core z6B#F<h  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 2cIbX  
    T2rBH]5  
    l.g.O>1   
    Y}2Sr-@u  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 zv/dj04>  
    a(?)r[=  
    z'1%%.r;FM  
    *2vp2xMA@  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 W,80deT  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” 1+7_L`SB  
    B@dCCKc%/  
    ;&}z L.!jo  
    LCj3{>{/=  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 +|X`cmnuU  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 &!WRa@x0I  
    H-u SdT  
    -Edy ~;_  
    (5th   
    )Qe]!$tqfD  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 EN/t5d  
    IDos4nM27]  
    T!41[vm(  
    m`q&[:  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 52#6uBe  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 Qhc; Zl  
    <~w3[i=  
    Q/4ICgo4  
    M&faa7  
    I"3C/ pU2  
    "sDs[Lcq  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 k%O3\q  
    a:HN#P)12  
    Y[R>?w  
    ]W2#8:i  
    Runsheet z^&$6c_  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 I"lzOD; eI  
    5}]+|d;  
    @>~\So|  
    Qyx~={ .C~  
    Function tH *|  
    !V/\_P!I  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 VX8CEO  
    |Z2"pV  
    yx4pQL7  
    &zEBfr  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 2@z.ory.  
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    讯技光电科技(上海)有限公司 CqZHs 9+e&  
    电话:86-21-64860708 yOKzw~;0%  
    传真:86-21-64860709 [v*q%Mi_  
    课程:course@infotek.com.cn 0}`-vOLd-  
    业务:sales@infotek.com.cn Mb\(52`)Q  
    技术:support@infotek.com.cn m9:ah<  
     
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