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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core kO^  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 tRc 3<>  
    imwn)]LR  
    ZJGIib  
    7KRNTnd  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 veh=^K%G |  
    9"1=um=  
    oz:J.<j24Z  
    <?8cVLW} O  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 C'l\4ij)7  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” %Gu=Dkz  
    GpO@1 C/  
    wV$V X  
    23p.g5hJi  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 Gb Mu;CA  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 W0U|XX!&  
    em^2\*sxpA  
    Ssa/;O2  
    n Zx^ej\  
    uF|[MWcy0#  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 1ATH$x  
    e*Nm[*@UW  
    q4"^G:  
    (lYC2i_b#  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 ji ,`?  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 A"+t[0$.  
    T_)+l)  
    cY~lDLyB  
    )0;O<G] d  
    FEa%wS{  
    lu1T+@t  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 Ja\B%f  
    _A]~`/0;`  
    =5%}CbUU)4  
    /~<Przw  
    Runsheet g8"{smP/  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 t `\l+L  
    ,0>_(5  
    _J3\e%ys  
    ;Oqbfl#%  
    Function V+*1?5w  
    2@ZuH^qhk  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 >6;RTN/P2  
    F20%r 0  
    E/ku VZX  
    {`L,F  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 SS,'mv  
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    讯技光电科技(上海)有限公司 *qIns/@  
    电话:86-21-64860708 9 &Od7Cn  
    传真:86-21-64860709 mA3yM#  
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