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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core *BF1 Sso  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 a E#s#Kv   
    dx~F [  
    f5O*Njl  
    )Ev [o#y  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 OtC/)sX  
    aWit^dp  
    k<St:X%.O  
    :]]amziP&  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 tkd2AMkh!  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” f>RPh bq|  
    oc15!M3$  
    I*0 W\Qz@  
    v"s}7trWV  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 10a=[\ Q  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 b)df V=  
    \^_F>M  
    <|.M]]}j  
    "=Ziy4V  
    d+/d)cu  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 }e82e  
    \Oc3rJ(  
    O /GD[9$i  
    jx-W$@  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 _)p%  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 =EIsqk^*  
    &^z~wJ,]  
    r<"1$K~Ka  
    \ii^F?+b  
    uD+;5S]us  
    /+3|tb  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 JNZKzyJ9K  
    ;KnnAZJ  
    =LuA [g  
    %T 88K}?=  
    Runsheet -]N/P{=L  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 9<xe%V=ki  
    1tD4 I  
    hLBX,r)u  
    H1q>UU:  
    Function thkL<  
     vH` u  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 5 1 L:%Af  
    ^D\#*pIO  
    G66vzwO   
    mvYr"6f8  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 ]2v31'  
    Ii;~ xc  
    讯技光电科技(上海)有限公司 n#m )]YQC  
    电话:86-21-64860708 `m3C\\9;  
    传真:86-21-64860709 Vj`9j. 5  
    课程:course@infotek.com.cn @!K)(B;A0b  
    业务:sales@infotek.com.cn )82x)c<e  
    技术:support@infotek.com.cn dGZVWEaPfx  
     
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