该案例介绍了一个正弦光栅的仿真,该光栅表面具有随机变化的粗糙度结构。此外,分析了对衍射级次的影响,特别是衍射效率。 ?=M?v;8
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1. 建模任务 kaekH*m~
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一个正弦光栅不同衍射级次的严格分析和优化。 e9KD mX_
对于该仿真,采用傅里叶模态法。 Yu3S3aRE
c]ARgrH-
2. 建模任务:正弦光栅 NgGMsE\C}
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x-z方向(截面视图) dn-
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光栅参数: pVy=rS-
周期:0.908um TsaQR2J@
高度:1.15um vNGE]+QX
(这些参数提供了一个具有均匀分布传输效率0级和±1级衍射级次,详见案例341) ,O5X80'.g
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3. 建模任务 |g 3:+&
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VirtualLab光栅工具箱提供的光栅级次分析器,可对光栅衍射效率进行严格的计算。 w_56y8Pd4
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利用该分析器,也可以分别计算出现的每个衍射级次的衍射效率。 AYA{_^#+3
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4. 光滑结构的分析 E?XaU~cpc
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计算衍射效率后,结果可在级次采集图中显示。 rY_~(?XS
对于光滑结构,参数平稳,0级和±1衍射级次的传输效率大约为32% +H2Jhgi
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5. 增加一个粗糙表面 w==BSH[
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VirtualLab光栅工具箱可将两个界面进行组合(如添加)。 a+^`+p/5
因此任意光栅形状(如正弦光栅)可以与粗糙表面组合,形成粗糙光栅面型。 iNA3Y
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该粗糙面有可通过几个选项来实现表面的变化(如周期化)。 ebk>e*
第一个重要的物理参数称为”最小特征尺寸”。 IK2da@V
第二个重要的物理参数是定义”总调制高度”。 )5Khl"6!z
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6. 对衍射级次效率的影响 D|LO!,=b
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粗糙度参数: 2Xt4Rqk $
最小特征尺寸:20nm )O1]|r7v
总的调制高度:200nm A5XMA|2_
高度轮廓 ?,vLRq.
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效率 \H] |5fp*
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粗糙表面对效率仅有微弱的影响 a1cX+{W
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粗糙度参数: 最小特征尺寸:20nm oPSPb(.
总调制高度:400nm 高度轮廓 ;.>*O
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效率 MpCPY"WLL
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由于粗糙表面的总调制高度变大,±1级衍射效率发生轻微不对称。 6>vR5pn
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粗糙度参数: #dauXUKH
最小特征尺寸:40nm 7H6Ts8^S
总调制高度:200nm
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高度轮廓 4>gfLK\R:
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更大的”最小特征尺寸”降低了0级衍射的透射效率。 }LUvh
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粗糙度参数: ?WI v4
最小特征尺寸:40nm q*hn5 K*
全高度调制:400nm W5|{A])N
高度轮廓 t~+M>Fjm?d
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效率 V6g*"e/8
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对于较粗糙的表面,0级衍射效率大幅降低,而且±1级衍射效率的不对称性增大。 <5zR-UA>
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7. 总结 _J,**AZ~z
VirtualLab的光栅工具箱可对任意形状光栅结构进行严格分析(如包含一个附加粗糙面的正弦光栅)。 4 9qa
对于这种类型的分析,VirtualLab中采用全矢量傅里叶模态法。 l)u%`Hcn
光栅级次分析器能够计算全部或特定衍射级次的衍射效率。 mv9D{_,pD
利用VirtualLab光栅工具箱,光栅表面的粗糙度可被加以考虑。因此,由于加工引起的结构差异产生的影响可被估算。 }z]d]
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