该案例介绍了一个正弦光栅的仿真,该光栅表面具有随机变化的粗糙度结构。此外,分析了对衍射级次的影响,特别是衍射效率。 3q<\
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1. 建模任务 t+ Fm?
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一个正弦光栅不同衍射级次的严格分析和优化。 8j8FQ!M
对于该仿真,采用傅里叶模态法。 MLaH("aen
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2. 建模任务:正弦光栅 O7:JG[tR*
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x-z方向(截面视图) 7LKNEll
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光栅参数: /O+,vRw\A
周期:0.908um ,D>$N3;
高度:1.15um Hb IRE
(这些参数提供了一个具有均匀分布传输效率0级和±1级衍射级次,详见案例341) 7+=fD|Cl
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3. 建模任务 H<g-
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VirtualLab光栅工具箱提供的光栅级次分析器,可对光栅衍射效率进行严格的计算。 ABB4(_3E
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利用该分析器,也可以分别计算出现的每个衍射级次的衍射效率。 <SbW
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4. 光滑结构的分析 A)&OR]0[
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计算衍射效率后,结果可在级次采集图中显示。 2t*@P"e!
对于光滑结构,参数平稳,0级和±1衍射级次的传输效率大约为32% T)qD}hl
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5. 增加一个粗糙表面 PJsiT4<
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VirtualLab光栅工具箱可将两个界面进行组合(如添加)。 F2:?lmhL<
因此任意光栅形状(如正弦光栅)可以与粗糙表面组合,形成粗糙光栅面型。 AMGb6enl
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该粗糙面有可通过几个选项来实现表面的变化(如周期化)。 _ ^r KOd
第一个重要的物理参数称为”最小特征尺寸”。 )E'iC
第二个重要的物理参数是定义”总调制高度”。 "(>P=
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6. 对衍射级次效率的影响 cF7I
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粗糙度参数: !Y8us"
最小特征尺寸:20nm PTXy:>]M
总的调制高度:200nm a=+qR:wT
高度轮廓 }E+#*R3auB
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效率 PF+v[h;,
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粗糙表面对效率仅有微弱的影响 K!VIY|U
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粗糙度参数: 最小特征尺寸:20nm :,X,!0pWRp
总调制高度:400nm 高度轮廓 bwR24>8lP
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效率 ~ pWbD~aeg
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由于粗糙表面的总调制高度变大,±1级衍射效率发生轻微不对称。 m_LW<'
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粗糙度参数: dh#4/Wa,
最小特征尺寸:40nm l8/ tR
总调制高度:200nm {{7%z4l
高度轮廓 eLXG _Qb"
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效率 ^AS*X2y
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更大的”最小特征尺寸”降低了0级衍射的透射效率。 mojD
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粗糙度参数: # Y/.%ch.
最小特征尺寸:40nm P~$FgAV
全高度调制:400nm MQ>.^]B]o
高度轮廓 yNMnByg3?
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效率 m`l3@Z
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对于较粗糙的表面,0级衍射效率大幅降低,而且±1级衍射效率的不对称性增大。 6UOV,`:m+
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7. 总结 3)ac
VirtualLab的光栅工具箱可对任意形状光栅结构进行严格分析(如包含一个附加粗糙面的正弦光栅)。 G66A]FIg
对于这种类型的分析,VirtualLab中采用全矢量傅里叶模态法。 jsL\{I^>
光栅级次分析器能够计算全部或特定衍射级次的衍射效率。 ij&_>
利用VirtualLab光栅工具箱,光栅表面的粗糙度可被加以考虑。因此,由于加工引起的结构差异产生的影响可被估算。 HO%atE$>
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