该案例介绍了一个正弦光栅的仿真,该光栅表面具有随机变化的粗糙度结构。此外,分析了对衍射级次的影响,特别是衍射效率。 )oqNQ'yZ
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1. 建模任务 u}I-#j)wap
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一个正弦光栅不同衍射级次的严格分析和优化。 uuHg=8(
对于该仿真,采用傅里叶模态法。 +4L]Z;k
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2. 建模任务:正弦光栅 mIW8K
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x-z方向(截面视图) (\8IgQ{
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光栅参数: l4Au{%j\
周期:0.908um M./1.k&@
高度:1.15um Ei>.eXUD5
(这些参数提供了一个具有均匀分布传输效率0级和±1级衍射级次,详见案例341) ,GeW_!Q[
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3. 建模任务 r+=%Ag
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VirtualLab光栅工具箱提供的光栅级次分析器,可对光栅衍射效率进行严格的计算。 xAwP
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利用该分析器,也可以分别计算出现的每个衍射级次的衍射效率。 G*s5GG@Z.
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4. 光滑结构的分析 d9iVuw0u<
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计算衍射效率后,结果可在级次采集图中显示。 >//yvkZ9,
对于光滑结构,参数平稳,0级和±1衍射级次的传输效率大约为32% = }ELu@\V[
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5. 增加一个粗糙表面 9y'To JZ6
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VirtualLab光栅工具箱可将两个界面进行组合(如添加)。 A&N$=9.N1
因此任意光栅形状(如正弦光栅)可以与粗糙表面组合,形成粗糙光栅面型。 B#]:1:Qn
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该粗糙面有可通过几个选项来实现表面的变化(如周期化)。 &( ZEs c
第一个重要的物理参数称为”最小特征尺寸”。 qWU59:d^{
第二个重要的物理参数是定义”总调制高度”。 :jAsm[
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6. 对衍射级次效率的影响 (fYYcpd,k
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粗糙度参数: TH"<6*f2L
最小特征尺寸:20nm L)i6UAo
总的调制高度:200nm V~_6t{L
高度轮廓 H 'IxB[
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粗糙表面对效率仅有微弱的影响 *:%I|5
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粗糙度参数: 最小特征尺寸:20nm EK Ac>g
总调制高度:400nm 高度轮廓 y1h3Ch>Y
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由于粗糙表面的总调制高度变大,±1级衍射效率发生轻微不对称。 +W/{UddeKU
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粗糙度参数: B1j^qoC.5
最小特征尺寸:40nm _aU
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总调制高度:200nm Y=i_2R2e2
高度轮廓 ewdcAF5
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效率 sC ?e%B
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更大的”最小特征尺寸”降低了0级衍射的透射效率。 cR&d=+R&
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粗糙度参数: u`XZtF<vf
最小特征尺寸:40nm >_# A*B|
全高度调制:400nm <vzU}JA\
高度轮廓 7CCSG{k
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对于较粗糙的表面,0级衍射效率大幅降低,而且±1级衍射效率的不对称性增大。 MM~4D
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7. 总结 #bb$Icmtk
VirtualLab的光栅工具箱可对任意形状光栅结构进行严格分析(如包含一个附加粗糙面的正弦光栅)。 'N&s$XB,
对于这种类型的分析,VirtualLab中采用全矢量傅里叶模态法。 BA9;=orx
光栅级次分析器能够计算全部或特定衍射级次的衍射效率。 lrgvY>E0
利用VirtualLab光栅工具箱,光栅表面的粗糙度可被加以考虑。因此,由于加工引起的结构差异产生的影响可被估算。 }5d|y*
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