X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 @f'AWeJ2  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 lMPbLF%_  
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技术参数 6!
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波长范围 !j'guT&9]	5-20 rr6"Y&v	10-60 33S`aJ	25-80 2f /bEpi
光源距离（m） w7[ 0	JG1 LS$p^	0.4-0.6 f(W,m >.;	0.5-1.5 <C2c"=b
平场尺寸（mm） %hrsE5k^,	25.4 gB'`I(q5.	50 A` oa|k!U	50 EzwF`3RjK
色散(nm/mm) cbY3mSfn*	0.5-0.7 <4SF~i	0.7-1.1 `_6@3-%	0.9-1.3 ZlUFJ*pk
光谱分辨率（nm） IrUpExJ	0.06 g8B&u u #	0.09 <:H	0.11 FkLQBpp(x
_p?I{1O	!k ;[^>	6NP`P jR	XWJ0=t&}
升级波长范围 E%KC'TN^D	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅)  :^C#-O
探测器选择 iOE9FW|e	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 lb=2*dFJ1
光栅台 4j2~"K	电控 !;6W!%t.|
工作环境 D]3bwoFo&u	<10-6mbar h:eN>yW
操作性 *(>F'>F1"	极易安装使用，用户自己即可安装使用 Ji)%Y5F

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技术优势介绍： }C9VTJs|  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 ]M02>=1  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 |Sy}d[VKsZ  
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-平场成像技术 Z%(Df3~gmm  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 BIwgl@t!>  
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紧凑/模块化 m(Pz7U.Q  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） :C}KI)  
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结实耐用无需准直 -sruxF  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 >&4I.nA  
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- 定制化 [0( E>vm  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 Ai
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这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 O#<|[Dzw  
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典型客户： vgd}09y  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) fbW,0  
   
2. < >Los Alamos 5+#?7J1  
   
3. Max Planck Institute

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