Intelliwave，是一种功能强大的干涉图形攫取和分析的一套软件，通常用于量测许多表面（材料）的外形。 u&E$(
WDF;`o*3
Intelliwave 干涉条纹分析仿真软件 KUE}^/%z
"p" M9P'
Intelliwave是一种功能强大的干涉图形攫取和分析的一套软件，通常用于量测许多表面（材料）的外形（或是其他特性），包括镜子、透镜、半导体芯片、和其它许多反射或不反射的表面。为了推断镜片表面外形，Intelliwave需要制造一个光学相位差来获得干涉图形，因为干涉条纹图是干涉仪中的测试光及参考光的光程差而形成，藉着干涉图形的处理，主要在于鉴定待测光学仪器的表面外型。Intelliwave 结合了攫取、输入、分析、以及许多实际干涉图形文档等等特性，更提供了强大、快速、灵活性、容易使用、还有广泛数据信息的优点。 \n zaF4+$
E! s?amM4
Intelliwave 应用的领域： ?=FRn pU?
;^"#3_7T]
高功率激光的外型和反射特性的量测 KAFx^JLo
b Td94
极温度（ Extreme Temperature）的应用 ]di^H>,xU
o-}q|tD$<
天文上的应用 : 天文镜片、天文望远镜 ; *ZiH%q,
= >0 G
光学量测 <@](uWu
,q".d =6
对于非球状光学结构有高分辨率 N E/ _
4b@ Awtk
在半导体上的应用 Y CBcyE}p
8q" C=t7
全像摄影 -#y^$$i0
#;lB5) oe
光学纟统的动态控制 [
U`})
Y+ Qm.
Cutting Edge Research and Development d%(4s~y
P.t0o~hoK;
Mom and Pop Application vNn $dc
k@Q >(`
Intelliwave 功能说明： QqdVN3# 1z
I;5:jT `
硬件独立 9x]yu6
Ij_h #f
Intelliwave可以对许多种类的光源的干涉图形作处理，包括摄影机、扫描仪，对于一般图象文件和工业科学的文件系统也可适用，因为Intelliwave的硬件独立性，它可以利用不同形式的干涉仪攫取和分析任何波长的干涉图形，这些干涉仪包括了Twyman-Green、Michelson、Fizeau、simultaneous Phase Shifting和Holographic Speckle interferometers。 hLo>jE
时间（Temporal）和空间（Spatial）的相位测量干涉仪 v-MrurQ4
U 6`E\?d`
相位测量干涉仪（ PMI ）可以直接量测波前相位的测试光及参考光光程差， Intelliwave 有支持 PMI ，并且利用干涉仪量测波前相位，这在现今的技术中应用的很广泛。相位测量干涉仪可以分成两个部分： 多个连续相移的干涉图及单一干涉图， 第一个部分使用方法最著名的是 TPMI ；第二个部分使用方法最著名的是 SPMI ，而 Intelliwave 有支持这些方法。 !]l !I9
bpaS(n By
Fringe Tracing p+y2w {{
_yu_Ev}R
Fringe Tracing是将单一的干涉条纹图最大以及最小的轮廓把它描绘出来，并分配轮廓级别于每一边缘（ fringe ），而根据轮廓线使用差补法去生成surface map 。 abczW[ \
"b6e w2\
分析特性 Od? b(bE.]
';J><z{>
Intelliwave提供一套完整的分析工具，包括统计信息、像差、绕射分析、图象加工、以及 几何图象转换。 它支持了多样化干涉图形的处理技术，也可把干涉图转换成光学相位差(OPD)或表面图（surface map），Intelliwave还具有处理实时信息及对有杂讯的信息作有效处理。 p( 6!7t:
uupfL >h
自动化和质量监控
VM"z6@
<], ~V \m
Intelliwave具有更强大的自动化及品管功能，有自动反覆测量或自动化分析的功能。此外，所有参数可以作统计且可针对使用者需要做像差的自动质量测试。?lug-In Architecture and ActiveX interfaces使用者可以自己制作程序和Intelliwave作连结，许多ActiveX软件已经可以跟Intelliwave作连结，包括了：LabVIEW、Research Systems IDL、Math Work、 Matlab和Microsoft Excel，透过这些软件的相互连紧，干涉仪信息可以在这些程序中作双项的转换。
