射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 le1  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 j} ^?3<
 
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技术参数 ,e\'Y!'  

波长范围 *@6,Sr)_	5-20 f5p>oXo4b	10-60 :^~I@)"ov	25-80 #6O<!{PH6
光源距离（m） K,f*}1$qM	.f)&;Af^	0.4-0.6 t"[xx_i	0.5-1.5 LLE\;,bv
平场尺寸（mm） LLp/ SWe	25.4 D; xRgHn	50 <Uj~S	50 =[]V$<G'w{
色散(nm/mm) -Zs.4@GH	0.5-0.7 zJC!MeN	0.7-1.1 O |45r	0.9-1.3 \*] l'>x1
光谱分辨率（nm） )IN!CmpN	0.06 Zj,1)ii	0.09  45g:q	0.11 ~<[$.8*
@~t^zI1	ZBw]H'sT	(9gL	2% ],0,o
升级波长范围 9g%1^$R	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) ybsQ[9_36
探测器选择 z?T;2/_7	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 (>~:1
光栅台 tOUpK20q.@	电控 K&T[F!
工作环境 }le}Vuy\s	<10-6mbar 1!N|a< #
操作性 S 87E$k	极易安装使用，用户自己即可安装使用 B49: R>

• \gz(C`4{j  
技术优势介绍： clhmpu  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 n1yIQ8F  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 {owXyQ2mK  
An0DqjR  
-平场成像技术 AkMP)\Q  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 80(Olf@PE  
Ax"]+pb  
紧凑/模块化 ^"lVTDsU  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） QMO.Bnek  
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结实耐用无需准直 =&%}p[ 3g  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 n 0/<m.  
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- 定制化 Gm`#0)VC  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 6&8uLM(z  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 D*T*of G  
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典型客户： u
U
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1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) /RG
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2. Los Alamos oz.#+t%X$b  
   
3. Max Planck Institute 7uUo DM  
   

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