射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 QcpXn4/*  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 H<3I 5Kgt  
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技术参数 .?l\g-;=  

波长范围 ^_m9KA	5-20 tToTxf~	10-60 @9"J|}	25-80 ~ yX2\i"
光源距离（m） L`24?Y{	^#sU*trr	0.4-0.6 )P+7PhE{J	0.5-1.5 8-O)Xx}cU
平场尺寸（mm） Y0X-Zqk'	25.4 r9dyA5oD	50 rOVVL%@QqJ	50 Bi{$@n&?f
色散(nm/mm) ,I,\ml	0.5-0.7 p3^m9J	0.7-1.1 B $mX3B +a	0.9-1.3 /Sh#_\x
光谱分辨率（nm） yNTK .	0.06 [W7CXZDd	0.09 rh^mJUh	0.11 j*vYBGD
gN"7be&J	T~='5iy|	a0#J9O_	hyFyP\u]
升级波长范围 c??mL4$'N	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) :*KHx|Q
探测器选择 2=^m9%	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 ^cuc.g)c$?
光栅台 =z /dcC$r	电控 &mx)~J^m
工作环境 <q@a~'Ai?!	<10-6mbar PAM}*'
操作性 7yh/BZ1	极易安装使用，用户自己即可安装使用 c.e2M/

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技术优势介绍： %B.yW`,X  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 J G{3EWXR  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 _BP&n  
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-平场成像技术 rQ qW_t%  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 Ug<#
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紧凑/模块化 ?snp8W-WB  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） Zo~  
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结实耐用无需准直 jJPGrkr  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 fd.^h*'mU  
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- 定制化 /PSd9N*=y  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 JVSA&c%3  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 Y<%@s}zc  
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典型客户： }xh$T'M8  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) yL-YzF2  
   
2. Los Alamos Yz+
   ZY  
   
3. Max Planck Institute #;2n;.a  
   

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