粗糙度测量仪P3

发布:universalpei 2014-05-20 14:35 阅读:1434
产品简介: ++"PPbOe&D  
P3型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,符合国际标准ISO25178,用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等任意样品,不收材料形状及颜色的限制。 JhIK$Ti  
产品特性: a`Z f_;$@  
1.    测量具有非破坏性:采用白光共聚焦技术,可获得纳米级分辨率 yv4PK*  
2.    测量范围大:15mm×15mm,无需进行图像拼接 hAyPaS#  
3.    可测样品的最大坡度:87oC :K:gyVrC  
4.    测量范围广:可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗糙样品 }h6z&:qA[?  
5.    不受环境光的影响 L]<4{8H.  
6.    不受样品反射率与形状的影响 xR`2+t&t  
7.    操作简单:样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪 26K~m@  
主要技术参数 k"{U}Y/}  
1,扫描范围:1×1,2×2,3×3,4×4,5×5,10×10,15×15(mm) {?hjx+v[  
2, 扫描步长:1×1,2×2,5×5(μm) cpnwx1q@  
3, Z方向测量范围:300μm %WN2 xCSf  
4, Z方向测量分辨率:8nm hz<J8'U  
5, Z方向测量精度:60nm ]!:Y]VYN)\  
6,横向光学分辨率:2.6μm We?:DM [  
产品应用: ZE` {J =,  
MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发 X&Lt?e,&  
&[5az/Hj*  
联系人:刘蕊             联系方式:010-53203403       a"aV&t  
       13933947304 K_n%`5  
15652958313 j3&*wU_  
网址:www.mnt-china.cn     微纳(香港)科技有限公司
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