粗糙度测量仪P3

产品简介： twJ|Jmd  
P3型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，符合国际标准ISO25178，用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等任意样品，不收材料形状及颜色的限制。 
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产品特性: q!9v}R3(  
1.    测量具有非破坏性：采用白光共聚焦技术，可获得纳米级分辨率 &d|VH y+  
2.    测量范围大：15mm×15mm，无需进行图像拼接 {TxVRpiP{Z  
3.    可测样品的最大坡度：87oC w7*b}D@65\  
4.    测量范围广：可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗糙样品 ^
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5.    不受环境光的影响 u`H@Q&(^wa  
6.    不受样品反射率与形状的影响 .xc/2:m9  
7.    操作简单：样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪 ~XT a=
 
主要技术参数： P20]>Hg  
1，扫描范围：1×1，2×2，3×3，4×4，5×5，10×10，15×15（mm） ^1FZ`2u;  
2， 扫描步长：1×1，2×2，5×5（μm） /NN[gz  
3， Z方向测量范围：300μm MIXrLh3  
4， Z方向测量分辨率：8nm ptcH>wM!  
5， Z方向测量精度：60nm *O}'2Ht6\  
6，横向光学分辨率：2.6μm tx&U"]  
产品应用： JjTzq2'%  
MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发
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联系人:刘蕊             联系方式：010-53203403       <"|<)BGeI  
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网址：www.mnt-china.cn     微纳（香港）科技有限公司