光学表面瑕疵（光洁度）检验权威

发布：janeoptic 2014-04-29 09:02 阅读：2131

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SIF.rar (360 K) 下载次数:20

大家好，今天向大家推荐一款光学表面瑕疵的权威检测设备。
SavvyInspectorTM SIF-4 是美国savvy 光学公司针对工厂车间开发的一款光学表面划痕/麻点检验系统。结合专门的分析软件及照明装置来对平面光学表面的划痕/麻点情况进行客观检测，打破了长久以来靠人眼观察光学表面瑕疵的传统，消除了人为判断的主观性。使得该系统在划痕/麻点检验过程中，具有客观、重复性高、数据可记录等优点。
产品应用：
光学表面瑕疵（划痕/麻点）检测

产品特点

l 支持美国军标MIL-PRF-13830B、 MIL-C-675C、美国国家标准ANSI/OEOSCOP1.002:2009Visibility Method。

2  样品要求：镀膜或非镀膜元件，平面或大曲率凹面。
3  检测报告值：划痕数-10,20,40,60,80麻点值-从5到70，同时还可测量划痕长度。
4  在检测区域内，软件自动读取数据，判断划痕/麻点情况。
产品优势
l  可客观、高重复评估光学表面瑕疵，消除人为检测的主观性。
2  针对工厂车间设计，样品易放，实时检测
3.数据可记录为文件和图像

SavvyInspector^TM检测的基本原理

采用环形光源照明被测件（不用旋转样品），光束经过被测件反射之后，回到相机中成像。
产品参数

品名	规格参数	说明
检测模块	用于表面检测的照明器和接收探测器，按照 MIL-PRF-13830B 中反射式检测方法。
相机视场	9x12mm,数字变焦	可对缺陷快速定位
检测区域	在中心视场，1mm²	可观察指定区域的缺陷
样品台	带有编码的手动X-Y位移台，行程100mm	根据鼠标移动可快速读出划痕长度
夹持工具	夹持10 -80mm的正方形或圆形的样品	可客户定制
样品反射率	镀膜或非镀膜元件，滤光片、窗片、分光镜、立方体和棱镜
样品面型	平面或轻度凹面	长曲率的凹面可测
检测报告值	划痕数-10,20,40,60,80 麻点值-从5到70
对比标准	与Brysen Optical、Davidson的标准及其它的塑料检验样板进行过校准	客户可根据需要自己产生标准文件
重复性	>95%	对同一样品在同一环境中进行20次测量
再现性	>90%	样品移动，重新定位测量，如此重复20次

[ 此帖被janeoptic在2014-04-29 10:43重新编辑 ]

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