世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek

世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品，厂商：美国SCI 公司 jp' K%P  
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可测参数： m0{!hF[^  
1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um) ~:km]?lz0  
2）反射率R和透射率T a?YCn!  
3）折射率n和吸收系数k m
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4）能带间隙 U:F/iXz  
5）表面粗糙度和损伤度 #0 6-:  
6）成份和结晶程度 bxK(9.  
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适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。 c#N<"cy>  
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联系方式：中电网EMD(半导体设备与材料部) 上海办 5X.e*;  
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emdservice@chinaecnet.com 和电话021-61021225