[讨论]光控镀膜时，光控片及监控波长的使用方法 [复制链接]

我们一般是两层（我是新柯隆的） o\><e1P   E3==gYCe*  
先镀高折射率，再镀低折射率。 wKpb%3   :^[HDI-[2  
另外，监控波长的选择也很有讲究， - q(a~Ge   W]U},g8Z  
最好是过波峰后下行20%以上。这样控制最准确。 ShlTMTgS   TE!+G\@  
T.')XKP)1N   b w2KD7  
如果第一层镀低折射率，会影响准确度。

各位大神 yl'@p5n  
宽波段时（近红外）监控波长如何设定

长江:我们一般是两层,光驰机器，先高折射 率，后低折射率 (2016-09-10 20:24)  K275{ydN  

i] I{7k  
同是光驰机，也是监控两层

我们一般控制一个光控点控制两层，高折射率一层，低折射率一层 UrRYK-g  

回头比例一般控制在5~95%

ouyuu:我们一般是两层（我是新柯隆的） vFK!LeF%  
先镀高折射率，再镀低折射率。 \ocC'FmE  
另外，监控波长的选择也很有讲究， Z9UNp[0  
最好是过波峰后下行20%以上。这样控制最准确。
....... (2014-04-04 15:06)  l-q.VY2  

z<u@::  
为什么第一层镀折射率会影响精准度?

第一层低折射率，常常为二氧化硅，因为其折射率跟监控片接近，光量变化不大，光控不容易判断准确。 ~c|{PZ9U  
第一层用二氧化硅还是很普遍的，也有优点。 to3D#9Ep  

dcfcwdx:为什么第一层镀折射率会影响精准度?[表情] (2018-09-02 12:00)  9UeK}Rl^n  

b+ J)  
膜林的专家已经讲的很清楚了。 Mwd(?o  
因为光控片的折射率和SIO2接近，直接在光控片上镀SIO2光量变化很小， oN " /w~  
放大后的光控波形上能看到有很多毛刺，这会影响光控电脑判断PEAK和截止点的精确度。 pm}!?TL  
先镀高折再镀低折则能避免这种情况。 aC=D_JJ
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cQldBc  
k-a3oLCR,  
l*z.20^P  

我司是用光馳 {expx<+4F  
 ]7yr.4?a  
一個監控點=控制兩層(高、低折射率) m'P,:S)=  
CDTM<0`%  
高折射 start set 20 ；低折射 start set 80 1y($h<  
amH..D7_>  
選擇監控波長，我會選過一轉折點後的30%左右。 0O:')R&  
Xv'5%o^i*  
另外注意的是 還要配合一開始校正光源的頻譜圖，避開一些不好的監控點

看评论有很大帮助，不然一头雾水