[讨论]光控镀膜时，光控片及监控波长的使用方法 [复制链接]

我们一般是两层（我是新柯隆的） o\><e1P   ;=1[D  
先镀高折射率，再镀低折射率。 wKpb%3   I!Mkss xc  
另外，监控波长的选择也很有讲究， - q(a~Ge   BqDsf5}jpA  
最好是过波峰后下行20%以上。这样控制最准确。 ShlTMTgS   oFT1d  
T.')XKP)1N   &|' NDcp  
如果第一层镀低折射率，会影响准确度。

各位大神 *SlWA)9Y  
宽波段时（近红外）监控波长如何设定

长江:我们一般是两层,光驰机器，先高折射 率，后低折射率 (2016-09-10 20:24)  MmFtG-  

LlVbY=EX7  
同是光驰机，也是监控两层

我们一般控制一个光控点控制两层，高折射率一层，低折射率一层 K}GRU)  

回头比例一般控制在5~95%

ouyuu:我们一般是两层（我是新柯隆的） AEElaq.B  
先镀高折射率，再镀低折射率。 +ef>ek  
另外，监控波长的选择也很有讲究， `~41>mM%  
最好是过波峰后下行20%以上。这样控制最准确。
....... (2014-04-04 15:06)  9-24c  

1rLxF{,  
为什么第一层镀折射率会影响精准度?

第一层低折射率，常常为二氧化硅，因为其折射率跟监控片接近，光量变化不大，光控不容易判断准确。 2+g'ul`  
第一层用二氧化硅还是很普遍的，也有优点。 W
 ,v0~  

dcfcwdx:为什么第一层镀折射率会影响精准度?[表情] (2018-09-02 12:00)  ZU2D.Kf_:  

>enP~uW[#  
膜林的专家已经讲的很清楚了。 Kq+vAp
).  
因为光控片的折射率和SIO2接近，直接在光控片上镀SIO2光量变化很小， ;<xPzf  
放大后的光控波形上能看到有很多毛刺，这会影响光控电脑判断PEAK和截止点的精确度。 IMpL+W.  
先镀高折再镀低折则能避免这种情况。 E33x)CP  
|W&K@g$  
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2vZqGO30  

我司是用光馳 =eh!eZ9  
.t{uzDM  
一個監控點=控制兩層(高、低折射率) :X7O4?ww  
s=z$;1C  
高折射 start set 20 ；低折射 start set 80 Q^?$2ck=  
JxM32?Rm*w  
選擇監控波長，我會選過一轉折點後的30%左右。 'gsO}xj  
A-$C6q  
另外注意的是 還要配合一開始校正光源的頻譜圖，避開一些不好的監控點

看评论有很大帮助，不然一头雾水