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要如何使用倾斜的detector看到不同周期的干涉条纹 k $M]3}$U
Z,`iO%W
这边有一个Michelson Interferometer, EJ@?h(O
K )[]fm
我试着调整DETECTOR的角度, 但它记录到的影像都一样, nJbtS#`G4
)S`jFQ1
照理来说调整DETECTOR角度的话干涉条文应该会一边粗一边细周期不一, uC.K<jD%
ekI2icD
但我这里无法看到, j0Bu-sO$w
"~E[)^ANxD
请问该如何处理呢,
zG+R5:
.id)VF-l
下面是程式 )X04K~6lY
vQ<90ZxqB
--------------------------------------------------------------- $4-$pL6"
SYSTEM NEW 0MV>"aV
RESET L{:9Cx!F
qNI,
62
UNITS CENTIMETERS dlU'2Cl7d
WAVELENGTH 632.8 NANOMETERS e'~Zo9`r6
m#ZO`W
WL=632.8E-7 +$X#q8j06
PI=4*ATAN(1) .7zK@6i
~jK{ ,$:=
COATING PROPERTIES )=\#UE+W
0.0 0.0 'ABSORB' "8'@3$>R=
0.0 1.0 'TRANSMIT' ]DZE%
1.0 0.0 'REFLECT' U;bK!&