《现代
光学测试技术》既注重基础理论和实用性,又注意选择了领域内有重要应用价值的光学测试新技术,其中不少的内容是作者多年来的研究成果,因而使内容既拓展了知识面,又呼应了现代光学测试技术的发展趋势,保持了教材的先进性。《现代光学测试技术》可作为相关专业的研究生教材,也可供相关工程技术人员作为设计光学测试
系统的参考
资料。
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uiIS4S_ &i?>mt r5S5;jL%t 目录
xC+TO 前言
R k@xv;t; 第一章现代光学测试技术综述
|KLCO'x 第一节研究领域及技术特征
j$Z:S~* 第二节现代光学测试技术的现状与应用
]:r6 第三节光学测试方法的选取原则
]KE"|}B 第四节现代光学测试技术的发展趋势
M|xs>+r* 参考文献
U[t/40W}P 第二章光具座上的综合检测
p? L*vcU 第一节测量中的对准技术与调焦技术
_/`H<@B_U 第二节光学测试装置的基本部件及其组合
E|v9khN(]. 第三节
焦距和顶焦距的测量
8Xjp5 参考文献
Yb;$z' 第三章光学
材料测试
c}r"O8M 第一节光学
玻璃材料概述
#cy;((z uB 第二节光学玻璃折射率测量
Th>ff)~e 第三节光学玻璃光学均匀性测量
tzV^.QWm 第四节光学玻璃应力双折射测量
\olYv!f 参考文献
S{#L7S 第四章基本的光干涉测量技术
;fGh]i 第一节干涉条纹的分析判读及波面质量评价
'sT7t&v~ 第二节几种典型的干涉仪
Y~[k_! 第三节波面错位干涉测量
pW4$$2S?9 第四节干涉图分析与波面拟合
%29lDd(< 第五节波像差及其测量
aT"0tn^LO 参考文献
I$HO[Z! 第五章
光电相位测量技术
AD^Q`7K?uR 第一节相位的静态测试技术
ATscP hk 第二节相位的动态测试技术
{~cM 6W]f 参考文献
3P2x%G p 第六章平面元件测试技术
vA&MJD{ 第一节平面元件基本量测量
ptMDhMVW 第二节平面光学元件面形偏差检测
'K*. ?M 第三节平面光学元件光学平行度测量
,A9_xdv5 参考文献
oo2CF!Xy 第七章球面元件测试技术
PEDV9u[A 第一节球面曲率半径测量
zW9/[Db 第二节球面光学元件面形偏差检测
[Lal_}m? 参考文献
IB\O[R$x 第八章非球面测试技术
PB(I3R9 第一节非球面的基本知识
v1}9i3Or# 第二节非球面面形测试方法
F0x'^Z}Q; 参考文献
'B yB1NL 第九章干涉测长技术
A} v;uNS] 第一节高精度量块测量技术
_2
oZhJ 第二节
激光干涉测长
^bk:g}o 参考文献
(bp4ly^ 第十章莫尔条纹技术
;fe~PPT 第一节莫尔条纹形成
原理 k$3Iv"gbx 第二节莫尔条纹测量技术
T7R,6qt 参考文献
'|J~2rbyr 第十一章
光学系统评价
/ ?Hq 第一节光学系统成像质量评价方法概述
C8t;E` 第二节分辨率测试
_Nacqa 第三节成像质量评价的星点检验法
fR>"d<;T 第四节光学传递函数
ZgA+$}U)uW 第五节干涉测量
9v@P|
参考文献