[讨论]用TFC求材料的N、K值的疑惑 [复制链接]

  请看附件中的内容

是否说光谱的极大值与极大值之间,极小值与极小值之间相差较大,就判定有吸收,还有初始时的K一般设为多大?是否设的大小与后来算出来的有很大关系? jIAW-hc]  
因为我们开始做一个材料的工艺时,比如TIO2,就要考虑放多少氧才能不吸收,放氧多了毕竟不好(致密性不好),所以我想做的是没有参考工艺时判定材料有无吸收. =cf{f]N
 
我用fit a dispersion formula 计算得到NK很离谱,是否是因为我测量的T的取值间隔太大(我从440-800nm,20nm为间隔,但极大与极小值都有特别写入)? g2g
`,"T  
我看李正中的光学薄膜与镀膜技术中说过,只要知道测量的T值和基板的N值,就可以用包络法求出材料的NK还有D(厚度),怎么在实际中没遇到这样的软件呢? Cz'xGW{  
大侠们,给条明路呀

我個人覺得Interval取20nm太大了, 如此在軟件的fitting tolerance也許也過大了...

我個人覺得Interval取20nm太大了, 如此在軟件的fitting tolerance也許也過大了...

谢谢你的指教! $v FrUv  
V?=TVI*k  
哪位大侠有测量的T值,间隔取小一点的,(我现在没机会测了).告诉我镀的什么材料,镀多厚(设定值),若你有算过,请告诉我最后的NK值,我好比较一下!谢谢了!!!!! CNut{4  
llNXQlP\B  
对了,如果需要发邮件,这是我的邮箱:fawang983@sohu.com

支持，谢谢。支持楼主

谢谢,支持.希望多合作.

虽然我不懂 va^0JfQ  
帮你顶一下 dsK/6yu  
希望有高手能看到它

你要先看一下光学薄膜的基本理论,否则好多东西你都无法理解的.材料的折射率要用测试设备直接或间接测量得到,软件只能做分析用.

Adjust Layers for Angle（根据角度调整膜层）改变所有没有吸收膜层的厚度来保证在新的角度条件下光的有效路程（光程）保持不变。注意此对话框对所有角度初始值一般为0.0。此功能通常叫做角度匹配。 E+z18Lf?  
gD6tHg>_  
Consolidate Layers（压实膜层）将膜系优化后厚度为零的膜层去掉。同样的如果相邻两膜层有同样的材料并属于同一组那么就会将两膜层合并。 b_l3+'#ofM  
]H+{eJB7O  
Compute Equivalent Index（计算等效折射率）命令计算一定范围内膜层的等效折射率。 5z~\5x  
Px#$uU  
Compute Equivalent Stack（计算等效膜堆）命令计算等效于给定膜层的HLH或LHL 膜堆 qOi5WX6F/  
)\0q_a  
Show Thickness Totals（显示总厚度）命令显示膜系中所使用的每一种材料的物理厚度和所有膜层的总厚度。最薄的膜层在对话框的最下端显示。 )v1CC..  
.'/l'>  
Read Layer Data from File（从文件中读取膜层信息）命令是从文件中读取两栏信息：材料名称和厚度（单位为纳米）。用户在标准对话框中输入文件名称。这是TFCalc中读取膜系设计的一条捷径。 Yx),6C3  
87<9V.s2  
Save Layer Data in File（在文件中保存膜层数据）命令将每一膜层的材料名称和物理厚度（nm）写入文件。在创建运行平台时此命令非常有效。标准对话框会要求用户输入文件名称。 Gqt-_gga  
FsY(02  
Save Layer Data in Clipboard（在剪切板中保存膜层数据）命令将每一膜层的材料名称和物理厚度（nm）保存到剪切板。在为膜系创建运行平台时此命令有效。 D%U:!|G  
_f3 WRyN0  
Substitute Layer Data（替代膜层数据）命令使用户快速处理大量数据项。其运行方式为：它寻找到所有满足第一栏内全部要求的膜层，然后将膜层的区域按照第二栏内的值改变。如果第一栏全空，那么它就满足所有膜层要求。在第一栏内QWOT和厚度项可以不等就像    < 10。 4V$fGjJ3  
Compute Equivalent Index（计算等效折射率） .=XD)>$  
要分析的膜层范围必须是一个均衡的膜堆。也就是说第一层膜的厚度与最后一次膜的厚度相等，第二层膜的厚度与倒数第二层膜的厚度相等，依此类推。在一般情况下，此命令计算在给定波长和角度时与一层膜的折射率和相位厚度等效的膜层范围。注意如果波长在stop band截止带内一定膜层的等效折射率就无法定义。 LwOJ|jA(,  
Compute Equivalent Stack（计算等效膜堆） k" YHsn  
如果入射角为0度就必须选择polarization（偏振）；等效膜堆只会与选择偏振的膜层相配。选择是否需要产生HLH或LHL膜堆。输入所用材料名称；它们并不一定要在材料库或机动材料窗口中。点击Calculate按钮就可计算等效膜堆。实际上有无数个解决方法；我们只显示那些相位厚度小于360度（正常情况下4倍QWOT）的结果。左右键切换计算方法。在厚度增加过程中处理结果也保存下来。（QWOT设定为参考波长）。点击Replace（替换）按钮可以将显示的处理结果替换在膜层窗口中的给定膜层。 %b=p< h'(  
Target (Discrete) Window Options（单点目标窗口选项） xnbsg!`;7W  
当单点目标窗口在最低逆光时，你可以使用Options menu增加、删除、打印、复制和添加目标。也可以通过选项来自动生成目标和从文件中读取目标。 @rwU 1T33  
DjwQ`MA  
Generate Targets（生成目标）使你可以生成许多相似的目标。对话框中的大多数项与Targets（目标）窗口中的相似。目标可以是不等式的；就是说，目标值可以含有>或<来表明所要的结果大于（或小于）目标值。注意你可以指定一个波长范围：开始波长，结束波长和波长增量。然后你改变了目标数目，波长增量会 随之改变以保证生成给定的目标数目。生成的目标最终会以波长、波数或波长对数为间隔。最后两选项对带通设计优化有用。当选定Replace current targets（替代当前目标）后，生成的目标将替代目标窗口中所有的目标；另外生成的目标会添加到当前目标目录下。如果你不希望生成任何目标，点击Cancel（取消）按钮然后选择OK。 c 0-w6  
sofu  
Read Wavelength Targets from File（由文件中读出波长目标）使你可以从文件中读出目标值。对话框中的大多数项与Targets（目标）窗口中的相似。包含目标的文件可以会包括一些非数值数据（比如：说明）。基底栏内必须包括波长和目标值。如果文件中包含的目标多于你需要的目标值，你可以命令TFCalc只读取那些数据的子集（分光光度法生成的文件数据间隔为0.1nm，这种情况下你或许只需要第10、20或第100个数据点）每一个数据点可以会与调整因子相成后再输出。如果选定Replace current targets那么文件中读出的目标将替代目标窗口中所有的目标；另外生成的目标会添加到当前目标目录下。如果你不希望生成任何目标，点击Cancel（取消）按钮然后选择OK。 "OL~ul5  
J &{xP8uq_  
Read Angle Targets from File（由文件中读出角度目标）使你可以从文件中读出目标值。这是另外一个从文件中读出目标的命令。其对话框与Read Wavelength Targets from File相似；唯一的不同是它要求的是角度而非波长。文件中的每一行必须包含角度目标和目标值。 +j[`,5oS  
HabzCH  
Add Color Targets（添加颜色目标）使你可以在目标窗口中添加颜色和亮度目标。对话框中的大多数项与Targets window目标窗口相似。选择CIE 1931或CIE 1976颜色标准。选择10nm或5nm波长间隔来计算颜色值。选择后者会使优化时间加倍。 Go <'  
^.vmF>$+I  
注意如果使用10nm间隔颜色目标来优化设计，而最终设计分析是5nm间隔（或更小），那么颜色坐标会有轻微差异。如果此结果出现问题，那么最终优化时颜色目标使用5nm间隔。 8a>SC$8"  
v"RiPHLT  
Generate Derivative Targets（生成导数目标）使你可以在目标窗口中添加导数目标。注意此对话框除了在右上角的导数信息外与Generate Targets对话框完全相同。 ~;unpym'  
Configuring TFCalc （配置TFCalc） OJ/SYZ.r  
TFCalc允许设计者配置程序的某些设置来适应他们的要求。尤其是使用者可以做如下改变 J?%}=_fsa  
                            供大家参考