[分享]浅析光学反射式分布测量技术 [复制链接]

介绍了以光时域反射仪（OTDR）为代表的光学链路连续分布参数的的反射式测量技术。在阐明OTDR基本测量原理和实现方式的基础上，着重讨论了时域相关测量，频域测量和干涉测量技术各自的特点及对测量精度的改进。 y;<jE.7>  
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一、概述 OEB_LI'  
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光学分布探测是一种适用于光纤等连续光学链路的特征参数测量的技术。反射式分布探测是基于测量光背向散射信号，由光传输特性的变化来探测、定位和测量光纤链路上因熔接、连接器、弯曲等造成的光学性能改变。光时域反射仪OTDR是这种技术的典型应用。OTDR可以测量整个光纤链路的衰减并提供与长度有关的衰减细节,测量具有非破坏性、测量过程快速方便、结果准确直观的特点。因此在生产、研究以及通信等领域有广泛应用。为了提高测量性能，在OTDR的基础上提出了时域相关测量，频域测量和干涉测量等改进的测量技术。 OmU.9PDg-  
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