第四届国际光电子探测与成像技术学术交流会

第四届国际光电子探测与成像技术学术交流会（SPIE）大会将在于2011月5月24~26日在北京国家会议中心隆重举行，会议规模将达1500余人。为进一步加强产、学、研相结合，在会议同期将举办“2011第三届中国（北京）国际光电展览会”。展会将与国际光学工程学会（SPIE）和法国国际商务展会公司（BCI）两家享誉全球的顶级机构共同组建国际参展商团队，汇聚国内外众多光电行业知名企业，引入全球最新技术与产品。