1. 背景知识
sJ{S(wpi" 光学薄膜泛指在器件表面用物理化学等方法沉积,利用光的干涉现象以实现增透、高反射、滤光、分光等光学现象。例如采用减反射膜后可使复杂的光学
镜头的光通量损失成十倍地减小;采用高反射比的反射镜可使
激光器的输出功率成倍提高;利用光学薄膜可提高
太阳能电池的效率和稳定性。
$@t]0 2. 设备能力
ttlFb]zZh OTFC-900型自动高精度光学薄膜
镀膜机是一种通用型的高档光学镀膜设备,适用从于从紫外到红外各种光学
玻璃和晶体上镀制减反射膜,高反射膜,分光膜和滤光膜及其它多层光学薄膜。
4\qnCf3 R
pUq#Y:a 1) 真空室尺寸:直径900毫米,高度約1300毫米
[=dK%7v 2) 排气性能
G:'hT=8 粗抽真空:从大气压到50Pa真空,8分钟以内
1n+C'P" 极限真空:低于5.0E-5Pa
_]~`t+W'DJ 恢复真空:15分钟之内达到8.0E-4Pa
|X :"AH"S 漏气速率:低于5.0E-3Pa・L/sec
d~NvS-u7 3) 基板加熱特性
iYwzdW1 最大设定温度: 350℃
Z(F`M;1>xI 加热40分钟以内,能到达300℃
ygiZ~v4P/ 温度均匀性: 300℃±10℃(加热40分钟后)
6\jhDP@`9 4) 电子枪/电源(JEOL制)
Z_iVOctP 电子枪(BS-60050EBS):
QDO.&G2 (10kW,270°偏转)
0Z. bd=H 电压 -4~-10kV(连续可变)
: b9X?%L~ 5) 坩埚
t=
=+SHGP 环形坩埚:φ302×φ228×H15mm环状、材质Cu
A.0eeX{ 15点坩埚:外径尺寸φ35×H17mm、材质Cu
g\;&Z 6) 离子源
/DxaKZ ;b 离子流密度分布均匀;利用离子源进行基片清洁和辅助镀膜时,基片表面质量无损伤
p:kHb@ a) 射频离子源:(Optorun制:OIS-Four,10cm)
7f!"vhCXM; 栅网尺寸:10cm
v<+5B5"1 最大射频功率:600W(13.56MHz)
(^x , 束電圧:100V~1500V
RM/q\100 最大束電流:500mA
0)=U:y. 离子流密度分布:±10%以内
h B@M5Mc$ 加速电压:100V~1000V
VJp; XM 标准导入气体量:氧气或氩气
!% ' dyj b) 射频中和器(Optorun制: RFN-1Af)
W!@*3U]2R 最大射频功率:150W(13.56MHz)
8RGU^& 最大中和電流:1500mA
6|h~pH 标准导入气体量:氩气
z=YHRS 7) 光学膜厚监控
QU&LC 反射式膜厚计(Optorun制HOM2-R-VIS350A)
re\pE2&B 波長范围:350~1100nm
1|U8DK 波長精度:<±1nm
F#<$yUf% 波长分解能:标准6.5nm±1.0nm,546.1nm处
,E YB
E 波长再现性:±0.25 nm
rd#O ] 安定性:<±0.1%/h(点灯60分後,环境温度安定,波長500nm)
/*v}.fH% 8) 水晶膜厚监控
ZboY]1L[j 控制仪: XTC/3 (Inficon制)
h^Bp^V5# 水晶开始频率:6.0MHz
.(D,CGtYb 频率变化测定分解能:±0.028Hz
Cp[{|U-?G 测定时间间隔:0.25秒
9Tju+KcK E@uxEF 3. 标准工艺
H Pvs~`>V 1) ITO
'fIBJ3s[o 2)太阳电池减反膜
g!<=NVhYt El9D1], 3)高反膜
2D`_!OG= #`kLU: 4)截止滤光片
Ml bQLtw Zt3Y<3o 5)UV-IRCUT
8v|?g8e3 k;)t}7(
f9ziSD# 5.操作手册
g#??Mz 1) 目的
vh29mzum 在真空
系统中,利用电子束将坩埚中的源材料(介质)加热,使其蒸发,在基底表面形成均匀的薄膜。
C71\9K*X 2) 使用范围
OhNEt> 可装载六英寸基片6片;基底最高加温350℃;现有源材料:TiO2、SiO2、Ta2O5、ZrO2、Al2O3、MgF2、ZnS等
5!tiu4LU 3) 注意事项
},tN{() 1.开机前检查水电气是否正常
,lsoxl 2.清理真空室时务必盖上离子源与中和器的防护盖
J%|n^^ /un 3.使用离子源结束后,需对中和器继续充Ar气使其冷却
5Xe1a'n5] 4.禁止非授权操作人员执行开机和关机步骤
]ULE>a 4) 准备工作
-D?-ctFYj^ 1.基片清洗
@)iAV1r" 2.补充源材料
b ~5Q|3P 9 3.清理真空室
0vi)my;! 5) 操作步骤
# Vq"Cf 1、开机
dc]D 8KX 1.1 打开冷却水,N2气、压缩空气
b@p3iq: 1.2 打开总电源
|mHxkd 1.3 打开UPS电源
7QnQ=gu 1.4 点击触摸屏上的“PUMP DOWN/AUTO STOP”,设定开机时间,自动开
|_ChK6Q?v 机,进行冷泵再生过程。
-n>JlfCd2 2、放样
0q4E^}iR 2.1 清理真空室
j$%uip{ 2.2 补充源材料
:<"b"{X" 2.3 检查是否需要更换光控片与晶控片
AbXaxt/[g? 2.4 放入样品
x!@ 3.$ 2.5 如需使用离子源,必须将保护盖拿出
w%Bo7 'o)V 2.6 关真空腔门,运行“CHAMBER EXHAUST”,抽真空
et-<ib<lY 3、熔源与蒸发镀膜
";>>{lYA. 3.1 打开电脑,点击ACS图标,进入
软件操作界面
BZdryk:S 3.2 在Melting中点击“select”,选择熔源程序
<
.\2Ec 3.3 在process中点击“select”,选择镀膜程序
da,;IE{1u 3.4 如需使用离子源,在“Enable IBS Control”前打勾
4Iq-4IG( 3.5 依次打开离子源的AX-600III、AX-300、SOURCE DC、NEUTRALIZER
O)Wc\- DC、ION SOURCE CONTROLLER开关
)^D:VY92 3.6 打开气体流量控制仪
` 6'dhB 3.7 点击电脑上“Start”执行自动熔源、镀膜,结束后关闭离子源,顺序与
C{5^UCJkg 3.5中相反,继续给中和器中充入N2一段时间
o5;V=8T; 4、取样
3lW7auH4Y{ 4.1 当基片温度降到80℃以下,点击触摸屏上的“CHAMBER VENT”,执
S2!$ 行充气过程
}BR@vY'd 4.2 恢复到大气状态下,开腔室,先盖上离子源与中和器的保护盖,取样,
XZ3)gYQi 清理真空室,进入到下一个循环。
mqIcc'6f 5、关机
/&T"w,D 5.1 点击触摸屏上的“AUTO STOP”自动关机
1vmK
d 5.2 关闭UPS,总电源
Gl@-RLo 5.3 关闭水、气