单电极芯片在封装行业对固晶的要求非常高,例如在LED生产过程中,固晶品质的好坏影响着LED成品的品质。造成LED固晶破裂的因素有很多,我们仅从材料、机器、人为三方面因素,探讨LED固晶破裂的解决方法。 =? *"V-l
%ih7Jt
一、芯片材料本身破裂现象 u.4vp]eU
Qufv@.'AY
芯片破损大于单边芯片宽度的1/5或破损处于斜角时,各单边长大于2/5芯片或破损到铝垫,此类芯片都不可接受(这个是芯片检验标准中的一个专案)。产生不良现象的原因主要有: Odjd`DD1
KPe.AK,8
1.芯片厂商作业不当 BRzWZq%r3
tBI+uu aa2
2.芯片来料检验未抽检到 d47:2Zj
D!$ =oK
3.线上作业时未挑出 {1U*:@j
Ollv _o3
解决方法: ;Y&?ixx
[QN7+#K,
1.通知芯片厂商加以改善 H^1 a3L]
NITx;iC
2.加强进料检验,破损比例过多的芯片拒收。 T9<nD"=:
\HEo8~TY
3.线上作业Q检时,破损芯片应挑出,再补上好的芯片。 vA-p}]%
0THAI
二、LED固晶机器使用不当 =(5GU<}
W3/Stt$D
1.机台吸固参数不当 TY[d%rMm
l@J|p# 0q
机台的吸嘴高度和固晶高度直接受机台电脑内参数控制。参数大,吸固高度小;参数小,吸固高度大,而芯片的破损与否,直接受机台吸固高度参数影响。产生不良现象的原因主要是:机台参数大,呼固高度低,芯片受力过大,导致芯片破损。 Ns= b&Uyc
mXM>6>;y
解决方法: ,fJ(.KI0
J9c3d~YW
调整机台参数,适当提高警惕吸嘴高度或固晶高度,在机台“SETUP”模式中的“Bondheadmenu”内的第一项“PickLevel”调节吸嘴高度,再在第二项“BondLevel”调节固晶高度。 tskODM0Zf
mKn357:
2.吸嘴大小不符 9v,8OK)
ftuQ"Ds
大小不同的芯片要用不同的吸嘴固晶。大的芯片用小的吸嘴、芯片吸不起来容易漏固;小的芯片用大的吸嘴、芯片容易打破,因此选用适当的吸咀,是固好芯片的前提。产生不良现象的原因是:吸咀太大,打破芯片。 +F&]BZ
%FFm[[nxI
解决方法:选用适当的瓷咀。 gH55caF<
Tv)y}
三、人为不当操作造成破裂 n(xlad
=usDI<3r
A、作业不当 -mw\?\2{
(NN14
未按规定操作,以致碰破芯片。产生不良现象的原因主要有: !Jnw_)
OmbKx&>YGz
1.材料未拿好,掉落到地上。 Cj\+u\U#
,[1`'nN@g
2.进烤箱时碰到芯片 !:[n3.vm
<FT\u{9$
解决方法:拿材料时候,手要拿稳。进烤箱时,材料要平着,轻轻的放进去,不可倾斜或用力过猛。 B^Mtj5Oc
}v,P3
B、重物压伤 nJH%pBc
0BE^qe
芯片受到外力过大而破裂。产生这种不良现象的原因主要有: nKkTnTSa
,O{ 5
1.显微镜掉落到材料上,以致打破芯片 |Z|xM
w=o m7%J@l
2.机台零件掉落到材料上。 A@AGu#W
o`! :Q!+
3.铁盘子压到材料 L([ >yQZ
pAmI ](
解决方法: e`1s[ ^B
&7u
Ra1/R
1.显微镜螺丝要锁紧 bXL a~r4\
1)Bi>X
2.定期检查机台零件有无松脱。
NX_S
$KHDS:&
3.材料上不能有铁盘子等任何物体经过。