中科院2010年光学系列培训高级讲习班（10月16-22日）即将开课

中科院品牌培训课程，颁发中科院培训证 书
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课程名称与时间 ^[Y/ +Q.J  
 第七届光学设计高级讲习班（2010年10月16日-22日） ]N:Wt2   
 第二届光学检测讲习班（2010年10月16日-22日） Pxgul7  
 第六届光学薄膜技术培训班（2010年11月9日-13日） 3Qu-X\  
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培训效果 hbs /S  
 掌握专业要点，快速进入光学检测领域； `)TgGny01  
 注重行业应用，增加实际操控经验； g-cg3Vso  
 扩展研发视野，提升职业核心竞争力； [<nd+3
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 名师现场答疑，解决生产研发中难题； 'a"Uw"/p[  
 打造一流平台，营造结识同行良机； \xmDkWzE  
 颁发权威证书，增加求职就业砝码。 p:3w8#)M
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培训内容 #It!D5A  
 光学设计讲习班 chM-YuN|  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 Ti>}To}B5  
王之江院士、徐文东、黄惠杰研究员：光学系统设计 JX`>N(K4\  
 光学设计中的基本设计理念 l0tFj>q"  
 光学系统的基本要求及指标 j_S3<wEJ  
 设计实例的分析和讲解 k
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朱健强 研究员：光机系统设计和光学加工 X,D ]S@  
 光机设计的原理、设计方法及常规内容 2m9qg-W  
 光学元件加工的工艺环节及其相关测控技术 +P.JiH`\=  
 平面、球面、透镜、棱镜等光学加工技术，非球面加工技术 $_gv(&ZT  
 特种光学元件加工技术，光学检测技术等 =`l><  
范正修 齐红基 研究员：专题讲座：光学薄膜 <}F(G-kV6  
 光学薄膜在光学设计系统中的应用， SBY0L.  
 紫外和软X射线薄膜，功能性光学薄膜 \jAI~|3  
 激光对光学薄膜的破坏过程。 .I%B$eH  
特邀专题授课：北京理工大学 王涌天教授 /'^BHA|h  
苏州大学 余景池教授等 /f hS#+V*  
特约赞助软件：CODE-V，LightTools，ASAP W >|'4y)  
学费:人民币3001元， 学生凭有效证件2701元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司）
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光学检测讲习班 $SfY<j,R  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 U@:l~xJ  
中国光学学会光学测试专业委员会 8yM8O #S  
苏大图教授（北京理工大学） &"Fz)}  
 常规光学元件（平面，球面，柱面、非球面）、系统性能、光学系统检测理论基础； {ea*dX872:  
陈明仪教授（上海大学） (@S9>z4s  
 光学系统与光电检测，检测误差分析，数字干涉技术，全息拼接检测； m;PTO$--  
高志山教授（南京理工大学） IG~Zxn1o  
 光学检测市场发展前沿动态； 1;vwreJ  
徐德衍研究员（中科院上海光机所） S5~(3I )v  
 光学元件表面特性与美军标MIL的解读，特殊光学元件的现代检测，相关国际标准。 7<k@{xI/  
李锡善研究员（中科院上海光机所） Yx](3w ID  
 光学玻璃检测专题； R9UC0D:-x  
殷立峰总经理（翟柯莱姆达计量设备（上海）有限公司） m~F ~9&  
 光学检测实务 muO;g&  
沈卫星高工（中科院上海光机所） K
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 干涉检测专题； ,? Q1JZPy@  
 常用光学检测仪器的使用要点及光学检测实例； {fMo#`9=  
学费:人民币3002元，学生凭有效证 件2702元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） |WW'qg]Uu  
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 光学薄膜讲习班 =q[ynZ8O\w  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 M->#WGl\B  
讯技光电科技（上海）有限公司 VYrs4IFT$  
范正修 齐红基 研究员--------基本原理、设计方法与软件应用 ;`Z>^.CB  
 课程涵盖光学薄膜基础理论、光学薄膜膜系设计与优化方法。培训期间每人会安装一套正版Essential Macleod薄膜设计软，针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。 z'0 =3  
易葵 正高级工程师--------光学薄膜沉积技术与工艺方法 g^^^fKUp)  
 给出光学薄膜制备完整的工艺流程，结合沉积技术对最终薄膜性能的影响，实例讲解系统配置、沉积技术以及工艺参数的选择、调控与优化。 .[Ny(X/]/}  
贺洪波 研究员--------光学薄膜测试技术与测试结果的解读 <<H'Z  
 介绍光学薄膜的光谱、损耗、激光损伤、力学以及微结构等多角度的测试技术与相关设备装置；结合光学薄膜测试实践，讲解测试结果的分析与应用。 8qT^=K $  
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报名联系方式： A64c,Uv  
光学设计、光学检测：高福海 021- 69918011 gfhai@siom.ac.cn EpENhC0  
QQ:905667687 传真：021-69918705 z0T6a15f!P  
光学薄膜：徐 艳　xuyan@siom.ac.cn　；021-69918842；021-69918028（传真） +\J+?jOC4S  
详情请登陆：中国光学期刊网 http://www.opticsjournal.net:8889/training.htm