中科院2010年光学系列培训高级讲习班（10月16-22日）即将开课

中科院品牌培训课程，颁发中科院培训证 书 ta?NO{*  
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课程名称与时间 X.<3/  
 第七届光学设计高级讲习班（2010年10月16日-22日） bSe\d~{  
 第二届光学检测讲习班（2010年10月16日-22日） 'w,gYW  
 第六届光学薄膜技术培训班（2010年11月9日-13日） !=YEhQ-  
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培训效果 .=eEuH  
 掌握专业要点，快速进入光学检测领域； 3jZGO9ttnS  
 注重行业应用，增加实际操控经验； jRg/N_2'2  
 扩展研发视野，提升职业核心竞争力； 6k hBT'n  
 名师现场答疑，解决生产研发中难题； =q VT  
 打造一流平台，营造结识同行良机； 6xDk3  
 颁发权威证书，增加求职就业砝码。 ,&BNN]k  
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培训内容 uG
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 光学设计讲习班 j sPavY  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 6Amt75RY  
王之江院士、徐文东、黄惠杰研究员：光学系统设计 Pg}QRCB@  
 光学设计中的基本设计理念 "6d0j)YO  
 光学系统的基本要求及指标 >5t! Xt  
 设计实例的分析和讲解 l>;hQh  
朱健强 研究员：光机系统设计和光学加工 4`8s]X  
 光机设计的原理、设计方法及常规内容 4bk`i*-O  
 光学元件加工的工艺环节及其相关测控技术 Fv]6an.  
 平面、球面、透镜、棱镜等光学加工技术，非球面加工技术 azZtuDfv  
 特种光学元件加工技术，光学检测技术等 a{xJ#_/6  
范正修 齐红基 研究员：专题讲座：光学薄膜 {dxFd-K3  
 光学薄膜在光学设计系统中的应用， 93*d:W8Vr  
 紫外和软X射线薄膜，功能性光学薄膜 *+rfRH]a  
 激光对光学薄膜的破坏过程。 E_~e/y"-  
特邀专题授课：北京理工大学 王涌天教授 [;wJM|Z J0  
苏州大学 余景池教授等 \:+\H0Bz  
特约赞助软件：CODE-V，LightTools，ASAP $1ovT8  
学费:人民币3001元， 学生凭有效证件2701元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） FO/cEu  
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光学检测讲习班 (9`dLw5  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 Z}t;:yhR  
中国光学学会光学测试专业委员会 c>$d!IKCL  
苏大图教授（北京理工大学） B& @ pZYl  
 常规光学元件（平面，球面，柱面、非球面）、系统性能、光学系统检测理论基础； :6o%x0l  
陈明仪教授（上海大学） r[(;J0=  
 光学系统与光电检测，检测误差分析，数字干涉技术，全息拼接检测； {#kCqjWG  
高志山教授（南京理工大学） Z7bJ<TpZ  
 光学检测市场发展前沿动态； LF7 }gQs ^  
徐德衍研究员（中科院上海光机所） 2Vti|@JYp  
 光学元件表面特性与美军标MIL的解读，特殊光学元件的现代检测，相关国际标准。 3:GwX4yW  
李锡善研究员（中科院上海光机所） |fKT@2(  
 光学玻璃检测专题； $9?:P}$v  
殷立峰总经理（翟柯莱姆达计量设备（上海）有限公司） WOn<JCh]  
 光学检测实务 /wEl\Kx  
沈卫星高工（中科院上海光机所） Ja~8ZrcY  
 干涉检测专题； Q
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 常用光学检测仪器的使用要点及光学检测实例； xS UpVK  
学费:人民币3002元，学生凭有效证 件2702元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） gM&O dT+i  
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 光学薄膜讲习班 ulzX$  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 H<|}pZ  
讯技光电科技（上海）有限公司 MB;rxUbhe3  
范正修 齐红基 研究员--------基本原理、设计方法与软件应用 [z"E"_r~%Y  
 课程涵盖光学薄膜基础理论、光学薄膜膜系设计与优化方法。培训期间每人会安装一套正版Essential Macleod薄膜设计软，针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。 &wlD`0
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易葵 正高级工程师--------光学薄膜沉积技术与工艺方法 07Yak<+~  
 给出光学薄膜制备完整的工艺流程，结合沉积技术对最终薄膜性能的影响，实例讲解系统配置、沉积技术以及工艺参数的选择、调控与优化。 {d<XDx4`  
贺洪波 研究员--------光学薄膜测试技术与测试结果的解读 O#k; O*s'  
 介绍光学薄膜的光谱、损耗、激光损伤、力学以及微结构等多角度的测试技术与相关设备装置；结合光学薄膜测试实践，讲解测试结果的分析与应用。 '4M{Xn}@  
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报名联系方式： Ye]K 74M.  
光学设计、光学检测：高福海 021- 69918011 gfhai@siom.ac.cn x:0swZ5Z  
QQ:905667687 传真：021-69918705 hqln6m  
光学薄膜：徐 艳　xuyan@siom.ac.cn　；021-69918842；021-69918028（传真）  Y:/p0o  
详情请登陆：中国光学期刊网 http://www.opticsjournal.net:8889/training.htm