中科院2010年光学系列培训高级讲习班（10月16-22日）即将开课

中科院品牌培训课程，颁发中科院培训证 书
2Z)4(,  
+3;Ody"59  
课程名称与时间 l-}KmZ]  
 第七届光学设计高级讲习班（2010年10月16日-22日） $2KK:{VX  
 第二届光学检测讲习班（2010年10月16日-22日） :?=Q39O9  
 第六届光学薄膜技术培训班（2010年11月9日-13日） &~ *.CQa  
.k@^KY  
培训效果 ~-_i  
 掌握专业要点，快速进入光学检测领域； =q+R   
 注重行业应用，增加实际操控经验； BFWi(58q  
 扩展研发视野，提升职业核心竞争力； wiJRCH  
 名师现场答疑，解决生产研发中难题； Vr/
Bu4V"  
 打造一流平台，营造结识同行良机； _({@B`N}  
 颁发权威证书，增加求职就业砝码。 ZQAO"huk]  
R_1qn  
培训内容 l4vTU=  
 光学设计讲习班 *%\mZ,s"  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 nA_%2F'W}  
王之江院士、徐文东、黄惠杰研究员：光学系统设计 "_< 9PM1t  
 光学设计中的基本设计理念 KVR~jF%  
 光学系统的基本要求及指标 sb^mLH] 3  
 设计实例的分析和讲解 7+nm31,<O  
朱健强 研究员：光机系统设计和光学加工 2.-o@im0  
 光机设计的原理、设计方法及常规内容 NF+<#*1  
 光学元件加工的工艺环节及其相关测控技术 "3fBY\>
a  
 平面、球面、透镜、棱镜等光学加工技术，非球面加工技术 "uKFOV?j&  
 特种光学元件加工技术，光学检测技术等 @g-G =Ba  
范正修 齐红基 研究员：专题讲座：光学薄膜 =dzWmL<~8  
 光学薄膜在光学设计系统中的应用， >2b`\Q*<  
 紫外和软X射线薄膜，功能性光学薄膜 xJc$NV-JzK  
 激光对光学薄膜的破坏过程。 c.%.\al8oW  
特邀专题授课：北京理工大学 王涌天教授 icgJ;Q 5  
苏州大学 余景池教授等 aD9q^EoEs  
特约赞助软件：CODE-V，LightTools，ASAP ^m!_2_q  
学费:人民币3001元， 学生凭有效证件2701元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） j6S"UwJjp  
WOX}Sw"  
光学检测讲习班 =']3(6*  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 `Ye8 Q5v"]  
中国光学学会光学测试专业委员会 :Q_3hK  
苏大图教授（北京理工大学） %}3qR~;  
 常规光学元件（平面，球面，柱面、非球面）、系统性能、光学系统检测理论基础； Kqg!,Sn|  
陈明仪教授（上海大学） lnh+a7a)  
 光学系统与光电检测，检测误差分析，数字干涉技术，全息拼接检测； NHm]`R,  
高志山教授（南京理工大学） (R*j|HAw`X  
 光学检测市场发展前沿动态； !'G
~k+  
徐德衍研究员（中科院上海光机所） w1`QIv  
 光学元件表面特性与美军标MIL的解读，特殊光学元件的现代检测，相关国际标准。 g/~XCC^F?  
李锡善研究员（中科院上海光机所） 6N~q`;p0  
 光学玻璃检测专题； f>polxB%N  
殷立峰总经理（翟柯莱姆达计量设备（上海）有限公司） S6xgiem  
 光学检测实务 ?o*I9[Z)  
沈卫星高工（中科院上海光机所） PuL<^aJ  
 干涉检测专题； =*Z5!W'd  
 常用光学检测仪器的使用要点及光学检测实例； >Cr\y  
学费:人民币3002元，学生凭有效证 件2702元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） vLT0ETHg6  
upy\gkpnGO  
 光学薄膜讲习班 b2C`g]ibQ  
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 y<:<$22O  
讯技光电科技（上海）有限公司 !do?~$Og  
范正修 齐红基 研究员--------基本原理、设计方法与软件应用 #%lo;W~IY  
 课程涵盖光学薄膜基础理论、光学薄膜膜系设计与优化方法。培训期间每人会安装一套正版Essential Macleod薄膜设计软，针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。 (R!hjw~  
易葵 正高级工程师--------光学薄膜沉积技术与工艺方法 IkPN?N  
 给出光学薄膜制备完整的工艺流程，结合沉积技术对最终薄膜性能的影响，实例讲解系统配置、沉积技术以及工艺参数的选择、调控与优化。 U_B((Z(g  
贺洪波 研究员--------光学薄膜测试技术与测试结果的解读 B<?wh0  
 介绍光学薄膜的光谱、损耗、激光损伤、力学以及微结构等多角度的测试技术与相关设备装置；结合光学薄膜测试实践，讲解测试结果的分析与应用。 n.}E5%qK  
Lel|,mc`k2  
报名联系方式： E"~2./+rd  
光学设计、光学检测：高福海 021- 69918011 gfhai@siom.ac.cn #,d I$gY  
QQ:905667687 传真：021-69918705 =u[k1s?  
光学薄膜：徐 艳　xuyan@siom.ac.cn　；021-69918842；021-69918028（传真） 72W s K"  
详情请登陆：中国光学期刊网 http://www.opticsjournal.net:8889/training.htm