EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， fwh/#V-i  
`cIeqp  
美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， l3/Cj^o
4  
=@q,/FR-  
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 V#R; -C  
|;^$IZSsz  
1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 s6#e?5J  
Kaaz,C.$^  
应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 M 9NT%7Il  
hS>=pO+y  
2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. }lCQ+s!  
C~'.
3Q6  
1.多层厚度（1? 到 250 microns） 73_-7'^mQ  
2.折射率n @;KvUR/+FE  
3.吸收系数k s OLjT34  
4.双折射率 25r3[gX9`  
5.能隙（Eg） 8i<]$
 
6.表面粗糙度和损伤 N9M",(WTt}  
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） rFUd  
8.薄膜温度特性 zAev@+.ld  
9.晶元曲率和薄膜耐压性 4Lz[bI  
~=<uYv?0s  
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 AJ3Byb=.  
m Ph=bG  
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： ,]y_[]636  
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 /zr)9LQY0  
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com `-K[$V  
网址：http://www.emdeccn.com