EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

发布:sbisna 2010-04-29 20:49 阅读:1953
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品, xyeA  2Y  
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者, nWYCh7  
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其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 t#wmAOW  
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1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件 QWO]`q`|  
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应用实例,目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。 <iLM{@lZvJ  
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2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求. [ !%R#+o=F  
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1.多层厚度(1? 到 250 microns) 4Y ROB912  
2.折射率n ?UZ?NY  
3.吸收系数k E5GJi  
4.双折射率 `N8 7 h"  
5.能隙(Eg) `C72sA{M.  
6.表面粗糙度和损伤 6[P-Ny{z  
7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式) `lpz-"EEV  
8.薄膜温度特性 >)nS2b OE  
9.晶元曲率和薄膜耐压性 Im72Vt:p-  
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应用实例,上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 :}}%#/nd  
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下: X&\d)/Y  
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 d IB }_L  
邮件:wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com Snw3`|Y~<  
网址:http://www.emdeccn.com
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