EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， 6N'HXL UlQ  
q^+Z>
  
美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， #mbl4a  
1a;&&!X  
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 ppPzI,  
6|{uZNz  
1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 uT{.\qHo  
Gq^#.o]  
应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 KDy:A>_ G"  
Vr<ypyC  
2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. Mta;
6<  
&Qq4xn+J  
1.多层厚度（1? 到 250 microns） g bwg3$!9  
2.折射率n me/ae{  
3.吸收系数k (?pn2- Ip  
4.双折射率 be5NasC  
5.能隙（Eg） _Rnq5y  
6.表面粗糙度和损伤 LdYaJh~h  
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） Mq$Nra  
8.薄膜温度特性 c}g:vh  
9.晶元曲率和薄膜耐压性 sYY=MD  
[8C6%n{W  
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 [E
V}P&U  
P;
!4 VK  
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： m1lfC  
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生 7<%Rx19L*  
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com ]qk/V:H:  
网址：http://www.emdeccn.com