光学元件及镜头表面细节和MTF测试的完美测试仪器 S-H波前相差测试系统

干涉仪和MTF测试是传统的透镜或镜头的测试方法。干涉仪对得到表面的细节信息非常有用，但是相对较贵且不易应用到生产线上。尤其，干涉仪不能对离轴光学测试，且只能工作在某一固定波长而无法对色差进行测试。MTF测试可以用于离轴测量，得到的测试信息主要是GO/NO GO信息，而且，由于采用了较多地移动部件进行扫描测试来寻找焦点，维护保养也是个问题。
,IxAt&kN  
C',D"  
理想的测试系统应该是既可以得到干涉仪提供的详细测试信息（泽尼克系数、点阵图、点扩散函数、MTF）,并且系统应该坚固耐用（测试结果不受震动和气流影响），又可以兼顾离轴和近轴测试，还可以灵活的进行配置以完成不同类型透镜的测试任务。此外还可以对色差进行测试,；能够适应不同环境、不同光学元件的测试需求；没有移动部件以适应生产环境的测试需要；系统紧凑、测试速度快；可以用于在线调试优化透镜系统。SpotOptics 的波前测试系统就是这样的一个系统 /sH3Rk.>  
7_d gQI3y  
基于该原理的测试仪器的主要优点是结构紧凑、适应性强 （受震动和气流影响很小）， 可以用于生产环境。还可以采用闭环控制进行测试分析用于复杂光学系统的装配、调校、优化、对准等。 U;:>vi3p  
在复杂的光学系统中，定义和测量最佳焦点和光轴是非常困难的。只有在整个视场内进行离轴测试才能确定可以得到最佳像质的配置。例如，由于倾斜造成的彗差通过调整补偿通常是可以接受的。但是这种方法对离轴的像面质量却没有改善。 _(3VzI'G  
/}r%DND'  
通过将测试得到的5个位置的标准泽尼克失常系数（3阶彗差、球差、散光）与设计的理论值进行比较，计算得到与最佳焦面的散焦偏离量（um）。需要特别说明的是，我们的软件是通过数学计算的方法得到散焦偏离量的，没有任何物理扫描的过程，与MTF的测试方法完全不同。 *nluK  
|Rw0$he  
通过进行全区域分析得到的反馈信息对分析加工和装配过程中的问题是一个功能强大和必须的工具。可以节省相当的时间和金钱。该系统可用于数码相机的镜头、手机摄像头镜头、远心透镜以及电视镜头测试，以及其它复杂光学系统，如HUD等。 M5HKRLt  
光傲科技华南区销售代表李建峰 ouK&H|'  
Best regard ||cG/I&,  
Light All Co., Ltd. W
u<  
Room 12- F, 1st Building, C[gCwDwl  
No. 515, Yishan Road, aJ88U69  
Shanghai, P.R. China 1bF aQ50t  
Tel:+86-21-51029613 64827985 [Pi8gj*  
Fax:+86-21-64827995 5Az=)q4Q  
Mobile:13802252615 @>B#2t&  
water-li@light-all.com D)8&v`LS  
www.light-all.com .
%<oy"_  
BJ<hP9#