随着电子技术的飞速发展,封装的小型化和组装的高密度化以及各种新型器件的不断涌现,对装联质量的要求也越来越高,于是对检查的方法和技术提出了更高的要求。 3l4NC03I&
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为满足这一要求,新的检测技术不断出现。以下主要从光学检查方面说明光学技术在制程工艺上的应用。 bRo|uJ:d
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1.光学放大镜 6bO~/mpWT~
放大镜主要用于目检,大批快速的检查。 H !)=y
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利用目检和套板来检查墓碑、缺件、 多件、 假焊等问题,方便快速,成本也很低,是生产线使用最普遍的一种方法。 \9{F5Sz
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其次还可以用来观察一些肉眼无法看出的隐蔽性焊接故障。 aFj.i8+
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2.显微镜 K@u&(}
如果同一个地点重复出现不良的现象,就需要对该地点做进一步的分析。 u0o'K9.r
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显微镜此时就发挥了它的强大功能,它的高倍放大效果可以帮助你看清元件或者PCB上产生的微小裂纹、偏差、异物、焊料球、焊锡表面呈凸球状、焊锡与SMD不相亲融等等缺陷。 =!b6FjsiG
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3.SPI锡膏检测仪 v;EQ, NL
SMT工艺控制最重要环节之一:印锡。 ?KE$r~dn
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印锡质量的检测,就要用锡膏检测仪来分析、反馈,然后调整印刷参数,提高印锡质量。 mD58T2Z
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4.AOI自动光学检查仪 ZcE_f>KV
AOI检测分为两部分:光学部分和图像处理部分。 ;xYNX
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通过CCD照相的方式获得器件或PCB的图象,然后经过计算机的处理和分析比较来判断缺陷和故障,可以测量元件偏位、缺件、空焊、墓碑、反位、反白、短路、错件、损件、侧立等缺陷。 `#mK*Buem}
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图像处理部分需要很强的软件支持,因为各种缺陷需要不同的计算方法用电脑进行计算和判断。 ,*svtw:2')
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AOI可放置在印刷后、焊前、焊后不同位置,只能作对外观检测。其优点是检测速度快,编程时间较短,可以放到生产线中的不同位置,便于及时发现故障和缺陷,使生产、检测合二为一。可缩短发现故障和缺陷时间,及时找出故障和缺陷的成因。因此它是目前采用得比较多的一种检测手段。 NjuiD].
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5.AXI自动X射线检查仪 GW^,g@%C
AXI检测原理 v-b0\_
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AXI是近几年才兴起的一种新型测试技术。当组装好的线路板(PCBA)沿导轨进入机器内部后,位于线路板上方有一X-Ray发射管,其发射的X射线穿过线路板后被置于下方的探测器(一般为摄像机)接受,由于焊点中含有可以大量吸收X射线的铅,因此与穿过玻璃纤维、铜、硅等其它材料的X射线相比,照射在焊点上的X射线被大量吸收,而呈黑点产生良好图像,使得对焊点的分析变得相当直观,故简单的图像分析算法便可自动且可靠地检验焊点缺陷。 #Pk$L+C
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AXI检测原理 :[l\@>H1tX
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AXI是近几年才兴起的一种新型测试技术。当组装好的线路板(PCBA)沿导轨进入机器内部后,位于线路板上方有一X-Ray发射管,其发射的X射线穿过线路板后被置于下方的探测器(一般为摄像机)接受,由于焊点中含有可以大量吸收X射线的铅,因此与穿过玻璃纤维、铜、硅等其它材料的X射线相比,照射在焊点上的X射线被大量吸收,而呈黑点产生良好图像,使得对焊点的分析变得相当直观,故简单的图像分析算法便可自动且可靠地检验焊点缺陷。