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摘要 ]@vX4G/ yhJH3< 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 NE,2jeZQ . 9cp-Rw<tI
>N62t9Ll[ z6]dF"N 建模任务 Hdw;=]- f5"1WtB Zy|B~.@<j 概述 L3GA]TIf BCYTlxC' •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 'FgBYy/ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 fz\C$[+u JS<S?j?*/
$wg5q\Rv -KhNsUQk 光线追迹仿真 .T
6NMIp* <k!M+}a 9V •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ayfR{RYi •单击go! O;z:?
•获得了3D光线追迹结果。 [Ul"I-K kd)Q$RA(
1)pwR3(^Fz ~U(`XvR\4 光线追迹仿真 4l7TrCB k\BJs@- •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 g = ~Y\$& •单击go! 45. -P •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 #%N v\g; 4&X
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%c"PMTq( 3.@"GS#"[ 场追迹仿真 n75)%-
G2qv)7{l2 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 {,NGxqhE •单击go! WD#
96V U;`C%vHff w\,N}'G vz5x{W 场追迹仿真(相机探测器) ve($l"T E! d?@Xr@ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 `NYu|:JK: •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 60,z! Vv 2(LF @xb
x1H1[0w,i EP,j+^RVf 场追迹仿真(电磁场探测器) Ha~F&H|"O •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 %"-bG'Yc "| Oj!&0 !C\$=\$ ]QKo>7%[ 场追迹仿真(电磁场探测器) T5nBvSVv' p0*qv"lA •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 z^lcc7 /T_{k.
j9gn7LS ezimQ 文件信息
P.bxq50 YP
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