切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 《杂散光抑制与评估技术》 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) 光学设计与光学元件
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 先进光刻机曝光系统光学设计 CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命(第2季)
    发帖 回复
    返回列表
    • 137阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    7377
    光币
    31026
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 10-13
    摘要 m!!;CbPo  
    "LW\osjen  
     TDy)A2Z  
    )8n?.keq  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 k6Vs#K7a  
     b"`fS`@/MW  
    建模任务 5p:2gsk  
    YcR: _ac  
     LWSy"Cs*  
    xaV3N[Zd  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 ,I+O;B:0  
    T nyLVIP  
     3[l\l5'm8  
    7lJ8<EP9 u  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 q$IU!I4  
    NNTrH\SU #  
     PJe \PGh  
    ;- Vs|X  
    文件信息 Wf%)::G*uR  
    IM[=]j.?  
     6z/&j} (  
    ^YfAsBs&  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表