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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 08-18
    摘要 'cZMRR c <  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 r]8x;v1  
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    1. 案例 * -KJh_  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 fey*la Xq  
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    1. 系统构建模块 EmX>T>~#D  
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    2. 组件连接器 QqiJun_m  
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          [DZqCo  
    几何光学仿真 Z5G]p4  
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    以光线追迹 "1XXE3^^  
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    1. 结果：光线追迹 p)B33Z zC  
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    M{?zvq?d  
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    快速物理光学仿真 J~Cc9"(  
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    以场追迹 d/D,P=j"  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 b?_e+:\UV  
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    #z ON_[+s9  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 O 'k+7y  
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    #`W=m N(+k  
    3. NA=0.5时的光栅成像 'lJEHz\  
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    文件信息 {?E<](+0  
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