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1.摘要 c_{z(W" 4A{|[}! NIZ<0I*5 在测量信号或数据的情况下,很难(如果不是不可能的话)完全避免所有可能的噪声源,因为这些噪声源会干扰任何实验测量。但是,噪声的存在会干扰数据的重要特征(例如,测量光谱的半宽谱)。 n?#!VN3 因此,有一些后期处理技巧可能会有所帮助。这里我们只讨论一个这样的工具:Savitzky-Golay滤波器,它通过对一组采样点执行回归算法来平滑局部噪声。在这个例子中,我们讨论了VirtualLab Fusion中这个特性的选项和效果,并以一个绿色LED灯在60 nm带宽下发射的光谱为例进行了测试。 j$fAq\B 2^~<("+w
I3u{zHVwI SEQ%'E5-' 2.如何进入Savitzky-Golay过滤器 LiDvaF:@L! fkfZ>D^1 W#_/ak$uF* 对于每个实值数据数组,都可以在下面找到Savitzky-Golay滤波器 F}Mhs17!| 操作→ ;S$Ll*f>D 杂项→ \^+ILYO:$ Savitzky-Golay过滤器 Y izE5[* y;"
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/ 3HG;!D~m; 3.可视化的过滤函数 %kf>&b,Mi VeiElU3
WV;=@v O(2cWQ 4.影响过滤器-窗口大小 W:&R~R NX* O_/ 更大的窗口大小导致在拟合过程中考虑更多的采样点,因此曲线更平滑。 t$&Qv) qg z*'_S
\`'KlF2 NQTnhiM7$ 更高的阶数允许更详细的曲线,但反过来也可以保留局部噪声。 |wxGpBau @b&84Gn2
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*#>F.#9 HCA{pR` 5.局部噪声过滤 !Gs} tiMH cl[!`Z
<>SdVif] O/AE}] 6.FWHM 检测 BJjx|VA+ XR# ;{p+b
KHiFJ_3 .r|*Ch#;P 7.等距的重采样 Q.-*7h8
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\L!uHAE2a 9>m%`DG* 8.文件信息 m/&i9A `ue[q!Qq
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