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    [技术]基础Mirau干涉仪的仿真 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-25
    摘要 uCgJ F@  
    Fe2t[y:8h  
    如何在 VirtualLab Fusion 中设置 Mirau 干涉仪? 本用例通过非顺序通道配置和基本功能仿真演示了建模过程,并评估了来自不同测试表面位置的典型离焦条纹。 Nj +^;Y  
    f||S?ns_  
    ?y,KN}s_  
    ktM7L{Nz  
    任务描述:Mirau 干涉仪示意图 #;h> x  
    \)W Z D  
    mqDI'~T9 u  
    C1OiMb(:  
    系统构建模块和光路 ()<?^lr33  
    NleMZ  
    fIn^a 3TV  
    fFXnD  
    普通 Mirau 干涉仪的基本组成部分是显微镜物镜、参考面(反射镜)、半透明光学元件(分束器)和实际测试对象。 -X-sykDm  
    光源探测器有两条主要路径: }\1IsK~P  
    1. 一束光束通过分束器,然后被测试表面反射并一路返回探测器。 vZPBjloT!.  
    2. 另一束光束被分束器反射,聚焦在参考表面上,在此被镜像,再次被分束器反射,然后通过显微镜物镜返回到探测器。 .>2]m[53  
    通过使用手动通道配置模式,无需依次设置这两个光路(这也可以在一个光学设置中实现)。 "om[S :ai  
    -4obX  
    理想化和通道控制 xdMY2u  
    HTSk40V  
    仿真的好处是可以专注于系统相关的部分并可以减少其他任意影响。 PmtXD6p3(  
    0XI6gPo%  
    1. 显微镜物镜是用理想透镜仿真的。 5+t$4N+P  
    2. 对于半透明板(分束器),是一个平面平行板由熔融石英在其第一表面上使用 15.5 nm 银涂层制作的。 bQdu=s[  
    为了忽略第二个表面上的背反射,我们使用 VirtualLab的手动通道配置来关闭这些光部分。 这样就不需要对减反射 (AR) 涂层进行单独建模。 FLIU}doc  
    3. 实际上,小参考面附在透明板上。 在这里,我们只需为“飘浮的”理想平面镜建模。 "oh ;?gQ.  
    4. 对于全部场追迹仿真,使用了Modeling Level 1,因此忽略了理想平面波截断的衍射效应。 s\ Ln  
    &,* ILz  
    SQ<{X/5  
    K1p.{  
    半透明板(分束器)设置 Z7k ku:9  
    Lzx2An@R  
    }(K1=cEaL  
    BCX2C  
    通常,具有不同反射率值的部分透明板用于分束,因为能量分裂越平衡,干涉条纹的对比度就越好。 |gU)6}V@  
    9)uJ\NMy  
    系统构建模块 – 光路 #1 GtKSA#oYZB  
    ER;\Aes*?  
    < Yc)F.:  
    li0)<("/  
    光穿过半透明板  u5Mg  
    • 测试表面位于物镜的焦点区域。 /h@3R[k  
    • 通道+/+ 和-/- 对半透明板的两个表面都是开放的,以允许来自光源的光和从测试表面反射的光通过。 D-e?;<  
    T=CJUla  
    _/YM@%d  
    c GyBml1  
    系统构建模块 – 光路 #2 Lz!H@)-mr  
    )"_&CYnd  
    5ka6=R(r  
    6#ktw)e  
    半透明板反射的光 MjbgAH-  
    • 对于分束器的反射光路, 6NQ`IC  
    +/- 通道必须被激活。 &w:0ad|  
    x:c'ek  
    FytGg[#]  
    \y+^r|IL  
    系统构建模块 - 测试和参考表面 0 c ]]  
    ULO_?4}B  
    AqH GBH0  
    5x!rT&!G  
    • 在这个仿真中,参考和测试表面是 V{X/yN.u  
    以理想镜子为模型。 dJ>tM'G  
    (这就是为什么半透明板的最佳分光比是 50:50,这在 15.5 nm 银涂层的情况下大约可以实现。) {7` 1m!R  
    !Z0S@]C  
    • 将真实样品放置在测试表面上,通过沿轴向扫描 Mirau 干涉仪,可以使用不同的干涉图案来计算高度。 %g69kizoWi  
    @9l$j Z~x  
    • 参考表面的尺寸应该足够小以避免中心遮挡,但要大于焦点的尺寸。 6XnUs1O  
    I:1Pz|$`  
    仿真结果 - 干涉条纹 yoz-BS  
    Ml/K~H tN  
    y( UWh4?t  
    s+^1\  
    • Mirau 干涉仪三个不同位置的边缘如下图所示。 U&SSc@of  
    • 干涉条纹受测试表面离焦多远的影响。较大的散焦值会在测试路径中引入更强的球面相位变化,从而导致更密集的干涉条纹。 %v UUx+  
    =%|f-x  
    ~*`wRiUhis  
    $QwzL/a  
    文件信息 j$4lyDfD  
    IR32O,)  
    cQ3p|a `  
     
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