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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 '{.8tT ?tJ  
    O(e!Vx{t!  
                               >#gDk K  
    t. (6tL]  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 vCK+v r!  
    wuk\__f4  
    建模任务     F!4V!VWA}  
    $A/?evJi8R  
    }*C  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 agkKm?xIL  
    o-AF_N  
     Q7d@+C  
    :)T*:51{#  
    图层矩阵解算器 lk R^2P  
    \IudS{ .?;  
     5~im.XfiVx  
    T (]*jaB  
    f5{|_]q]  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 esQ`6i  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 2+C:Em0yI  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 ^Pu:&:ki  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 F+ RE  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     VN\VTSZh?\  
    ,S<) )  
    更多的信息： >Bdh`Ot-!  
    :xbj& l  
    总结-组件 'O.f}m SS  
    ~3Zz.!F  
    uqa pj("  
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    . &`YlK  
    两条光谱线的可视化 [u^ fy<jdp  
    9}Z;(,6/.\  
     nt-_)4Fm  
    精细vs.涂层反射率 }m%&|:PH  
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    ~x+'-2A46  
    精细度vs.涂层反射率 3/uvw>$  
    kumo%TXB&  
    7N@[Rtv  
    内部谐振增强     2QEH!)lvr  
    Ea'jAIFPpO  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 _*8 6  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 *:"60fkoU  
    ]@Z nP,8  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 < 3*q) VT  
    }R5EuR m\  
    VirtualLab Fusion技术 ;L#RFdh  
    jq8TfJ|   
    PVdN)tG5  
    文件信息 [cZ/)tm  
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     :[f[-F  
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