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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 T_Cj=>L  
    'J_`CS  
                               'w?}~D.y  
    &NH[b1NMr  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 .> 5[;  
    'nN'bVl/  
    建模任务     )Y:C'*.r  
    \k.W F|~  
    xl ,(=L]  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 1C+d&U  
    Sy"!Q%+ |  
     @G^m+-  
    U?=-V8#M|  
    图层矩阵解算器 Td 5yRN! ?  
    hw2Sb,bY  
     =XFyEt  
    `oOVR6{K9  
    nd~O*-uYg  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 7f>~P_  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 'a G`qPB  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 <op|yh3Jkk  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 )`K!XX$%  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     ?,w9e|  
    T\w{&3ONm  
    更多的信息： eXi}-~o  
    LG;U?:\  
    总结-组件 P (aN6)D  
    *K;s*-|U  
    ..Bf-)w  
     AmB*4p5b  
    RC!9@H5S#  
    两条光谱线的可视化 |p`}vRv Uh  
    N#GMvU#R  
     ',]^Qu`a  
    精细vs.涂层反射率 [r^WS;9n  
    ={\9-JJhE  
    }#2I/dn  
    ;s?,QvE{r#  
    精细度vs.涂层反射率 v]y=+* A  
    I ;F\'P)e  
    X3m)  
    内部谐振增强     v+C%t!dx  
    RV),E:?  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 /_r`A  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 C(n_*8{  
    O% 8>siU  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 RG:_:%@%}  
    NIG* }[}P  
    VirtualLab Fusion技术 v;(k7  
    > 1=].  
    vngn^2  
    文件信息 S]?I7_  
    ('+C $  
     IQQ>0^Q~  
     eC`G0.op  
     
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