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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 i WCR 5c=  
    zj~(CNE  
                          
    | %E\?-TK  
    5Q_ T=TL  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 2hZ>bg  
    kjCXP  
    建模任务
    -TIrbYS`  
    3O{*~D&n  
    sZ~q|}D-  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 2t9JiH  
    c eH8  
    BGk>:Z`  
    /-Saz29f^Q  
    图层矩阵解算器 [VvTR#^  
    +y%"[6c|  
    NO(^P+s  
    T6T3:DG_B  
    R^_7B(  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Eqx2.S  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 r'!HWR  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 WCa>~dF>  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 {_#~&IQ  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。
    E;$;g#ksf  
    kzMul<>sl  
    更多的信息: kNC.^8ryz[  
    h$F.(NIYe  
    总结-组件 RQaB _bg7  
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    2Fi ~GY_  
    ,'FH[2  
    ^,P# <,D,  
    两条光谱线的可视化 )<J|kC\r6c  
    CV9o,rL  
    "c0I2wq  
    精细vs.涂层反射率 Z%h _g-C  
    u%TZ),ny-  
    Iq76JJuCb  
    n*'i{P]  
    精细度vs.涂层反射率 [C8lMEV~  
    }6Ut7J]a|  
    :htz]  
    内部谐振增强
    }01c7/DRP<  
    I:~KF/q  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 cRR[ci34k  
    请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 S JseP_-  
    *En29N#a{  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 W6e,S[J^FY  
    \&{a/e2:S  
    VirtualLab Fusion技术 RA%=_wPD +  
    lpjeEaw o4  
    [`F}<L."  
    文件信息 k-:wM`C  
    }9Th`   
    _H,xnh#nZ  
    S.<aCN<@  
     
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