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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 "h7Np/ m3  
    IC:>60A,]  
                               Go)}%[@w  
    #`@5`;U>#  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 3R<VpN){  
    &G)/i*  
    建模任务     W4q |55  
    B|ctauJ  
    $CDRIn50  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 p0Pmmp7r  
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     cJ#n<Rsz  
    ^VsE2CX  
    图层矩阵解算器 5}TTf2&Xo#  
    "#P#;]\`  
     XwIhD  
    [&pMU)   
    2"EaF^?\  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ^B$cfs@*  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 j [4l'8Ek  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 A "/|h].  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 Nz>xilU'  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     4mvnFY}   
    -oi@1g @  
    更多的信息： tuJ{IF  
    Ym?VF{e,  
    总结-组件 4+:'$Nw  
    @$1jp4c   
    '.]<lh!  
     K=> j+a5$  
    C8%MKNPd  
    两条光谱线的可视化 "~q~)T1Z  
    @<koL  
     ?Kg_bvoR  
    精细vs.涂层反射率 N!./u(b  
    oG\lejO  
    r-No\u_  
    a5pXn v]A  
    精细度vs.涂层反射率 :OV6R ,  
    Z+_xX  
    p@U[fv8u  
    内部谐振增强     vs@u*4.Ut<  
    ?3gf)g=  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 y?Pw6;e.  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 XB]>Z)  
    a,h]DkD  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 wli H3vA_  
     |CAMdU  
    VirtualLab Fusion技术 e?pQuF~  
    =s9*=5r8  
    K5F;/ KR"  
    文件信息 O$N;a9g  
    pu_?) U  
     7}e5ac  
     Wiw~oXo  
     
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