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摘要 iWCR5c= zj~(CNE
| %E\?-TK 5Q_T=TL Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 2hZ>bg kjCXP 建模任务 -TIrbYS` 3O{*~D&n
sZ~q|}D- 具有高反射(HR)涂层的标准具 2t9JiH c
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BGk>:Z` /-Saz29f^Q 图层矩阵解算器 [V vTR#^ +y%"[6c|
NO(^P+s T6T3:DG_B R^_7B( 分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Eqx2.S 1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 r'!HWR 2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 WCa>~dF> 本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 {_#~&I |