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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 du&9mOrr  
    S{UEV7d:n0  
                               _aw49ag;  
    ]>,Lw=_[_  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 9C: V i  
    ]Mj N)%hT  
    建模任务     $;j{?dvm.  
    _s+_M+@et  
    RIq\IQ_|  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 z*`nfTw l  
    2 P9{?Y  
     A3Y}|7QA  
    @Wd1+Yky  
    图层矩阵解算器 >(a[b@[K  
    6IKi*}  
     g]U! ]  
    goc"+ K  
    +g% Ah  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 /}=cv>S5V  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 S{zl <>+  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 JjQ9AJ?-V  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 H'x_}y  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     ]9~6lx3/  
    [[KIuW~ot  
    更多的信息： LR y&/d  
    J pKCux  
    总结-组件 7 '{wl,u  
    xi=Qxgx0I  
    >RXDuCVi  
     8:jakOeT  
    &\<?7Qj3U|  
    两条光谱线的可视化 7?2<W-n  
    =p&uQ6.i+  
     HQV#8G#B  
    精细vs.涂层反射率 W" 1=K] B  
    s^GE>rf  
    c)zwyBz  
    pGsu#`t  
    精细度vs.涂层反射率 }Pj;9ivz  
    "^5%g%  
    ]gmkajCzD  
    内部谐振增强     C^ Oy.s  
    R9InUX"k  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 5Pd^Sew  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 z=K hbh  
    AmBLZ<f;  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 W4:#=.m  
    w'<"5F`  
    VirtualLab Fusion技术 -qJO6OM  
    {Zf 9} !qF  
    ihopQb+k^m  
    文件信息 %Q|Hvjk=E  
    [u7i)fn5?  
     &U y Q<O>  
     $J]o\~Z J  
     
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