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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-06
    摘要 2#:]%y;\  
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                               Z8dN0AqZ  
    oJ@PJvmR&a  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 'lRHdD}s  
    XsN#<"f;i  
    建模任务     8}#Lo9:,d  
    D_ZBx+/_?  
    h7]]F{r5  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 o>A%}YU  
    yoY)6cn@  
     }NBJ T4R  
    W>|b98NPu  
    图层矩阵解算器 iM/0Yp-v'>  
    Isgk  
     x[>_I1TJ  
    8(f0|@x^  
    K y4y  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 p;t!"I:`?  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 ?ZV0   
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 }~C ZqIP  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 qf=[*ZY  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     f>+}U;)EF  
    ^-;Z8M  
    更多的信息： H$z+gbjJ  
    3cFLU^  
    总结-组件 s]%!  
    Iy4M MU  
    x15tQb+  
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    #:zPpMAl  
    两条光谱线的可视化 DJ [#H  
    [k=9 +0p  
     eC`f8=V  
    精细vs.涂层反射率 <({eOh5 N  
    V dOd:w  
    h>%JG'DV  
    `LU,uz  
    精细度vs.涂层反射率 ; <@O^_+  
    aw"%B-N \  
    W!B4< 'Fjc  
    内部谐振增强     L"IHyUW  
    r8?Lr-;  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ~JPzjE  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 &&S4x  
    cH-Zj  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 P W<wjf,rQ  
    RWQW/Gw x  
    VirtualLab Fusion技术 sx^? Iw,N'  
    D"f(nVEr  
    5nq-b@?L  
    文件信息 uBkn y;  
    HbSx}bM_9  
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