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    [培训]光·学堂|基于 VirtualLab Fusion 的光学检测与精密成像(光学检测、精 密成像、显微镜系统) [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 04-30
    mC}!;`$8p  
    时间地点 &RP}w%I1  
    主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司(微信公众号:讯技光电 INFOTEK) Ft)Z'&L   
    苏州黉论教育咨询有限公司(微信公众号:honglun-seminary) pt!Q%rXm  
    授课时间:2026 年 5 月 21 日(四)-5 月 22 日(五)AM 9:00-PM 16:00 t9Nu4yl  
    课程时长:2 天 k-LT'>CWl  
    授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 %VCfcM}5I  
    课程讲师:讯技光电工程团队 0y3<Ho,+$  
    课程费用:4800RMB/1人次(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费) <XHS@|  
    课程简介: d$G<g78D  
    本课程聚焦于利用 VirtualLab Fusion 先进的光之数字模型平台,解决光学检测与精密成像 gAY%VFBP0  
    系统的核心设计挑战。课程将系统进解如何对干涉仪、光谱仪等光学检测系统进行高精度建 8zRb)B+  
    模与性能评估:深入探讨精密成像系统(如晶圆检测、高 NA 镜头)的像质优化;并专门涵盖显微 ]%y~cq  
    镜系统(包括荧光、共聚焦及超分辨显微技术)的完整物理光学仿真,以研究行射极限、三维成 yT>t[t60/S  
    像特性及荧光处理等关键问题。通过结合理论讲解与软件实战,学员将掌握从宏观检测到微 s\`Vr;R:|  
    观成像的一体化软件开发能力。 Uq,M\V \  
    课程大纲: _uO#0 )l  
    1. VirtualLab Fusion 光之数字模型平台 ; YaR|)B  
    ⚫ Qn7l-:`?  
    光之数字模型平台在精密系统检测方面的工作原理 x,Cc$C~YP  
    ⚫ Ohm>^N;  
    VirtualLab Fusion 用户界面的基础操作 I@=h|GM  
    ⚫ k"P2J}4eO  
    VirtualLab Fusion 中非序列追迹的通道配置 bw7!MAXd  
    2. 典型光学检测系统建模与性能验证 T$]2U>=<J  
    ⚫ ?CS jn  
    基础迈克尔逊干涉仪建模仿真 6Upg\(  
    ⚫ dv0TJ 0%  
    OCT 系统仿真-光学相干层析扫描干涉仪 /S;o2\  
    ⚫ NEO~|B*oDU  
    用于光学表面测量的菲索干涉仪 g[;iVX^1&  
    ⚫ k~Pm.@,3o  
    切尔尼-特纳光谱仪的仿真 J1<fE(X  
    ⚫ @2_s;!K  
    Mirau 干涉仪系统分析-显微干涉检测 h6x+.}}  
    3. 高端精密成像系统(半导体 / 工业检测方向) bE>3D#V<  
    ⚫ B>?Y("E  
    半导体晶圆微结构缺陷检测光学系统 U!a"r8u|8q  
    ⚫ v%< _Mh  
    晶圆两侧光栅图案的成像 >*}qGk  
    ⚫ ~~1~_0?e  
    激光共聚焦扫描显微镜成像分析 LbR/it'}  
    ⚫ 8"LaP3U  
    大数值孔径聚焦中的粒子散射与反射 +$>ut r  
    ⚫ nu0bJ:0aLd  
    晶圆多层膜厚非接触式光学测量仿真 F'CUkVC0~P  
    4. 先进显微镜系统的物理光学级仿真 ,P"R.A  
    ⚫ *gz{:}NX  
    显微镜系统的设计 xdo{4XY^*W  
    ⚫ 0acY@_  
    通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究 QrA8 KSLC  
    ⚫ h.=B!wKK  
    荧光显微镜的彩色效应分析 G0s:Dum  
    ⚫ Br~%S?4"o  
    高 NA 傅里叶显微镜单分子成像 gy =`cMS@  
    ⚫ u}%&LI`.  
    高 NA 显微镜系统分析偶极子源的 PSF r3j8[&B"  
    ⚫ j [U0,]  
    显微镜系统中来自光圈的衍射 8e\v5K9  
    5. 光学系统的公差分析 J#x91Jh  
    ⚫ 93WYZNpX  
    考虑加工公差下的倾斜光栅鲁棒性优化 {hg$?4IyQ  
    ⚫ oNU* q.Q  
    镜头粗糙度对 PSF 的影响 x b0+4w|  
    ⚫ PRz oLzr  
    衍射光学元件的加工圆角和高度公差分析 zBs7]z!eP  
    Mc}x]j`f  
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