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摘要 =#&K\ Ht5 %fcD 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 i^G/)bq k[6@\D- |Pz- #57nm]? 建模任务 V=VL@= 8js5/G+ !X(Lvt/
7fLLV2 Dp6]!;kx 准直系统 bESmKe( m( C7Fa C (vi ns T3[\;ib} 非序列追迹 ~cz]Rhq Nm--h$G
$^.LZ1Jd SDcxro|8i 总结—元件… (?J6vK}S p/:)Z_ VQZ3&]o N6c']!aM@
W8,XSUl 5~<>h~yJ 系统光线追迹结果 f_Y[I: nZfTK>)A0 +uM1#-+h
jC*(ZF1B 完美的减反射(AR)涂层 Cnd*%C PZ CM>/b3nOW >Gk<[0U #E2`KGCzW 有内部反射 X"(!\{ySI; i)1E[jc{p!
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