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摘要 Y[PC<-fyf f &NX~( 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 ipGxi[Vav IOxtuR 29G el `q^qe> ' 建模任务 g.62XZF@ 58HAl_8W KfVsnL_
hfbu+w): D{7^y>8_Y- 准直系统 {y5 L !9r%d8!z "R)n1,0 y?r`[{L(lA 非序列追迹 :'q$emtY SzeY?04zj:
Ug0c0z!b %o\+R0K 总结—元件… Mby4(M+&n -\%5aXr }zkFl{/u s"$K2k;J
*a|575e< z `w4'DB-R) 系统光线追迹结果 G"(aoy,
co ^A\(M%*F UB>BVBCt K7{B!kX4k 完美的减反射(AR)涂层 QAo/d4 g<^A(zM $f+I#uJ ^ @=4HtA 有内部反射 ^gyI-S(; RTg\c[=w
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