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摘要 ?YzOA${ ;*K@8GnU 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 zyyt` G j^J pG !iBe/yb n4Od4&r 建模任务 `wRQ-<Y SXfuPM B -XM(Cj
bkfwsYZx C'mYR3?m; 准直系统 ;fLYO6 i`-,=RJ 7'g'qUW+~ UV}\#86! 非序列追迹 [\(}dnj: d7 )&Z:
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