切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 229阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7032
    光币
    29305
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 04-15
    摘要 gp};D  
    gn8R[5:!V  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    $UMFNjL  
    ZXqSH${Tp  
    tvkb~  
    Y>|B;Kj0(  
    建模任务 1L%CJ+Q#0i  
    .*@;@06?  
    QwNly4  
    I WTwz!+  
    7`- Zuf  
    准直系统 ^=BTz9QM  
    Hu\B"fdS  
    4x {0iav  
    'DY`jVwa  
    序列追迹 b*;Si7-  
    [.O?Z=5a[V  
    IpINH3odT  
    F3N?Nk/  
    总结—元件 nF54tR[  
    oI0M%/aM  
    A_XY'z1  
    r54&XE]O  
    d?s<2RkPT  
    K,Ef9c/+K  
    系统光线追迹结果 4^p5&5F  
    b(*!$EB  
    \l'm[jy>  
    3B1XZm  
    完美的减反射(AR)涂层 n&{Dq}q  
    MuYk};f  
    sd,J3  
    Ee)T1~;W  
    有内部反射 wg7V-+@i  
    Qi ua  
    .R) D3NZp  
    S'|,oUWDb  
     
    分享到