切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 382阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7305
    光币
    30666
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 04-15
    摘要 ~m0=YAlk?  
    t6kLZ  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    :_2:Fh.}3~  
    gp~-n7'~O  
    N~or.i&a  
    w^n&S=E E~  
    建模任务 AW9%E/{  
    (^sb('"  
    B}* \ pdJ  
    dl |$pm@x  
    3-n&&<  
    准直系统 UfV { m  
    NS+uiy  
    4`cfFowK~  
    e8egxm  
    非序列追迹 i.[k"(  
    QJ>=a./  
    #)#'^MZX  
    IM[=]j.?  
    总结—元件… 6z/&j} (  
    ^YfAsBs&  
    &9.3-E47*  
    aO9\8\^  
    C:bA:O  
    [xDIK8d:I  
    系统光线追迹结果 S"87 <o  
    '-G,7!.,r%  
    i12G\Ye  
    ]^{5`  
    完美的减反射(AR)涂层 0TICv2l!  
    9c1q:>|  
    Bxj4rC[  
    L]BTX]  
    有内部反射 NA/Sv"7om  
    /^&$ma\  
    ^<v.=7cL0  
    "/UPq6  
     
    分享到