切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 119阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    6850
    光币
    28400
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 04-15
    摘要 ?YzOA${  
    ;*K@8GnU  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    z yyt`  
    Gj^JpG  
    !iBe/yb  
    n4Od4&r  
    建模任务 `wRQ-<Y  
    SXfuPM  
    B -XM(C j  
    bkfwsYZx  
    C'mYR3?m;  
    准直系统 ;fLYO6  
    i`-,=RJ  
    7'g'qUW+~  
    UV}\#86!  
    序列追迹 [\(}dnj:  
    d7 )&Z:  
    dc[w`  
    }}Gz3>?24=  
    总结—元件 OU&eswW  
    <BoDLvW>  
    ck-ab0n  
    Q@B--Omfh  
    q3a`Y)aVB  
    HAa2q=  
    系统光线追迹结果 _&!%yW@  
    [J4 Aig  
    /5 rWcX  
    "RPX_  
    完美的减反射(AR)涂层 gG;d+s1  
    Xq"@Z  
    d5?"GFy  
    3m1]Ia -9  
    有内部反射 #$trC)?~q  
    @@$%+XNY  
    @.T w*t  
    JN;92|x  
     
    分享到