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摘要 gp};D gn8R[5:!V 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 $UMFNjL
ZXqSH${Tp tvkb~ Y>|B;Kj0( 建模任务 1L%CJ+Q#0i .*@;@06? QwNly4
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WTwz!+ 7`-Zuf 准直系统 ^=BTz9QM Hu\B"fdS 4x{0iav 'DY`jVwa 非序列追迹 b*;Si7- [.O?Z=5a[V
IpINH3odT F3N?Nk/ 总结—元件… nF54tR[ oI0M%/aM A_XY'z 1 r54&XE]O
d?s<2RkPT K,Ef9c/+K 系统光线追迹结果 4^p5&5F b(*!$EB \l'm[jy> 3B1XZm 完美的减反射(AR)涂层 n&{Dq}q MuYk};f sd ,J3 Ee)T1~;W 有内部反射 wg7V-+@i Qiua
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