摘要 XS1>ti|< ( E0be. 光分束器设备在
光谱学、干涉测量和光
通信领域的许多应用中发挥着关键作用。一种常见的分光器是基于受抑全内反射（FTIR）的效果，由两个
玻璃棱镜组成，它们被一个非常薄的层分开。如果该层足够薄，部分
光线将通过边界，由倏逝波通道到另一侧，而其余的将被反射。
A!j &g(Z"Q 7%?A0%>6G 
,m:MI/ )p 4 ~Z\tP|Q. 系统设置 4W1"=VL[g 2} T" |56 
M<)HJ lr $I tehy 非序列追迹 C"Y M"9JSJ
PVU( R J
!J+5l& J[< :-$E 通道配置模式设置为“手动配置”时，用户可以为系统中的每个
曲面分别指定
仿真中遵循的光路。执行仿真时，可用的光路由所谓的光路查找器确定。然后，通过配置的设置沿着这些光路追迹场。
5X[=Q> ?p}m[9@ 非序列追迹的通道设置 P [gqv3V
.=K@M"5&
Dpof~o,f @=@WRPGM*9 受抑全内反射（FTIR） Ao=.=0os
3 UBG?%!$f
cl{;%4$9 )WBTqML[ 棱镜之间的间隙是由分层介质组件来仿真的。这样做的原因是，分层介质组件的S矩阵求解器考虑到了倏逝波，从而能够对FTIR等效应进行建模。更多关于分层介质组件的信息在下面：
q,+d\-+ y&S ueU= 分层的介质成分 A!hkofQ oU{m\r 
<S5Am% vo <G#JP t6 层矩阵求解器 4Kx;F
9!%~ M3x%D)* 分层介质组件使用层矩阵电磁场求解器。这个求解器在空间频率域（K域）工作。它由以下部分组成
:,:r 1. 每个均质层的特征模式求解器，以及
p5Y"W(5_ 2. 用于匹配所有界面的边界条件的S矩阵。
p+A#t~K 特征模式求解器计算各层均匀介质在k域的场解。k域中各层均质介质的场解。S-矩阵算法通过匹配边界来计算整个层系统的响应。整个层系统的响应，通过匹配边界条件 递归的方式计算整个层系统的响应。
S^~GI$ 这是一种以其无条件的数值稳定性而闻名的方法，因为与传统的转移矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。
hPH= .rX ]Jt K)9 
H{9di\xnEm J6|5*|*^ 更多相关信息：
/Wk\ 6 层矩阵[S-矩阵] 347p2sK> +MXI;k_ 系统概述 (光线结果概述：3D系统) Xg c@cwd >Ei_ ## 
q]< cn2 bf::bV?T 间隙厚度分析 rsA K0R+
n|3ENN
>8HcCG Qnph?t> 在一个基于FTIR的立方体分光镜中，反射率和透射率的比率在很大程度上取决于棱镜之间的间隙厚度。在这个例子中，这种影响是在0纳米和500纳米之间的厚度范围内进行研究的。
k6. }. 参考文献：Chang Chien et al. “Design Analysis of a Beam Splitter Based on the Frustrated Total Internal Reflection”, Prog. Electromagn. Res., Vol. 124, 71-83, 2012
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