摘要 rL5z]RY F H1Z 2 光分束器设备在
光谱学、干涉测量和光
通信领域的许多应用中发挥着关键作用。一种常见的分光器是基于受抑全内反射（FTIR）的效果，由两个
玻璃棱镜组成，它们被一个非常薄的层分开。如果该层足够薄，部分
光线将通过边界，由倏逝波通道到另一侧，而其余的将被反射。
6b!F 1 XerbUkZ 
b<]n%Q'n AL5Vu$V~n} 系统设置
RD tU43 |A8/F U2{ 
8 B**8yg. # M!!CX*k 非序列追迹 Dk5Zh+ ^
FCkf#
b ]a@ &)oOeRwi]. 通道配置模式设置为“手动配置”时，用户可以为系统中的每个
曲面分别指定
仿真中遵循的光路。执行仿真时，可用的光路由所谓的光路查找器确定。然后，通过配置的设置沿着这些光路追迹场。
BW, mw q 4R 5D88= C 非序列追迹的通道设置 1xc~` ~
&x > B
s#uJ
;G :eZh'-c? 受抑全内反射（FTIR） BI j=!!
yAN=2fZm
[p=* u,- 1EyL#;k 棱镜之间的间隙是由分层介质组件来仿真的。这样做的原因是，分层介质组件的S矩阵求解器考虑到了倏逝波，从而能够对FTIR等效应进行建模。更多关于分层介质组件的信息在下面：
D/=5tOy &gI ~LP 分层的介质成分 FE o269Ur \(">K 
?h!i0Rsm ?2Kt'1s# 层矩阵求解器 .6OgO{P: a
{ab*tM 分层介质组件使用层矩阵电磁场求解器。这个求解器在空间频率域（K域）工作。它由以下部分组成
+1~Z#^{& 1. 每个均质层的特征模式求解器，以及
4 QZ?}iz 2. 用于匹配所有界面的边界条件的S矩阵。
1jX3ey~ 特征模式求解器计算各层均匀介质在k域的场解。k域中各层均质介质的场解。S-矩阵算法通过匹配边界来计算整个层系统的响应。整个层系统的响应，通过匹配边界条件 递归的方式计算整个层系统的响应。
5Q=P4w!' 这是一种以其无条件的数值稳定性而闻名的方法，因为与传统的转移矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。
&
/4k7X}y ,TRT Rb; 
5E0eyW z]3 `*/B 更多相关信息：
Er k?}E 层矩阵[S-矩阵] #oJ5k8Wy Od?qz1 系统概述 (光线结果概述：3D系统) oDcKtB+2 W>b(O m_% 
^;c 16 n8hRaNHl2 间隙厚度分析 VtOZ%h[#
'q * Bdx
0q rqg] 4:9KR[y/ 在一个基于FTIR的立方体分光镜中，反射率和透射率的比率在很大程度上取决于棱镜之间的间隙厚度。在这个例子中，这种影响是在0纳米和500纳米之间的厚度范围内进行研究的。
>]%8Zx[ 参考文献：Chang Chien et al. “Design Analysis of a Beam Splitter Based on the Frustrated Total Internal Reflection”, Prog. Electromagn. Res., Vol. 124, 71-83, 2012
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