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摘要 tELnq#<6 WuXRL}!\,
Z4sjH1W !.N=Y;@lY 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 45JLx?rN_ 4tKf 任务说明 Li$k<AM ZWW}r~d{
r{;4(3E2 }('QIvq2 多重光源 (G'ddZAJV .v8=zi:7Y ]&BFV%kw ]c+'SJQ 螺旋相位板 ai2}vR ~kFRy {z
8\_,Y
ji "FD~XSRL 探测器插件 Ps-d#~4U; y[eNM6p
YZD]<ptR `buTP?]4. 参数运行 c3mlO[( SjU6+|l
l)bUHh5[ I<#kw)W! 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: OQyOv%g5C S)h1e%f,
f Usage of the Parameter Run Document ,^T2hY` r73Xh"SL 非时序建模 \hX^Cn=6 fTcRqov
Fv
B2y8&W 4QDzG~N4)| 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 M?97F!\U :oQaN[3>_ Channel Setting for Non-Sequential Tracing bZJiubBRI ]e9kf$' 总结 – 组件… 3e:y?hpeL b*7i&q'H
<9vkiEo 'ZZ/:MvQa
PVQ%y W3kilhZ 系统观感 8'62[e|=7[ ujBADDwOg)
xCD+qP^ +!wc(N[(2 N*;/~bt7P 发射&损耗激光 kM@,^`& 0&@6NW&Mu
z'*>Tk8h "tIx$?I 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 wz57.e!Me= VB%xV
mbK$Wp# 3D STED 轮廓 LgYzGlJp UgJHSl
EWi@1PAZK ah.Kb(d: 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 'tj4 ;+xf^ r}w 9?s^rB 受激发射损耗效应 A_+WY|#M MmB-SR[>P 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 t<=L&:<N V^D#i(5
'S\H% - '_%Jw:4k VirtualLab Fusion 技术 6>Fw,$ H+Wd#7l,
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