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摘要 *(T:,PY QvKh,rBFVG
v: OR 4J/}]Dr5 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 0i\M,TNf* Evg_q> 任务说明 8&qZ0GLaT ]Hefm?9*^
0?:} P gL*>[@RO 多重光源 ]\hSI){ %1xb,g KO ]rH\`0 _C*fs<# 螺旋相位板 /)}q Xx& I%j|D#qY:T
jN;@=COi qh|_W(`y 探测器插件 bU2Z[sn. ?R$F)g7<
Vr`R>S,- WrxP 参数运行 8"2=U6*C >_-s8t=|
W14
J],{L 8hOk{xs8 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 6;\I))"[ j<VFn~*_ Usage of the Parameter Run Document m.#
VYN`+A ao1(]64X" 非时序建模 F;4vPbH+ Z<1FSk,[
(2J: # LsqA**= 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 "d#Y}@*~o /YW>*?"N Channel Setting for Non-Sequential Tracing WM7oM~&{6 y&q*maa[ 总结 – 组件… \o}xF@sM5 qT{U(
;4R$g5-4X y~AVei&
,<n}W+3 A!s`[2 Z 系统观感 8Wrh]egu1 (6?9B lH~
.zA^)qgL BgurzS4- 8n#HFJ~ 发射&损耗激光 [YRz*5 [w>$QR
3m]4= 1->dMm}G[ 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 iEVb"w059 /[a~3^Gs^ %+@O#P 3D STED 轮廓 9TgIB N=4G=0 `ke
v~f HYa> nF54tR[ 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 [>+4^& ' KWyx 受激发射损耗效应 Od)Uv1 <6EeD5{* 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 6_J$UBT #ZJ _T`l
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j| v%)A VirtualLab Fusion 技术 \a 5U8shc w,.+IV$Kk
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