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摘要 ~6kJ~R4 b~j~
d5:tSO Q3,=~}ZNK 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 ]%Y\ZIS ".E5t@ }?m 任务说明 [^M|lf 2A>C+Y[7\
"7d.i(vw SF^x=[ir 多重光源 Y9tV% T/5"}P` C3)|<E q3)wr%!k5D 螺旋相位板 LEK/mCL Af9+HI
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"5}%"-# Oqmg;\pm 探测器插件 a.DX%C/5 f^?uY8<
um[!|g/ (]XbPW 参数运行 +zsZNJ(U xs%LRF#u
cOb4c* @!<d0_dnC 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: -\Z `z}D &K
*X)DAs Usage of the Parameter Run Document % $TEDr! 'gDe3@ci! 非时序建模 j o_
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ax_YKJ5#P *b"CPg/\ 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 7~b!4x|Z "OL~ul5 Channel Setting for Non-Sequential Tracing x2k*|=$ ^i'y6J 总结 – 组件… 8QF2^*RZ7z .oR3Q/|k]
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#*2Rp8n $"8d:N?I[ 系统观感 DMd ,8W7a =IHje;s
?4G(N=/& ,[`$JNc <'&F;5F3V 发射&损耗激光 //.>>-~1m #mLuU
ooE{V*Ie 3taa^e. 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 FP@qh QaQ'OrP
OVR?*"N_ 3D STED 轮廓 5/MED}9C( T'1gy}
l}}UFEA^ GaBTj_3 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 A-wRah.M tZA: 受激发射损耗效应 )~
z Z'^ V=}1[^ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 i:Y\`J zOGR+Gq_Z
>"("*3AO jGD%r~lN VirtualLab Fusion 技术 6OB" , fbC~WV#
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