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摘要 F<H`8*q9 Sj,4=a
la!1[VeL ~x76{.gT 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 7r:nMPX *8pe<:A#p 任务说明 4Ub?* a @yE:HU
?w c3+?\J l{B<"+8 多重光源 ;+aDjO2( ,.1&Ff)S :y<Cd[/ D0,oml 螺旋相位板 }V93~> +c~O0U1
kV]%Q3t ~7eUt^SD; 探测器插件 ^5^
zo~^o &</@0
#I*ht0++ PLY-,Q&' 参数运行 `tUeT[ 0t/z"
?U2g8D nFY iNaC ZC 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: SOi(5] q>Ar.5&M_ Usage of the Parameter Run Document $`+~QR!h 6A{s%v H 非时序建模 )H=[NB6J8 njx\$,ruN
El8.D3 ^ZViQ$a"h; 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 bvxxE/?Ni EJSgTtp2 Channel Setting for Non-Sequential Tracing ?X5glDZ$ E&Zx]?~ 总结 – 组件… c )P%O 5qAE9G!c
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vp}>#& "Qm~;x2kB 系统观感 N*4IxY'vX/ 9.w3VF_C
VL,?91qwe i?s&\3--Y uu46'aT 发射&损耗激光 sp]y! zb"5 l8
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5O& BtBt>r(* 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 [T?6~^m= 'rx,f
5O;oo@A:[ 3D STED 轮廓 4O,a`:d1$6 LYo7?rp
q8yJW-GA WOTu"Yj 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 $TW+LWb hI#M {cz 受激发射损耗效应 \kRJUX!s KKTfxNxJn 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 ]R.Vq\A%S )o(F*v
3ncvM>~g v7I*W/ VirtualLab Fusion 技术 JM4`k8mM p:n^c5
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