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Py?Q:: JU)k+ :\a 元件内部场分析器：FMM允许用户可视化和研究微
结构和
纳米结构内部的电磁场分布。为此，使用傅立叶模态法/严格耦合波分析（FMM/RCWA）计算周期性结构（透射或反射、电介质或金属）内部的场。还可以指定场的哪一部分应该可视化：正向模式、反向模式或两者同时显示。
o8 NRu7@? u1\r:q 元件内部场分析仪：FMM yD@eT:lyi < Pi#-r., 4=N(@mS 元件内部场分析器：FMM是
光栅光学装置的独有功能，可提供光栅结构内部电磁场的可视化。
yM,Y8^ jdx T662q 评估模式的选择 6 2K#rR S oArJ%Y> x0) WrDb 为了更容易地区分入射场、反射场和透射场，可以仅评估正向或反向传播模式，或者评估两者的总和。
> 2X-98, kv;P2:"| 评价区域的选择 [ugr<[6 <d >!% 
F07X9s44E }]JHY P\ 元件内部场分析器：FMM可以输出整个元件（包括基板）内部的场，或者只输出一个堆栈或基块（基板）中的场。
;WgUhA
;q ~R50-O 不同光栅结构的场分布 {<?8Y wN :"(mQ 任意形状的光栅结构可以通过元件内部场分析仪进行分析。以下是几个例子：
bR8`Y(=F9b ExeZj8U 1+YqdDqQ 光栅结构的采样 %.onO0}) DgY
!)cS 虽然分析仪为输出数据提供了一些采样选项，但
系统中定义的光栅表面必须正确采样（例如，分解点和过渡点的层数足够）。
V)vik 14 (sp 
fPPmUM^C9 $g/h=w@ 分解预览展示了如何根据当前采样因子对光栅结构进行采样。
sV \K[4HG vhcp[=e : 光栅结构的充分采样意味着已经实现了收敛，即进一步增加采样不会显著影响产生的场。例如，如果层分解过于粗糙，则可能会由于纵断面中的大台阶而产生其他影响。
.8T0 OQ4 F YK`.>L28 L0GQH;Y,h 输出数据的采样：一维周期光栅（Lamellar） 7R# }AQ E%W w)P ./L)BLC i 对于1D周期性（片状）光栅，分析仪使用对话框“采样”部分中指定的
参数生成2D横截面
图像。
+'nMy"j1 TPak,h(1 输出数据的采样：二维周期光栅 q alrG2
<Y2$'ETD 当分析的光栅设置为2D Periodic时，Field Inside Component Analyzer：FMM将通过结构生成一系列二元截面，z方向的采样参数决定执行的切割次数。
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