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摘要 D9r;Ys% ydzvjp= 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 itO1ROmu ~;wR}s<}(
Q6[h;lzGV =D 5!Xq'| 建模任务 .d4&s7n0 ;/^O7KM- z-S8s2.Fd 概述 f5nAD qMBEJ<o •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 /q`f3OV" •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 &#]||T- Nn5sD3z#
baf@"P9@\A {JcMJZ3 光线追迹仿真 <,nd]a E{}eYU •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 d[ce3':z •单击go! bgmOX&`G •获得了3D光线追迹结果。 n]wZ7z "&kXAwe
As#/ln$nE ?kc,}/4 光线追迹仿真 'KNUPi| qI\B;&hr( •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 xx%*85 < •单击go! bEzy KrN\ •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 T:udw :UsNiR=l
NVo=5 Uw>g^[V; 场追迹仿真 qI gb;=V 7:S)J~s*O •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 _5768G`P •单击go! &eX^ll l8!n!sC[, HBgt!D0MZ Pexg"328 场追迹仿真(相机探测器) *U4eL- S
5nri(m •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 /=:X,^"P •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 ("@ih]zYf qr7_3
q^kOyA. N7qSbiRf< 场追迹仿真(电磁场探测器) H52] Zm •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 +Tp>3Jh2 9xUAfU ?bK^IHh lA7\c# 场追迹仿真(电磁场探测器) r}])V[V Y-c_ 2 ) •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 t{ScK%S6 `Jon^&^;|
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