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摘要 +=*ZH`qX
n/?_] 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 {?82>q5F J::dY~@
^z_~e@U z7 }@8F 建模任务 h[Hw9$31 0h* AtZv_ 0HE@L_$;2 概述 E[
,Ur`>: hD"Tjd` P •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 M!,WU[mP •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 |[0|j/V%O 8[eH8m#~$
=OCHV+m jZ)1]Q2 光线追迹仿真 I~Ziq10 i-$]Tg •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 /Ue~W,| •单击go! mIt=r_ •获得了3D光线追迹结果。 }oU0J &R2 5J$
~ u jY+{ hl8[A-d(R 光线追迹仿真 (c_E*>c) P)4SrqW_ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 H_Vf_p? •单击go! ]wZG4A •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 -B'<*Y N|wI=To
yy@g=<okt\ yqZKn=1: 场追迹仿真 V|Smk;G dG\dGSZ\h •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 {eL XVNR7R •单击go! 46sV\In>? Q!WXFS ;>bcI). /g@!#Dt 场追迹仿真(相机探测器) J#"@~Q+a`@ *bsS%qD] •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 s'RE~, •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 KFx4"f% 4vC
{ G.
Qt`}$] &c%;Lo 场追迹仿真(电磁场探测器) R^4JM,v9x` •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 N$i!25F` [_q3 02 @p~f*b4H? M|xd9kA^ 场追迹仿真(电磁场探测器) RG4T9eZq `ZhDoLpH< •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 DAa??/,x7 yz.a Z
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