切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 《杂散光抑制与评估技术》 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) 光学设计与光学元件
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 现代光学设计及应用(Zemax) CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命(第2季)
    发帖 回复
    返回列表
    • 321阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    7032
    光币
    29305
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-11-19
    摘要 z`+j]NX]  
    4\EvJg@Z.  
     I~I$/j]e`  
    W/| C  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 vH9Gf  
      al:c2o  
    建模任务 f@= lK?Pfh  
    0_5j(   
     @](\cT64i3  
     <E&"]  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 SB`"%6  
    n`)wD~mk  
     s|=.L&"   
    Pxm~2PAm  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 1f`=U 0  
    jo8;S?+<|?  
     Z ]WA-Q6n  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表