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摘要 IuB0C!' (Cqhk:F 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 }$81FSKh S : 9zz
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- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
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− 非序列追迹的通道设置[用户案例] ^'6!)y# `NyvJt^<
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JX`+b 摘要 OAR#* ~q ()= 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 UR:cBr GC~Tf rf=r
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- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
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