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摘要 J }M_Ka
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干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 a"Q> K7K
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- 设置组件的位置和方向
- −LPD II：位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] f0Zn31c^
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干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如，表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹，构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 W{js9$oJ
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- −LPD II：位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] *~H\#N|x
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