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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-09-10
    摘要 [M Z'i/  
     nCGLuZn  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ,K3)f.ArYc  
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    1. 案例 \Ao M'+  
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      P]j{JL/g&  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 ^3*/x%A,g  
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    1. 系统构建模块 Y.[^3  
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    2. 组件连接器 0rsdDME[  
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    几何光学仿真 cqRIi~`  
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    以光线追迹 "'^#I_*Mf  
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    1. 结果：光线追迹 8e[kE>tS._  
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    快速物理光学仿真 K /g\x0  
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    以场追迹 `:}GE@]  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 `k a!`nfo  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 *&% kkbA  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 df&d+jY  
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