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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-09-10
    摘要 pb|,rLNZ  
     `R_;n#3F0  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 o;{BI Q1  
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    1. 案例 S,qEKWyLd  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 QWAtF@qTV  
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    1. 系统构建模块 ![aa@nOSa  
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    2. 组件连接器 cFloaCz  
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    几何光学仿真 2X@"#wIg  
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    以光线追迹 8QFg6#"O  
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    1. 结果：光线追迹 - ~`)V`@  
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    快速物理光学仿真 _+}#  
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    以场追迹 aJ$({ZN\#  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 A\)~y{9bQ  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 JO&L1<B{v  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 o&#!W(   
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