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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-09-10
    摘要 4_`ss+gk  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 aB`x5vg7ho  
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    1. 案例 FyXz(l:  
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      w3^>{2iqq  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 KcGM=z?:  
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    1. 系统构建模块 x)X=sX.  
    x5Sc+5?*  
     5"f')MKUV9  
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    2. 组件连接器 +^St"GWY  
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          ^9})@,(D  
    几何光学仿真 VQ{.Ls2`Z  
     DR."C+  
    以光线追迹 NqsIMCl  
     /4\!zPPj.  
    1. 结果：光线追迹 ?i.]|#{Z  
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          U]!D=+  
    快速物理光学仿真 C~4$A/&(  
     G22= 8V  
    以场追迹 wvAXt*R  
     K-$gTV  
    1. NA=1.4时的光栅成像 J%?'Q{  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 Pg3O )D9  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 & j@i>(7  
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