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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-09-10
    摘要 Yd>ej1<  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 BSc5@;  
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    1. 案例 nLjc.Z\Bl  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统  1(*Pa  
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    1. 系统构建模块 !^*-]p/z  
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    2. 组件连接器 7O^'?L<C'  
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    几何光学仿真 ~K-_]*[x  
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    以光线追迹 (;1Pgh  
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    1. 结果：光线追迹 8Ug`2xS<_  
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          Zyx92z9Y  
    快速物理光学仿真 c=Y8R/G<  
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    以场追迹 >~)IsQ*%  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 =3= $F%  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 2ij/!  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 FY(C<fDRo{  
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