摘要 %~$P.Zh M|l`2Hpe 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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T]#S=]G kg@Okz N% VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 R54wNm@
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T/b%,!N) i- v PJg1 VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 Km=dId7]
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*T+Bjj;w xlW`4\ Pa 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
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B 效率的统计分布 6~t;&)6J
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|lnMT)^D k/hD2tBLu 光栅公差 2Gw2k8g& Uzx,aYo X
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O@Ro_sPG( b `7vWyp 延伸阅读 V\!6K - 参数运行文档的使用方法
0G=bu5 - 光栅级次分析器