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摘要 QD^"cPC)mM J
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GI/4<J\ }J] P`v 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 ]*\<k :snn-e0l 任务说明 UpqDGd7M y0
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y5:al7*P n$jf($* 多重光源 33w(Pw MKr:a]-'f~ 5U.,iQ(d 1~9AQ[]w8 螺旋相位板 l(?Yx @-BgPDi.Z
"dBCS AK5$>Pkvk 探测器插件 9p9-tJfH. ATf{;S}
Q)ZkUmW x^JjoI2vf 参数运行 'W|@d8}h 21G:!t4/?n
!d=Q@oy5 K7$Vl"l 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: eO=!( .@;,'Xw1~ Usage of the Parameter Run Document -g)*v<Fb5 vh6#Bc)i%w 非时序建模 T#w *5Qf ?u8vK<2h
8v']>5S]# U-3uT&m*9. 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 sYY=MD
[8C6%n{W Channel Setting for Non-Sequential Tracing [EV}P&U S~4HFNe^& 总结 – 组件… #L,5;R{` -Fs^^={Q
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7c Gq.U yy-\$<j 系统观感 Rd.[8#7VE )SYZ*=ezl.
O@bDMg q7%eLJ ZW|VAn'> 发射&损耗激光 "Z6: d"S` >}ozEX6c2
c~UYs\ -/#tQ~{gs 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 tr\Vr;zd 3fJwj}wL c/57_fOK 3D STED 轮廓 zorTZ #5 E0*'AZi&
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HE4x 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 p
}bTI5 S
Yvifgp 受激发射损耗效应 *ad"3> :1wMGk 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 B1A5b=6G< HSOdqjR*
@kKmkVhu* @.X}S"yr VirtualLab Fusion 技术 PaFJw5f 1XO*yZF
?%h JZm; |8"~ou:. 文件信息 Y2Y2>^ 0ZV)Y<DJ
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l%A~3 进一步阅读 sy`:wp • Simulation of Multiple Light Source in VLF OI.2C F • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy <8At= U p\8cl/~ 市场图片 V|.aud=7z v|Tg %
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