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摘要 \g]rOYW N>L)2WKFT
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nmL|v 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 7dB_q}< jl;N
Fk% 任务说明 uUBUUr ;gaTSYVe
]EN&EA"< -H\j-k 多重光源 "7(@I^'t6 v8uUv%Hkd &2y9J2aA 'Q7t5v@FF 螺旋相位板 *mn9CVZ(}M ., thdqOO
rmX5-k g-x;a0MQx 探测器插件 +=L+35M #"C*dNAB
jtpk5 fJB |Cfo(]>G 参数运行 1G(wESe Q[`2?j?
dj,lbUL h52+f 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 1-4[w
*u> JqN$B\J, Usage of the Parameter Run Document LBpAR| g*9&3ov 非时序建模 @[/!e`]+ O9N%dir
Xn!=/<TIVz DAN"&& 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 @6U&7! da8
R.1o Channel Setting for Non-Sequential Tracing {qry2ZT5 h^K>(x 总结 – 组件… A}"uEk(R ?K.!^G
uxq#q1 K^I$05idi
G0r(xP? iIo>]\Pw 系统观感 6|Rj
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}u5J<*:bZ R, zp&L P}PMRAek 发射&损耗激光 H/G;hk 5'0kf7
A_6Dol=J@ @6b;sv1W 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 8,m: 4vH.B)S-
}4>#s$.2 3D STED 轮廓 Pb :6nH= G~4|]^`g
lo>:S1 MD+eLA7 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 Rk{2ZUeg /z(s1G. 受激发射损耗效应 3'`X_C|d53 <DdzDbgax 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 E~Y%x/oX h"N#/zQ
dnX^ ? gm&O-N"=U VirtualLab Fusion 技术 t`4o&vsj= ]"1\z>Hg
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SYK?5_804 RQ51xTOL4] 进一步阅读 -IS?8\Q< • Simulation of Multiple Light Source in VLF S>?B) • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy 7m9T' =0mGfTc 市场图片 Jc9^Hyqu& >z8y L+
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