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摘要 {-E{.7 t4<#k=
i$F)h<OU+ "TxXrt%>A 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。
AI)9E=D% eIEcj<f 任务说明 zMG4oRPP w?/,LV
\Js9U|lY #
I<G:) 多重光源 Zkz:h7GUG- HD`%Ma
Yhc \l[5U3{ :*8@MjZ4 螺旋相位板 `hfwZ*s "RG.vo7b
Te.hXCFD xA-G&oC]<T 探测器插件 d_yqmx?w O+e8}Tmm
0p#36 czqy 4dy)g)wM 参数运行 MKH7d/x %]
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bVVa5? HP *$s)p > 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: &zm5s*yNt
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o!~1 Usage of the Parameter Run Document g\^(>Ouc C
:e 'wmA 非时序建模 9~4Kbmr>q z1L.
2AlLcfAW xqG`
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l 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 \q,w)BE P EbB0GL Channel Setting for Non-Sequential Tracing qD9B[s8 B8P%4@T 总结 – 组件… zL_X?UmV wF&\@H
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j In 1.R$O
$4L=Dg S-L6KA{ 系统观感 $]hf2Yr( ZHB'^#b
2/bck)p= bLUn0)c }%:?s6Ler 发射&损耗激光 u}$U|Cw-;T > Euput\
tG{Vn +~/ G3e%~ 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 /wK7l-S V*/))n? Mc\lzq8\ 1 3D STED 轮廓 JlH|=nIaj6 X~R
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E O}(MXS &"CS1P| 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 PzF)Vg $4?%Z>' 受激发射损耗效应 ;1y\!f3#V~ q`{.2yV 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 )XNcy" $iB(N ZV
c1z5t]d Q/+a{m0f VirtualLab Fusion 技术 (+>n/I6 |UBJu `%
d,H% jrW7AT)\ 文件信息 %?cPqRHJ ~ bb<Vh2b>R
g)"6|Z?D" Psv-y 进一步阅读 ZuE0'9 • Simulation of Multiple Light Source in VLF :@p`E}1r{ • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy Vs"M Cqi b/G0EcRw+ 市场图片 (g;Ff`P
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