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摘要 )[t zAaP7
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w^AY= Fc iMT[sb 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 Yk;-]qi7 >yZe1CP 任务说明 9<e%('@[ tzTnFV
O c[F wjq;9%eXk 多重光源 Po)!vL"
Z<yLu'48)A $dxk;V ^"\3dfzKM 螺旋相位板 B4D#TlB ;+Dq3NE
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FW, +jEtu[ ; 探测器插件 A^2n i=b Q!91uNL
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5J vvTQ!Aa 参数运行 }&*wJ]j`L Kl Kk?6>
r_x|2 AoO @#j?Z7E| 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: u~C,x3yr 8opd0'SNaB Usage of the Parameter Run Document F3?PlH:Y D<QE?:# 非时序建模 '^{:HR#i 9hTzi+'S
? PI2X.6 m8T< x> 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 anzt;V.;Y R<L<kChg Channel Setting for Non-Sequential Tracing ;4'pucq5/ m]?C @ina 总结 – 组件… "c5bz ]aMeMhe-
QVR8b3T@ *U mWcFoF
(a9>gLI0 ng{"W| 系统观感 &)$}Nk s=H|^v
W^k|*Y| 9 WO|g[Y3 $<s;YhM:u) 发射&损耗激光 ]zATdfa {8pN]=SaJ~
1EemVZdY 1!=^mu8 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 a;h.I}*] K(3_1*e @OGHS}-\ 3D STED 轮廓 sqEOXO nJhaI
XCd[<\l XQPlhpcv 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 <}Hs@`jS wj2z?0}o 受激发射损耗效应 0a}a >3?p 23|; 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 };;k5z I% I /z`)
l3:2f-H EM7Z g 65 VirtualLab Fusion 技术 a{@gzB [:(hqi!
U}R( IwVdx^9 文件信息 mlO\wn-F b V&"jjEx
z(n Ba]^[F uZml.#@4 进一步阅读 80%L!x| • Simulation of Multiple Light Source in VLF P47x-; • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy <lgX=wx L gVI{eoJ 市场图片 \h@3dJ4 rHp2I6.0a
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