-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-08-05
- 在线时间1977小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 CWvlr nv v= 8VvT8
pK"&QPv I61%H9; 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 $_bZA;EMQ :<UtHf<=k 任务说明 ~me\ ucM.Ro=@
`EVg'?pl *;X-\6 多重光源 + !xu{2 ! kF2Qv.5! [' t8C 2_N/wR#=& 螺旋相位板 qp@m&GH hiIyaWU
mR,O0O}& sW'6}^Q 探测器插件 raF]
k0{ AZBC P
0V7 _n '$*[SauAG 参数运行 19&)Yd1 R9r)C{63S&
F-tFet
uAT/6@ 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 1=>2uYKR _G[6+g5| Usage of the Parameter Run Document 3 69Zu4|u 6Wb!J>93 非时序建模 vlAy!:CV `/c@nxh
]7l{g9?ZtV AbG &9=Ks 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 FSe5k5 T,Fm"U6[( Channel Setting for Non-Sequential Tracing 90(UgK&Y w-M7opkq 总结 – 组件… F#KF6)P #:Xa'D+
eZA6D\ {H'X)n$
f:&)" moe/cO5a9 系统观感 03C .Xh=! X= SG
JC/d:. 5Vm Eyb A^t"MYX@ 发射&损耗激光 @??u})^EL 8a?IC|~Pz
vLr&ay!w hj+p`e S 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 C!hXEtK 0xLkyt0 16L"^EYq 3D STED 轮廓 vWuyft* JLml#Pu4
KjC[q o16d`}/< 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 *XHj)DC; $@68= 受激发射损耗效应 TX&[;jsj BL7>dZOa 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 =#jTo|~u4o NWeV>;lh9
@PKAz&0 Zi
ma^IL VirtualLab Fusion 技术 80 dSQ"y { qjUI
=%xIjxYl nM=2"`@$ 文件信息 LMt0'Ml9 5VuCU
xNn>+J ybC-f'0 进一步阅读 r!CA2iK` • Simulation of Multiple Light Source in VLF AwtIWH*e • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy *13g<#$ t`h_+p%> 市场图片 ShsJ_/C2 YcPKM@xo
)8 oEs
|