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摘要 qR?}i,_ ;
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*f>\X[wN WDV=]D/OE 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 |r)QkxdU, pBv,,d` 任务说明 T9]0/> afD {w*[8
34k>O (pP.*`JRv 多重光源 K[/L!.Ag U@n5:d= K`<HZK ]SPuNBsy) 螺旋相位板 f/IQ2yT-:D +Ig%h[1a
N'aq4okoL .7 LQ l? 探测器插件 [UC_ W+U0Y,N6
pYr+n9)^ PE/uB,Wl 参数运行 d8+@K&z| J=: \b
bqA`oRb\ 2]5Li/ 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: +S-60EN*A =&9c5"V& Usage of the Parameter Run Document enQW;N1_M =_m3~=Z 非时序建模 4e AMb WvfM.D!
Qo^(r$BD mD&I6F[s 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 S^p^)
fAmF 8Lx1XbwK Channel Setting for Non-Sequential Tracing 3"v>y]$U S^==$TT 总结 – 组件… w{k ^O7~ y06**f)
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aBG^Xhx w%X@os}E 系统观感 OgC,oj,!/ X/vyb^:U
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@by{ kN{$-v=K |mHf7gCX 发射&损耗激光 w $-q& G `!A#As
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w/T-5 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 u7RlxA: X;UEq]kcmn ~"J1@< 3D STED 轮廓 'xG J;pY D|m3.si
GQhy4ji'z gt(p%~ 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 s2|.LmC3|B =7H\llL4BC 受激发射损耗效应 kV T |(Y dhnX\/ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 39
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"!AtS )`'a1y| VirtualLab Fusion 技术 G6W|l2P! $':5uU1}
4u%AZ<-C}m ")vtS}Ekt 文件信息 Bt,'g*Cs qpCaW0]7
a)=|{QR>W m;{HlDez 进一步阅读 :A @f[Y'9 • Simulation of Multiple Light Source in VLF N wNxO • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy #5{xWMp/0 *n&Sd~Mg 市场图片 zx2`0%Q Jj=N+,km
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