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摘要 8rJf2zL ?gAwMP(>
bly `mp8# fZap\ 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 $&,
KZ> E rA*a3 任务说明 |jH Yf42Q fi'zk
XpKeN2=p u9q#L.Ij 多重光源 w=nS*Qy2 AVz907h8 HYdt3GtJ? 6L~5qbQ 螺旋相位板 LkF*$ T|$tQgY^
NU.4_cixb u1'l4VgT 探测器插件 u&`rK7J jv29,46K
/55 3v;l< YuO!Y9iEm 参数运行 W>CG;x{ A]'XC"lS
6~!7?FK ^8ilUu 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: yJ; ;& T-s[na(/L Usage of the Parameter Run Document Qdc#v\B oO
&%&;[/A 非时序建模 !8
l&% nH?#_ 5F1
N#Nc{WU'B GVu-<R 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 h=au`o&CG C?g*c Channel Setting for Non-Sequential Tracing L?(1
[jB4G LmR OG-9 总结 – 组件… >Zm|R|{BE 8"wavh|g4
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YpSK|( nl-tJ.MU" 系统观感 pug;1UZ .'1]2/ad
uF*tlaV6 'A/{7*, m0Uk*~Gz 发射&损耗激光 lz#@_F|.* 51s 3hX$
LwI 4 2 h&Q-QU 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 b]Lp_t SzjylUYV gln
X C 3D STED 轮廓 C !Lu`y 59_VC('
j4D`Xq2X g3'yqIjQL 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 w4uY/!~k y[f6J3/ 受激发射损耗效应 2ZMVYa2%( Uv:NY1(3! 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 5[+E?4,& d6e]aO=g
Bp=BRl sGbk4g VirtualLab Fusion 技术 BMbZ34^e <;E>1*K}8
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-~=:tn)0 }/-TT0*6j< 进一步阅读 9D& 22hL4 • Simulation of Multiple Light Source in VLF c6F8z75U • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy v<S?"#
]F= ].*I Z 市场图片 BIEeHN4 @1peJJ{
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