摘要 + xp* ]a 8teJ*sz 光分束器设备在
光谱学、干涉测量和光
通信领域的许多应用中发挥着关键作用。一种常见的分光器是基于受抑全内反射（FTIR）的效果，由两个
玻璃棱镜组成，它们被一个非常薄的层分开。如果该层足够薄，部分
光线将通过边界，由倏逝波通道到另一侧，而其余的将被反射。
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W5Zqgsy($F #9:2s$O[x 系统设置 [7.agI@ = Ly>OLI0x_ 
|dk[cX> ")%r}:0 非序列追迹 7@l<?
(
k':s =IXW
NXI[q 'y !Lkm? ( _ 通道配置模式设置为“手动配置”时，用户可以为系统中的每个
曲面分别指定
仿真中遵循的光路。执行仿真时，可用的光路由所谓的光路查找器确定。然后，通过配置的设置沿着这些光路追迹场。
R=M!e<' [PWL<t::c 非序列追迹的通道设置 lhO2'#]i
3m=2x5 {L
7ZsA5%s= , [/$N!2'5 受抑全内反射（FTIR） ,{KCY[}|
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?WHy0x20 FN?3XNp. 棱镜之间的间隙是由分层介质组件来仿真的。这样做的原因是，分层介质组件的S矩阵求解器考虑到了倏逝波，从而能够对FTIR等效应进行建模。更多关于分层介质组件的信息在下面：
10O$'` ;#/0b{XFj 分层的介质成分 EB,4PEe: Q9sl fQ 
P^i .La, Uu'dv#4 Iw 层矩阵求解器 |=5/Rax ^ CT*,<l-D 分层介质组件使用层矩阵电磁场求解器。这个求解器在空间频率域（K域）工作。它由以下部分组成
hs(W ;tR@W 1. 每个均质层的特征模式求解器，以及
_u5 dC 2. 用于匹配所有界面的边界条件的S矩阵。
}l;Lxb2` 特征模式求解器计算各层均匀介质在k域的场解。k域中各层均质介质的场解。S-矩阵算法通过匹配边界来计算整个层系统的响应。整个层系统的响应，通过匹配边界条件 递归的方式计算整个层系统的响应。
F o}7hab 这是一种以其无条件的数值稳定性而闻名的方法，因为与传统的转移矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。
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K5k?H SlaDt 更多相关信息：
j@| `f((4 层矩阵[S-矩阵] X3B{8qx_> Fn+ ?u 系统概述 (光线结果概述：3D系统) /k6fLn2; "b,%8 
euQ.ArF RiR:69xwR* 间隙厚度分析 *e/K:k
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9 26Tl ]KuMz p! 在一个基于FTIR的立方体分光镜中，反射率和透射率的比率在很大程度上取决于棱镜之间的间隙厚度。在这个例子中，这种影响是在0纳米和500纳米之间的厚度范围内进行研究的。
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r 参考文献：Chang Chien et al. “Design Analysis of a Beam Splitter Based on the Frustrated Total Internal Reflection”, Prog. Electromagn. Res., Vol. 124, 71-83, 2012
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