摘要 TA:#K 4_'B oU4 光分束器设备在
光谱学、干涉测量和光
通信领域的许多应用中发挥着关键作用。一种常见的分光器是基于受抑全内反射（FTIR）的效果，由两个
玻璃棱镜组成，它们被一个非常薄的层分开。如果该层足够薄，部分
光线将通过边界，由倏逝波通道到另一侧，而其余的将被反射。
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D eT$4c*:[ T;PLUjp} 系统设置 mWn0"1C 1B~Z1w 
q68m*1 ?y * y wr_9 非序列追迹 %AWc`D
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QX=x^(M$m @*UV|$~(Q 通道配置模式设置为“手动配置”时，用户可以为系统中的每个
曲面分别指定
仿真中遵循的光路。执行仿真时，可用的光路由所谓的光路查找器确定。然后，通过配置的设置沿着这些光路追迹场。
S>j. i n)35-?R/M 非序列追迹的通道设置 gMPp'^g]_
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Y)(yw \&v H ="I=} 受抑全内反射（FTIR） I-Ut7W
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*uy<Om PQh s^D 棱镜之间的间隙是由分层介质组件来仿真的。这样做的原因是，分层介质组件的S矩阵求解器考虑到了倏逝波，从而能够对FTIR等效应进行建模。更多关于分层介质组件的信息在下面：
PqF&[M<) uq54+zC 分层的介质成分 pe3;pRh' ^7=7V0>,: 
N qz6_! H5:f&m 层矩阵求解器 asCcBp SZ R`uS 分层介质组件使用层矩阵电磁场求解器。这个求解器在空间频率域（K域）工作。它由以下部分组成
M,bs`amz 1. 每个均质层的特征模式求解器，以及
$P%cdJ T0 2. 用于匹配所有界面的边界条件的S矩阵。
E'SDT*EI 特征模式求解器计算各层均匀介质在k域的场解。k域中各层均质介质的场解。S-矩阵算法通过匹配边界来计算整个层系统的响应。整个层系统的响应，通过匹配边界条件 递归的方式计算整个层系统的响应。
{c*5 )x! 这是一种以其无条件的数值稳定性而闻名的方法，因为与传统的转移矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。
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a1_ o S R?(z 更多相关信息：
.|s,':hA 层矩阵[S-矩阵] [8[<4~{ @_#\q GY 系统概述 (光线结果概述：3D系统) x)eoz2E1 _ jg tZ 
n5IQKYr g %k )H7nj 间隙厚度分析 D& ~%w!
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M:iH7K OIjSH~a. 在一个基于FTIR的立方体分光镜中，反射率和透射率的比率在很大程度上取决于棱镜之间的间隙厚度。在这个例子中，这种影响是在0纳米和500纳米之间的厚度范围内进行研究的。
zZ<* 参考文献：Chang Chien et al. “Design Analysis of a Beam Splitter Based on the Frustrated Total Internal Reflection”, Prog. Electromagn. Res., Vol. 124, 71-83, 2012
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